ISO 26262中的失效率计算：SN29500-Part 2-Integrated Circuits

目录

概要

1  参考失效率的计算

1.1 λref(100k@90°C)的计算

1.2 λref(500k@90°C)的计算

1.3 θvj,1(500K)的计算

1.4 λref(500k@84.4°C)的计算

2  Mission profile下的失效率计算

2.1 N=986432的参考失效率

2.2 计算温度影响系数

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概要

SN29500是西门子关于电子元器件失效率预测计算的标准，包含多种电子元器件类型：集成电路、离散半导体、无源元件、开关、继电器、灯具、连接器等，通过查找表格找到各种组件类型的参考失效率和温度，如果IC在不同于参考条件下工作，需要评估实际运行条件的影响大小（包括温度、电压等），再计算出在实际运行条件下的失效率。本文介绍SN 29500 Part 2 集成电路的失效率预测模型。

1  参考失效率的计算

输入条件：

根据电路类型选取参照表：SN29500-2:2010,Table 2-CMOS

SN29500采用的方法是通过参考失效率乘以不同的系数，进行失效率计算；本例中的500k晶体管在SN29500-2:2010,Table 2-CMOS没有参考失效率，不能直接引用表中的数据，因此首先计算500k的参考失效率填充至上图中。

1.1 λref(100k@90°C)的计算

500k介于（100k，1M）之间，想要得到（500k@90°C)失效率之前，先要计算得出（100k@90°C) 失效率对应的数值：查表（100k@80°C)的值为50 FIT，乘以80°C到90°C变化的温度系数πT，即可得到（100k@90°C) 失效率：

其中πT的计算公式如下：SN 29500-2:2010 4.2（修正的阿仑尼乌斯方程）

代入选择的参数(（100k@80°C)的值为50 FIT)，得：

1.2 λref(500k@90°C)的计算

已知（100k@90°C)、（1M@90°C)的失效率，采用二元一次方程的插值法计算（500k@90°C)失效率的值：

解一下上表的二元一次方程：得（500k@90°C)失效率值为77.95 FIT。

1.3 θvj,1(500K)的计算

采用二元一次方程的插值法计算500k对应的参考温度：

提炼上表有用的数据：

解一下上表的二元一次方程：得θvj,1(500K)的值为84.4°C 。

1.4 λref(500k@84.4°C)的计算

2  Mission profile下的失效率计算

2.1 N=986432的参考失效率

按照λref(500k@90°C)到λref(100M@90°C)的值是80 FIT的前提下，将（晶体管数量N=986432）经过上一章的计算（其实也不用计算），得：

参考ISO 26262-11:Table 7：

2.2 计算温度影响系数

计算Mission profile下的πT：

考虑Mission profile下的环境温度和运行温度占比，计算结果如下：