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IEC 62380
文章平均质量分 86
朱谨年
智能驾驶工程师
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ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 19-Energy devices, thermal management devices, disk drive
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十九章:Energy devices, thermal management devices, disk drive的失效率预测模型。原创 2024-08-12 09:00:00 · 878 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 18-Protection devices
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十八章保护器件的失效率预测模型。原创 2024-08-11 09:15:56 · 452 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 17-Displays, solid state lamps
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十七章显示器、固态灯的失效率预测模型。原创 2024-08-10 09:00:00 · 517 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 16-Connectors
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十六章连接器的失效率预测模型。原创 2024-08-09 09:00:00 · 569 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 15-Switches and keyboards
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十五章开关和键盘的失效率预测模型。原创 2024-08-08 09:33:26 · 437 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 14-Relays
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十四章继电器的失效率预测模型。原创 2024-08-07 10:24:52 · 1279 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 13-Microwave passive components, piezoelectric components and
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十三章微波无源元器件、压电元器件和声表面滤波器的失效率预测模型。原创 2024-08-06 09:36:56 · 395 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 12-Inductors and transformers
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十二章电感和变压器的失效率预测模型。原创 2024-08-05 10:01:16 · 439 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 11-Resistors and potentiometers
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十一章电阻和电位器的失效率预测模型。原创 2024-08-03 07:48:29 · 1310 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 10-Capacitors and thermistors (NTC)
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十章电容器和热敏电阻器的失效率预测模型。原创 2024-08-02 11:01:46 · 890 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 9-Optoelectronics
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第九章光电器件的失效率预测模型。原创 2024-08-01 11:34:45 · 1028 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 8-Optocouplers
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第八章光电耦合器的失效率预测模型。原创 2024-07-31 11:39:35 · 515 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 8-Diodes
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第八章二极管的失效率预测模型。原创 2024-07-29 14:40:23 · 714 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IC Pin的失效率
在ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380_2 中主要介绍了封装Package失效率的计算,封装失效率反映了封装材料、工艺、设计等因素对产品可靠性的影响。如何从封装的失效率导出Pin的失效率?原创 2024-07-28 11:34:25 · 615 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:Mission profile的使用
Mission profile:任务剖面,即产品在完成规定任务这段时间内所经历的时间和环境的时序描述;集成电路在工作时环境温度是在不停变化的,同时也存在运行状态和非运行状态;为此标准提出了根据任务剖面(Mission profile)以及集成电路的实际结温来评估热幅度变化、循环温度幅值等因素的影响;汽车电子元器件相关的Mission profile参考IEC TR 62380:Table 11。原创 2024-07-26 10:09:26 · 1102 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380-Section 7-Integrated circuits_2
在《ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380_1》中主要介绍了组件Die失效率的3种方法,并对这3种计算方法进行了对比分析,但是对于IC来说,失效并非只来源于Die故障,这篇文章用来介绍IEC TR 62380集成电路可靠性预测模型Die失效率之外的封装package和电过应力over stress的失效率。原创 2024-07-25 09:38:36 · 816 阅读 · 0 评论 -
ISO 26262中的失效率计算:IEC TR 62380_Section 7-Integrated circuits_1
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型,模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。并将mission profile 温度变化的影响放入模型中予以考虑。原创 2024-07-24 13:52:12 · 866 阅读 · 1 评论