STM32 JTAG 模式和 SWD 模式的区别详解

在调试和编程 STM32 微控制器时，使用 JTAG（Joint Test Action Group）模式和 SWD（Serial Wire Debug）模式是两种常见的方法。它们在接口需求、调试能力、引脚数量、通信速度等方面各有特点。我们一般采用的的下载器如ST-LINK，两种模式均可使用，下文将详细介绍这两种模式的主要内容和区别。

1. 接口和引脚需求

JTAG 模式

• 引脚数量：JTAG 模式通常需要 5 到 6 个引脚。
  • TDI（Test Data In）：数据输入引脚，用于将测试数据输入到微控制器。
  • TDO（Test Data Out）：数据输出引脚，用于将测试数据从微控制器输出。
  • TCK（Test Clock）：测试时钟引脚，用于同步 JTAG 操作。
  • TMS（Test Mode Select）：测试模式选择引脚，用于在不同的测试模式之间切换。
  • TRST（Test Reset，可选）：测试复位引脚，用于复位 JTAG 状态机。
  • GND：接地引脚，用于提供电气地。