算法在ros中应用_原力科普之 人工智能算法在超导测量中的应用

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编者:高考已经结束,广大考生即将面临选报志愿阶段。毫无疑问人工智能、深度学习是现在非常火热的学科,会是报考的热点。但究竟什么是人工智能算法?什么是深度学习算法?我们今天将利用超导材料检测案例为大家讲解一个人工智能的基础算法——“卷积与反卷积”算法。该算法在图像识别领域大量应用,其核心思路是利用傅里叶变化将时域中的卷积与反卷积变化为频域中的乘法与除法,对时域中的看似杂乱无章的数据在频域中降维处理。

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这篇文章中会讲解利用磁信号为超导带材拍照,利用反卷积算法深入分析缺陷的过程。众所周知YBCO材料陶瓷特性的本征特性、复杂的制造工艺与极限应用条件,很容易产生缺陷。如下图所示:

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图1 不同弯曲半径条件下,超导带材的损伤情况扫描图(参考文献【7】)

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图2 在大电流冲击条件下,超导带材的损伤情况扫描图(参考文献【8】)

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图3 超导带材层间剥离条件下的损伤情况扫描图(参考文献【9】)

如何检测这种缺陷,又如何分析它们?请看以下视频:

原力超导MCorder 2D扫描磁探针显微镜,以50微米空间分辨率扫描样品表面磁场,并通过测量的磁场信号,利用毕奥萨伐尔反卷积算法精确高速反算超导样品局部电流密度分布。本机型日前已完成向澳大利亚联邦科学与工业研究院(CSIRO)的交付,标志着该领域高端国产检测设备已获得国际认可。 这里涉及一个重要概念磁场逆运算,何谓逆运算?大家知道电流产生磁场,知道电流分布,利用毕奥萨伐尔定律就可以精确的求解全空间磁场分布,反过来说,知道磁场分布就一定知道其源电流的分布吗?回答是肯定的,只要能准确得到磁场分布,利用J=\nabla\times H就可以反推电流分布,但大部分情况,电流是被约束在有限空间很容易知道,例如导线或者导线缠绕的线圈。而磁场是全空间分布, 受限测试技术很难得到B的全部信息,且经常会出现奇异点夹杂了大量噪音,这种情况下,如何反算电流?这类逆运算需求体现在各类基于磁信号的无损检测领域,比如心磁,脑磁检测,可以利用精密磁探头获取人体表面磁场信息,但最终必须匹配某种算法得到心电,脑电在人体空间的走向才可以对照人体行为。 870e44bf5a012a7f7fe12ef83f931b70.png    图4 脑磁示意图 磁场逆运算有很多方法,今天我们邀请了上海交通大学的李小汾副教授,介绍其中的一种:“卷积与反卷积”算法。

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    李小汾博士,本科与硕士毕业于清华大学,2011年从丹麦Risoe国家实验室取得博士学位,2012年至2016年在美国休斯敦大学进行博士后研究,自2016年起任助理教授。2018年1月回国,现任上海交通大学信息技术与电气工程研究院副教授。研究领域包括超导涂层导体的测量和电磁特性、涂层导体的激光多芯化和交流损耗研究。 

参考文献:

[1]V.V. Yurchenko et al., “Magneto-opticalimaging of magnetic flux patterns in superconducting films with antidots”, PhysicaC 437–438 (2006) 357–360

[2]T. Qureishy et al., “Energyof dendritic avalanches in thin-film superconductors”, AIP Advances 8, 085128(2018)

[3] K. Higashikawa et al.,“Noncontact characterization of in-plane distribution of critical currentdensity in multifilamentary coated conductor,” IEEE Trans. Appl. Supercond.,vol. 22, no. 3, 2012, Art. ID. 9500704.

[4]X.-F. Li et al. “ScanningHall Probe Microscopy on Laser Striated Multifilament Coated Conductor” IEEE Trans.Appl. Supercond., vol. 25, no. 3, 2015, Art. ID. 9000404.

[5]J. Claassen, M. Reeves,R. Soulen, “A contactless method for measurement of the critical currentdensity and critical temperature of superconducting films”, Review of scientificinstruments 62, 996 (1991)

[6] B. J. Roth, N. G. Sepulveda,and J. P. Wikswo, Jr., “Using a magnetometer to image a two dimensional currentdistribution,” J. Appl. Phys., vol. 65, no. 1, pp. 361–372, Jan. 1989.

[7] L. Lai, C. Gu, Y. Yue, S. Chen, M. Song, N. N. Hu, T. Qu,and S. Zou, "Characterization ofIc  Degradation in Bent YBCOTapes," IEEETrans. Appl. Supercond., vol. 29, Art. ID. 9001505, 2019.

[8] F. Feng, Q. Fu, T. Qu, H. Mu, C. Gu, Y. Yue, L. Wang,Z. Yang, Z. Han, and P. Feng, "Critical current survival in the YBCOsuperconducting layer of a delaminated coated conductor," Supercond. Sci. Tech., vol. 31, Art. ID.045005, 2018.

[9] Y. Xu, G. Chen, T. Feng, Z. Cai, Y. Yue, L. Ren, S.Liang, J. Li, J. Shi, and Y. Tang, "Experimental Study on the PerformanceChange of YBCO Tapes Under Repeated Overcurrent," IEEE Trans. Appl. Supercond., vol. 30, Art. ID. 8000310, 2020.

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