单片机实验 供电实验

单片机实验
实验一 BCD 码/十六进制码转换

一.实验内容
在Keil软件中，将片内RAM20H单元中两位BCD码转换成相应的十六进制码，转换结果保存于22H单元
并完成以下内容
(1) 掌握编码转换程序的编写方法
(2) 根据试验任务要求，编制源程序
(3) 上机调试程序，记录相关调试信息
(4) 写出实验报告
二.实验目的
（1）熟悉编码转换程序
（2）掌握编写和运行子程序的技巧
三．实验步骤
1 .熟练操作 Keil 仿真软件
2.新建项目、文件，保存名字时在文件名后加后缀“*.ASM”，表示存储的文件为汇编语言文件。
3.键入程序，保存编译。
4.点击“Target Options”,在“Debug”下选择调试环境
5.观察相关寄存器状态，在“Address”中输入目标单元地址观察单元内容
四．汇编程序

五． 实验流程图

六、实验结果分析
1.程序运行如下：

具体内容如下：

分析：
常用BCD码转十六进制码的方法为“乘十加数”法。例如，将BCD码10010010（表示十进制数92）转换成十六进制编码表示形式，算法为：HY=（090A+02）H=5CH。其中YH为转换后的十六进制数。再二进制运算中乘法可以用移位（左移）实现，0A可以写成08+02，其中08是将被乘数左移3为，02是将被乘数左移1为。则
（090A+02）H=（09+08+0902+02）D=（01001000+00010010+00000010
B=（01011100）B=5CH
其结果将片内RAM20H单元中两位BCD码转换成相应的十六进制码，转换结果保存于22H单元，符合实验要求。

七、实验中遇到的问题及解决过程、办法
1.Keil软件不会使用，解决过程是在课本实验前的一章节中有关于Keil软件的使用方法，耐心一步一步学习，最终熟练掌握。
2.程序编译不通过，原因：代码抄写错误，解决措施：根据报错修改代码，最后编译成功。
八、实验体会
通过本次实验，我对BCD码转十六进制码的方法，即“乘十加数”法有了更深的了解。通过实际的上机实验，完成正式实验和实验思考题，我对实验软件 Keil 也有了一定认识，收获颇丰。

九、思考题
(1) 简述二进制码、十进制码、BCD码、十六进制码之间转换的算法。
十进制转二进制：除2取余法用十进制减去2的次方，直到整除。
二进制转十进制：把二进制的“1”，从".“右边第一个开始按2的1次方，2的2次方…，相加即得十进制数的整数部分,从”."左边第一个开始按2的-1次方，2的-2次方…相加即得十进制数的小数部分。
二进制转BCD码：将待转换的二进制码从最高位开始左移BCD的寄存器（从高位到低位排列），每移一次，检查每一位BCD码是否大于4，是则加上3，否则不变。左移8次后，即完成了转换。
(2)把4字节BCD码5827转换成十六进制码。
MOV 40H,#5 ；存放最高位
MOV 41H,#8 ；存放次高位
MOV 42H,#2 ；存放次低位
MOV 43H,#7 ；存放最低位
MOV A,40H
MOV B,#10
MUL AB ；510
ADD A,41H
MOV B,#100
MUL AB ；8100
MOV R3,B
MOV R2,A
CLR A
MOV A,42H ；210
MOV B,#10
MUL AB
ADD A,43H
ADD A,R2 ；7+A0H
MOV R2,A
MOV A,B
ADDC A,R3 ；A+100
MOV R3,A ；5287=7+10(8+10*(2+105))=(510+2)100+(8*10+7)为算法

如上图r2，r3存储器所存值位结果，转换结果14A7H
实验二 数据排序程序
一、实验内容
在KeilC51上，编写一个通用排序子程序并调试，其功能为将 RAM 的40H~4FH 单元 16 个字节无符号二进制整数按从小到大顺序排序，将排序后的数据存放在 50H~5FH 缓冲区中。
并完成以下内容：
（1）根据实验任务要求，编制汇编源程序。
（2）上机调试程序，记录相关调试信息。
（3）写出实验报告。
二、 实验目的
（1）熟悉并掌握 MCS-51 指令系统和程序设计方法。
（2）掌握排序程序算法。
（3）掌握用循环程序实现数据排序的方法。
三、 实验步骤
1 .熟练操作 Keil uVision2 仿真软件
2.新建项目、文件，保存名字时在文件名后加后缀“*.ASM”，表示存储的文件为汇编语言文件。
3.键入程序，保存编译。
4.点击“Target Options”,在“Debug”下选择调试环境
5.观察相关寄存器状态，在“Address”中输入目标单元地址观察单元内容
四、 汇编程序
ORG 0000H ；该段代码向数据区域 40H~4FH 写入 20H~11H

