嵌入式常见简易校验算法

1.校验和

C语言8位校验和：

uint8_t CheckSum(uint8_t *Buf, uint8_t Len)
{  
    uint8_t i = 0;  
    uint8_t sum = 0;  
    uint8_t checksum = 0;  
    
    for(i=0; i<Len; i++)  
    {    
        sum += *Buf++;  
    }
    
    checksum = sum & 0xff;  
    return checksum;
}

2.异或校验

uint8_t CheckXOR(uint8_t *Buf, uint8_t Len)
{  
    uint8_t i = 0;  
    uint8_t x = 0;  
    
    for(i=0; i<Len; i++)  
    {    
        x = x^(*(Buf+i));  
    }
    
    return x;
}

3.CRC校验

循环冗余校验：其特征是信息字段和校验字段的长度可以任意选定。
CRC有多种变体，比如：CRC-1、 CRC-5-USB、 CRC-8、 CRC-16、 CRC-32、 CRC-64等。其中，在嵌入式领域，CRC-16用的比较多。

常见CRC参数模型：

void CRC16(uint8_t *pData, uint8_t Len, uint8_t *CRC_H, uint8_t *CRC_L)
{  
    uint8_t  i;  
    uint8_t  index;  
    uint8_t  crc_h = 0xFF;  
    uint8_t  crc_l = 0xFF;  
    
    for(i=0; i<Len; i++)  
    {    
        index = crc_h^*(pData + i);    
        crc_h = crc_l^CRCTAB_H[index];    
        crc_l = CRCTAB_L[index];  
    }  
        
    *CRC_H = crc_h;  
    *CRC_L = crc_l;
 }