DFT
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How to Delay the capture clock pulse in capture cycle
在扫描测试期间,由于SE是一个全局大扇出异步信号,在一个测试周期内SE可能没有足够的时间传递到所有的scan cell,shift和capture的频率可能造成SE还未完成状态转变就来有效采样沿;原创 2024-03-25 14:41:49 · 466 阅读 · 0 评论 -
Tessent Scan&ATPG appendix2 deal with Pre-Existing chain
对于复用别的设计模块,或者使用第三方工具进行串链之后,设计中已经存在了扫描电路;如何做处理;原创 2023-08-02 16:52:29 · 524 阅读 · 0 评论 -
Tessent Scan&ATPG appendix3 about dft signals
请求附加的静态,动态的DFT信号;也存在一些已经定义好的DFT信号可以用来控制电路;原创 2023-08-03 17:30:31 · 1189 阅读 · 0 评论 -
Tessent Mbist(5) 并行static Retention(静态保持)测试
PSRT和parallel retention test不同原创 2023-02-13 15:59:15 · 2153 阅读 · 1 评论 -
MBIST BAP(Bist Access Port)直接访问接口(1)
MBIST BAP(BIST Access Port)是在系统内部调用自测试的接口原创 2022-11-19 16:57:31 · 2796 阅读 · 0 评论 -
AU类型的fault占比过高,覆盖率低,Debug步骤
AU类型fault占比过高,debug方法原创 2022-11-10 18:57:39 · 3370 阅读 · 1 评论 -
Tessent Mbist(2)Pattern Spec设置及Pattern产生
Tessent MBist test pattern的生成与仿真原创 2022-10-24 11:12:32 · 4160 阅读 · 1 评论 -
Tessent Mbist(1)Memory分组及DFTSpec编辑
DFTspec中 memoryInterface/data_bits_per_bypass_signal 属性用来指定组合到一个XOR tree中的数据输入信息的数量,此设置在为RAM创建bypass logic时十分有用,工具提供了一个灵活的区间,1对1到多对1;一些信息将你在报告DFTspec的时候才能看到,像 Memory的分组仅影响DFT的解决方案,但只能在创建之后才能看出结果,修改这些信息需要对DFTspec进大量的编辑,更简单的方法是直接改变输入的数据并重新创建DFTspec;原创 2022-10-22 14:46:25 · 5184 阅读 · 10 评论 -
Tessent scan&ATPG(9) simulation mismatch(debug向量仿真问题)
pattern simulation mismatch发生的原因 及debug方法原创 2022-09-06 10:51:25 · 5001 阅读 · 7 评论 -
DFT specification file & string
DFTSpecification的配置主要就是系的设计里面需要做什么,怎么做;然后tessent会根据文件或者string之中的信息 创建一系列的instruments 并将他们插入到设计中;上面的文件是加载tessent DFTspecification文件读入的;需要通过create_dft_specification;才能将配置信息存入变量中,方便之后进行修改和配置;...原创 2022-08-31 09:19:26 · 3592 阅读 · 4 评论 -
Tessent scan & ATPG(8) Debug low test coverage(低测试覆盖率的原因及debug方法)
如何利用工具debug测试覆盖率低的原因原创 2022-08-29 09:52:40 · 6459 阅读 · 6 评论 -
Tessent scan & ATPG(7) 设计规则检查 (DRC)
写在前面, DFT compiler 和Tessent 都有自己独立的DRC的检查, 可能在命名上有所重复,注意区别.Flat model的创建(不是fault model哦)这里的flat的意思 是 将设计中模块的接线打破,电路全部看成最基本的门电路组成;ATPG工具会使用verilog模型区创建自己的工具内部的设计模型;设计中的cell会转换成ATPG library中的标准单元;#使用analyze_control_signalscreate_flat_modelcheck_desi.原创 2022-05-01 20:31:56 · 9097 阅读 · 2 评论 -
Tessent scan&ATPG(6)测试向量配置 ,at-speed pattern的生成以及OCC的插入