MOV R7,#10H ；数据长度 →R7
MOV R0,#40H ；首地址 →R0
MOV R1,#20H ；第一个数据 →R1

START: MOV
MOV
INC
DEC
DJNZ

A,R1
@R0,A
R0
R1
R7,START

；(R1) →A
；数据 →对应地址
；地址加 1
；数据减 1
；判断赋值完成否

MOV	R7,#0FH	；数据长度-1→R7

LP0: MOV
MOV
MOV
CLR R0,#40H
A,R7
R6,A
7EH ；数据区域首地址 →R0
；(R7) →A
；(R7) →R6
；设定 7FH 位为 flag 并且 flag=0
LP1： MOV MOV INC MOV CLR SUBB JC SETB MOV A,@R0
20H,@R0
R0
21H,@R0
C
A,21H
LP2
7FH @R0,20H ；取得数据 →A
；当前地址中的值暂存到 20H 中 ；地址加 1
；当前地址中的值暂存到 21H 中 ；清 C
；相邻两个数相减
；如果前者大于后者则交换相邻的数 ；flag-1
；把前边的数赋给后一个地址

INC	R0	；地址加 1	

LP2: DJNZ JNB R6,LP1 7FH,LP3 ；判断是否到达内循环次数
；判断是否 flag=0.如果 flag=0，则表示顺序已经 排好
DJNZ R7,LP0 ；判断是否到达外循环次数
LP3: MOV R7,#10H ；获得要传输的数据个数把 40H~4FH 单元中数据复 制到 50H~5FH 单元中
MOV
MOV R0,#40H R1,#50H ；40H→RO
；50H→R1
LP4: MOV MOV INC INC DJNZ SJMP END A,@R0
@R1,A
R0
R1
R7,LP4
$ ；((R0)) →A
；A→ (R1)
；地址加 1
；地址加 1
；判断赋值是否完成
；程序在此处死循环

五、 实验流程图

六、 实验结果分析

分析：
从40H单元的第一个数开始依次和相邻单元的另一个数比较，如果顺序正确，则不作任何操作；如果顺序错误，则将这两个数位置对换。这样，在完成第一遍 n-1 次比较后，最小的数到了最后，所以第二遍比较只需要比较 n-2 次，最多作 n-1 遍比较就可完成排序。在比较中设立一个标志位 flag 清零，在循环结束时，若 flag=1 说明排序未完成，进入外循环；若flag=0，说明排序完成，程序结束。
有实验结果可得40H~4FH 单元16个字节无符号二进制整数按从小到大顺序排序，排序后的数据存放在 50H~5FH 缓冲区中。
七、 实验中遇到的问题及解决过程、办法

1. 做思考题的时候，要求完成32字节长度的排序，输出不能全部输出，所以我才用了俩次输出。修改程序如下
   之前：
   LP2: DJNZ JNB R6,LP1 7FH,LP3 ；判断是否到达内循环次数
   ；判断是否 flag=0.如果 flag=0，则表示顺序已经 排好
   DJNZ R7,LP0 ；判断是否到达外循环次数
   LP3: MOV R7,#10H ；获得要传输的数据个数把 40H~4FH 单元中数据复 制到 50H~5FH 单元中
   MOV
   MOV R0,#40H R1,#50H ；40H→RO
   ；50H→R1
   LP4: MOV MOV INC INC DJNZ SJMP END A,@R0
   @R1,A
   R0
   R1
   R7,LP4
   $ ；((R0)) →A
   ；A→ (R1)
   ；地址加 1
   ；地址加 1
   ；判断赋值是否完成
   ；程序在此处死循环
   修改后：
   LP3: MOV R7,#10H ；先将50H_{60H移动到60H}70H
   MOV R0,#50H
   MOV R1,#60H
   LP4: MOV A,@R0
   MOV @R1,A
   INC R0
   INC R1
   DJNZ R7,LP4
   LP5: MOV R7,#10H ；先将40H_{50H移动到50H}60H
   MOV R0,#40H
   MOV R1,#50H
   LP6: MOV A,@R0
   MOV @R1,A
   INC R0
   INC R1
   DJNZ R7,LP5
   SJMP $
   END

分俩次输出完成思考题要求。

八、 实验体会
通过本次实验，我再一次体会到了排序程序的使用，经实际操作，向学姐学长们讲解，回答相关问题，也使得这次实验印象更加深刻。本次实验中也遇到了一些困难，但经过和同学讨论，学长帮助，也都得以解决，也通过自己个人去完成思考题德设计，收获颇丰。
 
