硬件分析心得:
1.非正常引起的失效与当时的状态密切相关,重现要同时还原状态。
2.ESD测试与电容,失效原理要搞清楚。
3.审图时,3D文件可以提高效率,减少出错的可能。
4.设计理论先行,验证只是论证错误点。
5.在研究元器件的规格书和DEMO板,细节更重要。
6.过流保护点的计算,要和保护对象的原理结合。
硬件分析心得
最新推荐文章于 2024-06-19 10:18:19 发布
硬件分析心得:
1.非正常引起的失效与当时的状态密切相关,重现要同时还原状态。
2.ESD测试与电容,失效原理要搞清楚。
3.审图时,3D文件可以提高效率,减少出错的可能。
4.设计理论先行,验证只是论证错误点。
5.在研究元器件的规格书和DEMO板,细节更重要。
6.过流保护点的计算,要和保护对象的原理结合。