Test pattern management 测试向量管理生成最佳的pattern#使用create_patterns#时会默认将所有的fault 类型加入到consider中;执行大量的设计分析和DRC;#创建所有必要的pattern 类型#监控pattern的生成(包括实时的coverage pattern count 以及执行时间等) 如果必要会修改参数#如果必要 自动运行top_up的方式##使用report_patterns#报告当前生成pattern的信息; 你可以展示所原创 2021-12-28 11:40:46 · 10240 阅读 · 8 评论 -
Tessent scan&ATPG (5) Additional test pattern types
Additional test pattern types附加的pattern的类型ATPG test pattern 的类型使用tessent shell 生成的pattern 大致分以下几种类型:1. basic Scan 对于 full-scan 的电路 生成的是basic scan的pattern2. clock Sequential 用于那些时序深度有限 存在no-scan latches /no-scan cell 的电路 在时序上: shift之后(或者说load之后)会有若干个cyc原创 2021-12-20 22:10:05 · 5210 阅读 · 7 评论 -
Tessent scan &ATPG (4) 额外的fault model‘
可测试性的几个指标test coverage检测到的fault 占所有可测fault 的百分比(DT +(PD * posedet_credit))/TEfault coverage检测到的fault 占所有test pattern设置测试的fault 的比重同等对待 untestable fault和 undetected fault(DT +(PD * posedet_credit))/FUATPG Effectiveness ATPG 的效率的衡量反应的是 ATPG tools 对于原创 2021-12-18 11:18:54 · 5098 阅读 · 0 评论 -
Tessent scan &ATPG (3) Fault 的分类
Fualt 的分类在使用 report_statistrics报告scan chain 的总结性的报告时,会出现每种fault的数量 以及对覆盖率的影响,TE(testable)Detect by implication (DI)隐含检测在scan chain 数据路径上的 faults被标记为 隐含可检测通过推算电路就知道这些点可以被测到,这些fault location是测试电路的一部分.扫描链的测试pattern (使用write_pattern 创建的)就可以检测到这些fualt;c原创 2021-12-14 22:21:24 · 6784 阅读 · 0 评论 -
MCMM 脚本编写
MCMM脚本MMmulti-mode 的脚本以最简单的两个mode为例, 一个func 一个test,肯定会分出来的两个mode;MM的脚本主要写什么:## 通过设置signal值,开启或者关闭mode# Enable DFT logic and OCC Controller:set_case_analysis 1 test_modeset_case_analysis 0 occ_bypassset_case_analysis 0 occ_reset# test mode 的时钟和原创 2021-12-04 19:04:07 · 2207 阅读 · 0 评论 -
Tessent scan & ATPG(2) ATPG basic flow
ATPG 的基本步骤DFT lib一般vendor会提供也可使用 tessent 的libcomp工具 将simulation lib转化为 DFT lib什么是 simulation lib ? 是仿真专用的库吗? 那仿真和综合 布局布线为什么要分开来?black boxes存在一些block 不需要做scan chain的 就可以定义为black box;#exampleadd_black_boxed -module core#改变black box 的输出行为add_black原创 2021-11-23 22:07:21 · 8765 阅读 · 4 评论 -
Tessent scan & ATPG (1)scan chain基本原理
从制造缺陷开始,介绍scan chain的基本原理原创 2021-11-19 11:38:52 · 17750 阅读 · 6 评论 -
DFT1 - 概论
DFT是干什么的?物理瑕疵 Defectsilicon上的physical problems;1. contamination -causing open 污染造成开路;2. extra metal-causing shorts 额外的金属造成的短路3. 离子注入的时候 离子浓度不够 insufficient doping4. 金属层的 桥接的问题;5. CMOS stuck-on6. COMS stuck-open7. 制程上的一些问题导致MOS管的transition time很大;原创 2021-09-22 11:20:49 · 4334 阅读 · 0 评论