线性反馈移位寄存器在内建自测试中的应用-CSDN博客

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1. 引言：内建自测试 (BIST) 概述

随着超大规模集成电路 (VLSI) 的持续发展，其复杂性也显著增加。这种复杂性的提升带来了诸多测试挑战，例如不断增长的晶体管数量和集成密度导致芯片引脚数量的增加，以及对更高级、更有效的测试方法的需求 1。传统的外部测试方法在面对这些挑战时逐渐显现出其局限性，尤其是在成本效益和测试覆盖率方面。

内建自测试 (BIST) 技术应运而生，旨在应对这些日益严峻的测试挑战 1。BIST通过在芯片内部集成专门的测试电路，使得芯片能够对自身的功能进行测试，从而显著减少了对外部自动测试设备 (ATE) 的依赖 5。这种方法不仅有助于提高测试效率和可靠性，还能在产品生命周期内缩短问题检测和解决的时间 1。通过将部分或全部测试功能直接构建到集成电路中，BIST能够实现对内部逻辑和存储器等难以通过外部手段有效测试的模块进行更深入的检测。

BIST的基本架构通常包括三个关键组成部分：测试模式生成器 (TPG)，用于产生测试激励；响应分析器 (RA)，用于压缩和分析被测电路的输出响应；以及测试控制器，用于协调和管理整个测试过程 3。这些模块协同工作，使得芯片能够在没有外部干预的情况下完成自我检测，从而为现代VLSI设计提供了一种强大而灵活的测试解决方案。不同的BIST架构可以根据具体的测试需求和被测电路的特性进行定制，以达到最优的测试效果和最小的硬件开销。

2. 线性反馈移位寄存器 (LFSR) 的基本原理

线性反馈移位寄存器 (LFSR) 是一种在数字电子和密码学领域中广泛应用的基本组件，它提供了一种高效生成伪随机序列的方法 17。LFSR本质上是一个时序移位寄存器，其反馈回路通过先前状态的线性函数来定义 17。它由一系列线性连接的触发器组成，每个触发器存储一个二进制位 17。反馈回路通常使用异或 (XOR) 门实现，该门将寄存器的特定位组合起来，生成新的输入位 17。这个过程产生一个伪随机的二进制序列，该序列在一定的周期后会重复 17。LFSR的简单性和效率使其成为需要随机数生成应用的理想选择，例如密码算法、错误检测与纠正以及数字信号处理 17。

LFSR的核心组成部分包括：

移位寄存器：这是LFSR的核心，由若干个触发器（通常是D型触发器）级联而成 17。每个触发器的输出连接到下一个触发器的输入。寄存器中触发器的数量决定了LFSR的长度（n），也决定了其能够产生的最大序列长度。在每个时钟信号的驱动下，寄存器中的数据会向右或向左移动一位 19。
异或 (XOR) 门：反馈逻辑通常通过异或门实现 17。异或门接收来自寄存器中特定位置（称为反馈抽头）的输出作为输入，并产生一个输出，该输出作为下一个时钟周期移位寄存器的第一个触发器的输入。异或操作的线性特性是LFSR名称中“线性”的由来。
反馈抽头：这些是移位寄存器中被选定的特定位 18。它们的输出被连接到异或门的输入，用于计算反馈位。反馈抽头的选择对于LFSR生成的序列至关重要，不同的抽头组合会产生不同的序列。选择不当的抽头可能导致LFSR进入一个短循环，无法生成最大长度的序列 18。

LFSR主要有两种配置方式：Fibonacci LFSR和Galois LFSR 19。在Fibonacci LFSR中，反馈位是通过对选定的寄存器位（抽头）进行异或运算生成的，然后将结果反馈到第一个触发器的输入 19。而在Galois LFSR中，移出的位与寄存器中的特定位进行异或运算 20。Galois配置通常具有更短的关键时序路径，因为其异或门与移位寄存器交错排列 25。这种并行结构减少了反馈路径中的传播延迟，从而允许更高的时钟频率。

一个n位LFSR如果能够遍历除全零状态外的所有(2^n - 1)个可能状态，则生成最大长度序列 (MLS) 18。最大长度序列具有良好的伪随机特性，这对于测试应用至关重要 20。LFSR的初始值称为种子 (Seed) 20。由于LFSR的操作是完全确定性的，因此由其产生的序列完全由其当前的或先前的状态决定 20。对于使用异或反馈的LFSR，种子不能为全零，否则LFSR会陷入全零状态，无法产生任何变化 20。

