基线_XRD、XPS扣基线教程(基于Originlab)

本文介绍了如何使用Originlab软件处理XRD和XPS数据,通过Subtract Straight Line或Subtract Reference Data方法去除背景噪声,使得数据更清晰。提供了两种方法,包括手动绘制基线和利用Xpspeak fit进行拟合去除基底,详细阐述了操作步骤。
摘要由CSDN通过智能技术生成

Originlab去除数据背底处理。如何把XPS数据处理成下图一样,背底是平的。

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但是我们知道常常XRD原始数据成图后小角度会上翘,XPS数据有些元素区域的数据也是有高低差(特别是一些过渡金属元素),当然我们可以按原始数据直接处理。我们这里提供了一种用Originlab将这种背底消除的方法,可以让数据变得更加美观,整齐一些。

方法1

所用工具:Originlab

打开Originlab,导入一个XRD数据,如下图3所示(这里是一个碳材料的XRD图谱),可以看到小角度上翘非常厉害。

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点击Originlab菜单栏的“Analysis” – “Data Manipulation” – “Subtract Straight Line” (基于直线去除背底) 或者 “Subtract Reference Data”(基于数据去除背底),见下图。在本例子中,基于直线的效果不是太好,我们这里将会使用基于数据去除背底。

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