ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 18-Protection devices

目录

概要

1 元器件分类

2 失效率的计算

2.1 失效率预测模型

2.2 Base失效率的选取

2.3 λoverstress的计算

2.3.1 πI的选取

2.3.2 电过应力失效率的选取

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概要

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十八章保护器件的失效率预测模型。

1 元器件分类

在IEC TR 62380第十八章覆盖的元器件包括：

• Thermistors (PTC)
• Varistors
• Fuses
• Arrestors

2 失效率的计算

2.1 失效率预测模型

保护器件的失效率预测模型如下：

式中：

λ：失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

λ0：base失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

πI：应用系数；

λEOS：电过应力失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）。

2.2 Base失效率的选取

根据元器件的类型选择base失效率：

2.3 λoverstress的计算

2.3.1 πI的选取

根据元器件的类型选择应用系数πI：

2.3.2 电过应力失效率的选取

根据元器件的实际应用场景选择电过应力失效率λEOS：