LFSR的行为可以通过其特征多项式来数学地描述 19。对于一个n位LFSR，其特征多项式是一个n次多项式，多项式的系数（0或1）对应于反馈抽头的位置 20。一个LFSR是最大长度序列生成器的充要条件是其特征多项式为本原多项式 20。特征多项式以数学方式精确地定义了LFSR的反馈连接 20。

以下表格列出了一些常见LFSR长度的本原多项式示例 20：

LFSR长度 (Bits (n))	抽头 (Taps) (二进制)	抽头 (Taps) (十六进制)	周期 ((2^n - 1))
2	11	0x3	3
3	110	0x6	7
4	1100	0xC	15
5	10100	0x14	31
6	110000	0x30	63
7	1100000	0x60	127
8	10111000	0xB8	255
9	100010000	0x110	511
10	1001000000	0x240	1,023
11	10100000000	0x500	2,047
12	111000001000	0xE08	4,095
13	1110010000000	0x1C80	8,191
14	11100000000010	0x3802	16,383
15	110000000000000	0x6000	32,767
16	1101000000001000	0xD008	65,535

3. LFSR如何生成伪随机向量

LFSR通过连续的移位和反馈操作来产生伪随机二进制序列 (PRBS) 17。在每个时钟周期，寄存器中的所有位都向右（或向左）移动一位 19。反馈函数会根据反馈抽头当前状态的值计算出一个新的输入位 19。通常，这个反馈函数是对选定的抽头位进行异或运算。计算出的新输入位随后被加载到移位寄存器的第一个触发器中 19。同时，移出寄存器最后一位的值就成为输出序列的一部分 19。尽管由LFSR生成的序列是完全确定性的，但在一个完整的周期内，它所表现出的统计特性与真正的随机序列非常相似 20。

以下通过逐步说明展示LFSR中的状态转换过程 19：

移位：在每个时钟上升沿（或下降沿），移位寄存器中的所有位都向预定方向移动一位。例如，在一个n位寄存器中，第i位的当前值会移动到第i+1位，而最后一位的值会被移出。
反馈计算：反馈函数（通常是异或运算）会根据预先选定的反馈抽头位置上的位的值来计算一个新的位。这个计算是线性的，即结果仅取决于输入位的异或和。
反馈注入：计算出的新位被作为输入加载到移位寄存器的第一个触发器中，填补了移位操作后空出的位置。
输出：在每次移位操作中，从寄存器末端移出的位就构成了LFSR的输出序列。这个序列就是伪随机二进制序列。

为了更具体地理解LFSR如何生成伪随机向量，可以考虑以下示例：

3位LFSR示例：假设使用特征多项式(x^3 + x + 1)，这表示反馈抽头位于第3位和第1位（位置从1开始计数）。如果初始状态为111，则状态转换如下 48：

周期	当前状态 (从左到右)	反馈位 (第3位 XOR 第1位)	下一个状态 (从左到右)	输出位 (最右边的位)
1	111	1 XOR 1 = 0	011	1
2	011	0 XOR 1 = 1	101	1
3	101	1 XOR 1 = 0	010	1
4	010	0 XOR 0 = 0	001	0
5	001	0 XOR 1 = 1	100	0
6	100	1 XOR 0 = 1	110	0
7	110	1 XOR 0 = 1	111	0

生成的序列（从最右边的位输出）为1110010，然后重复。这个3位LFSR生成了一个长度为(2^3 - 1 = 7)的最大长度序列。

4位LFSR示例：假设使用特征多项式(x^4 + x + 1)，这表示反馈抽头位于第4位和第1位。如果初始状态为1000，则状态转换如下 38：

周期	当前状态 (从左到右)	反馈位 (第4位 XOR 第1位)	下一个状态 (从左到右)	输出位 (最右边的位)
1	1000	1 XOR 0 = 1	1100	0
2	1100	1 XOR 1 = 0	0110	0
3	0110	0 XOR 0 = 0	0011	0
4	0011	0 XOR 1 = 1	1001	1
5	1001	1 XOR 1 = 0	0100	1
6	0100	0 XOR 0 = 0	0010	0
7	0010	0 XOR 0 = 0	0001	0
8	0001	0 XOR 1 = 1	1000	1

