可靠性基本概念

总结

1. 累计失效分布函数

2. 可靠度与失效率函数

3. Tbd物理模型

4. 加速因子Af

5. 平均寿命MTTF

6. t0.1%的计算方式

细节

1. 累计失效分布函数

产品丧失规定功能就称为失效
产品的寿命是指产品从开始工作(t = 0)到首次发生失效的工作时间
它的分布又称为失效分布或寿命分布,其分布函数F(t) = P(T ≤ t)又称为累积失效分布函数
F(t)的导数,叫做失效概率密度函数p(t)
常用的失效分布有如下三个:
(1)指数分布: Exp(λ);
(2)韦布尔(Weibull)分布: Wei(m, η);
(3)对数正态分布: LN(µ, σ2).
使用正确的分布函数对Fail List数据点进行拟合即可得到该样品在某条件下的F(t)

常用MiniTab完成

2. 可靠度函数与失效率函数

产品在规定时间t内和规定的条件下,完成规定功能的概率称为产品的可靠度函数,简称可靠度,记为R(t).

R(t) + F(t)=1

可靠性工程中,电子元器件的寿命分析通常采用指数分布模型来预测平均寿命和计算累积失效概率。指数分布假设产品在达到一定使用寿命后,其失效概率与使用时间成正比。这种方法在产品经过早期失效期,进入正常老化阶段时尤为适用。 参考资源链接:[指数分布在产品寿命分析中的应用](https://wenku.csdn.net/doc/60puxphkwa?spm=1055.2569.3001.10343) 首先,我们需要明确电子元器件的失效率λ。一旦确定了λ,我们就可以计算出电子元器件的平均寿命(MTTF),即平均寿命为失效率λ的倒数,计算公式为 MTTF = 1/λ。这个值表示在平均条件下,电子元器件能够持续工作的时间长度。 接下来,要预测累积失效概率,我们使用累积失效概率函数 F(t) = 1 - e^(-λt),其中t表示时间。这个函数能够给出在任意给定时间t之前,电子元器件失效的概率。通过这个函数,我们可以对电子元器件在特定工作周期内的可靠性进行评估。 例如,假设一个电子元器件的失效率λ为0.001(失效率单位为1/小时),那么其平均寿命MTTF为1000小时。如果我们想了解这个元器件在运行500小时后的累积失效概率,我们只需要将t=500代入累积失效概率函数 F(t),计算得到 F(500) = 1 - e^(-0.001*500)。 在实际应用中,除了理论计算,还需要考虑元器件的工作环境、负载条件以及制造质量等多种因素。因此,实际操作中会结合实际测试数据来调整λ值,以期得到更加精确的预测结果。 关于指数分布及其在产品寿命分析中的应用,可以参考《指数分布在产品寿命分析中的应用》这份资料。该资料将为读者提供详细的产品寿命规律分析方法,帮助深入理解指数分布模型的数学原理和实际应用过程。 参考资源链接:[指数分布在产品寿命分析中的应用](https://wenku.csdn.net/doc/60puxphkwa?spm=1055.2569.3001.10343)
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