生成的序列（从最右边的位输出）开始为00011001...，这个4位LFSR会生成一个长度为(2^4 - 1 = 15)的最大长度序列。

由LFSR生成的序列具有一些关键特性。首先，序列是周期性的，这意味着在经过一定数量的状态后，序列会开始重复 17。对于一个n位的最大长度LFSR，其周期为(2^n - 1)。其次，尽管序列的生成是确定性的，但最大长度序列在统计上表现出良好的随机性 20。例如，在一个完整的周期内，0和1的出现次数几乎相等，并且具有不同长度的连续0和1的游程分布也符合一定的统计规律 20。这种平衡使得LFSR在需要可重复性的同时又需要类似随机行为的应用中非常有用，例如在集成电路的测试中。

4. LFSR在BIST中的应用

在内建自测试 (BIST) 架构中，线性反馈移位寄存器 (LFSR) 经常被用作伪随机模式生成器 (PRPG) 11。作为PRPG，LFSR的主要作用是为被测电路 (CUT) 提供测试输入 11。通过选择合适的反馈抽头，一个n位的LFSR可以生成一个长度为(2^n - 1)的伪随机序列，这个序列可以作为一组全面的测试模式，用于检测CUT中的各种故障 39。由于LFSR能够以最少的硬件开销生成长且看似随机的测试序列，因此它成为BIST设计中的一个核心组件。

LFSR可以集成到不同的BIST架构中，例如逻辑BIST (LBIST) 3。在LBIST中，LFSR的输出通常被馈送到芯片内部的扫描链中，作为测试向量应用于CUT的输入 11。CUT的输出响应随后被送入一个响应分析器，该分析器通常是一个多输入签名寄存器 (MISR)，但也可能由另一个LFSR构成 3。MISR的作用是将CUT的输出响应压缩成一个称为“签名”的较短的位序列。通过比较实际测试得到的签名与预期的无故障签名，可以判断CUT是否存在故障。

LFSR的特征多项式对BIST的有效性有着重要的影响 32。选择一个本原特征多项式对于确保LFSR能够生成最大长度的序列至关重要，这直接关系到BIST能够达到的故障覆盖率 32。特征多项式的选择还会影响生成序列的随机性特性 41。一个具有良好随机特性的最大长度序列能够更有效地激励CUT中的各种潜在故障。

一个典型的利用LFSR生成测试模式的BIST架构包括一个LFSR作为PRPG，其生成的伪随机模式被应用于CUT的输入。CUT的输出响应被馈送到一个MISR（它本身也可以是一个LFSR），MISR将这些响应压缩成一个唯一的签名。然后，将这个签名与一个已知的、在无故障情况下CUT应该产生的“黄金签名”进行比较，以确定CUT是否工作正常 11。为了进一步提高故障覆盖率，有时会在LFSR的输出和CUT的输入之间使用相位移位器。相位移位器是一个由异或门组成的网络，用于对LFSR的输出模式进行去相关处理，从而产生更多样化的测试向量 11。

5. 在BIST中使用LFSR的优势

在BIST中使用线性反馈移位寄存器 (LFSR) 具有多项显著的优势。首先，LFSR在以最少的硬件生成长伪随机序列方面非常高效 17。实现一个LFSR只需要少量的触发器和异或门，这与需要在芯片上存储大量预先计算好的测试模式相比，硬件开销要小得多 17。即使是一个相对较小的LFSR，例如一个n位的LFSR，如果其特征多项式是本原的，也可以生成长度为(2^n - 1)的非常长的序列，从而为被测电路提供全面的测试覆盖 17。

其次，通过适当的LFSR设计，可以实现良好的故障覆盖率 2。通过仔细选择特征多项式和初始种子，LFSR可以生成能够有效检测各种类型故障的测试模式 11。与其他的伪随机模式生成方法相比，LFSR在故障覆盖率和所需的硬件成本之间取得了良好的平衡 11。

最后，LFSR在VLSI电路中非常容易实现 18。LFSR的结构相对简单，可以很容易地使用标准的VLSI设计工具和流程来实现 18。此外，关于LFSR的设计和分析存在大量的文献和成熟的工具支持，这进一步简化了工程师在VLSI电路中集成BIST功能的过程 20。

6. 结论

线性反馈移位寄存器 (LFSR) 在内建自测试 (BIST) 中发挥着至关重要的作用 11。作为一种高效的伪随机模式生成器，LFSR被广泛应用于测试VLSI电路中的逻辑和存储器。凭借其硬件效率高、故障覆盖率良好且易于实现的特点，LFSR已成为现代VLSI测试中不可或缺的关键组成部分，是实现有效BIST策略的基础 2。随着VLSI技术的不断进步，LFSR在未来的集成电路测试领域中仍将扮演着核心角色。