九、 思考与扩展
(1) 简述实现数据排序算法的基本方法。
排序，就是根据排序码的递增或者递减顺序把数据元素依次排列起来，使一组任意排列的元素变为一组按其排序码线性有序的元素。本文将介绍八种最为经典常用的内部排序算法，包括插入排序(直接插入排序，希尔排序)、选择排序(直接选择排序，堆排序)、交换排序(冒泡排序，快速排序)、归并排序、分配排序(基数排序)。实际上，无论是基本排序方法(直接插入排序，直接选择排序，冒泡排序)，还是高效排序方法(快速排序，堆排序，归并排序)等，它们各有所长，都拥有特定的使用场景。因此，在实际应用中，我们必须根据实际任务的特点和各种排序算法的特性来做出最合适的选择。
插入排序的基本思想：每步将一个待排序元素，按其排序码大小插入到前面已经排好序的一组元素中，直到元素全部插入为止。
希尔排序的思想：设待排序序列共n个元素，首先取一个整数gap<n作为间隔，将全部元素分为间隔为gap的gap个子序列并对每一个子序列进行直接插入排序。然后，缩小间隔gap，重复上述操作，直至gap缩小为1
折半插入排序的思想：当插入第i(i>=1)个元素时，前面的V[0],…,V[i-1]等i-1个 元素已经有序。
(2)将RAM的40H～5FH单元中的32字节无符号二进制整数按从小到大顺序重新排列，
将排序后数据存放到RAM的50H～6FH单元中。
ORG 0000H
MOV R7,#20H ；修改字节长度为20
MOV R0,#40H
MOV R1,#30H ；修改存放数值大小
START:
MOV A,R1
MOV @R0,A
INC R0
DEC R1
DJNZ R7,START
MOV R7,#1FH
LP0:
MOV R0,#40H
MOV A,R7
MOV R6,A
CLR 7FH
LP1: MOV A,@R0
MOV 20H,@R0
INC R0
MOV 21H,@R0
CLR C
SUBB A,21H
JC LP2
SETB 7FH
MOV @R0,20H
DEC R0
MOV @R0,21H
INC R0
LP2: DJNZ R6,LP1
JNB 7FH,LP3
DJNZ R7,LP0
LP3: MOV R7,#10H ；先将50H_{60H移动到60H}70H
MOV R0,#50H
MOV R1,#60H
LP4: MOV A,@R0
MOV @R1,A
INC R0
INC R1
DJNZ R7,LP4
LP5: MOV R7,#10H ；先将40H_{50H移动到50H}60H
MOV R0,#40H
MOV R1,#50H
LP6: MOV A,@R0
MOV @R1,A
INC R0
INC R1
DJNZ R7,LP5
SJMP $
END

实验三 I/O口控制实验
一.实验内容
用P1口做输出口，接8位逻辑电平输出；通过软件控制P1口8位数据循环左移，实现实验箱的LED灯循环右移。
二.实验目的
（1）掌握I/O口的基本输入、输出功能。
（2）掌握延时子程序的编写和使用。
三.实验设备
计算机一台：KeilC51和单片机实验箱。
四.实验要求
(1) 掌握I/O口控制程序的编写方法
(2) 根据试验任务要求，编制源程序
(3) 上机调试程序，记录相关调试信息
(4) 写出实验报告
五.实验步骤
（1）实验步骤：用P1口做输出口，接8位逻辑电平输出；通过软件控制P1口8位数据循环左移，实现实验箱的LED灯循环右移。
1）用8P的扁平带连接线将单片机最小系统模块的P1口连接到实验箱的“发光二极管指示灯”的扁平带连接处，合上LED模块供电短接帽。EA接VCC。
（2）实验CPU选用SST89E516RDX芯片
1）用RS232串口线连接计算机和最小系统模块。
2）打开Keil u vision4 编程平台，首先建立本实验工程文件，在程序编辑区输入执行代码，进行编译，知道编译无错。
3）在芯片自锁座上插入SST89E516RDX芯片，打开总电源，以及模块电源开关。
4）打开SST官方软件烧录器“SST easy IAP11f Boot-strap loader”查找芯片，并下载程序（相应SST软件芯片查找步骤、调试器设置步骤请观看视频“SST芯片简单使用教程”及文档“SST芯片程序烧录和在线调试模式设置方法”）。
5）程序下载完成后按复位按键，可观察到LED灯循环右移。
6）若进行调试模式，在SST官方软件烧录器中将芯片模式设置好以后，在Keil4的 Target Options选项中将Debug设置为“keil monitor-51 driver”并确定该栏中use选项选中，单机开始调试按钮，点击RUN按钮运行程序。
（3）实验CPU选用STC89C51/2芯片
1）用RS232串口线连接计算机和最小系统模块。
2）打开Keil u vision4 编程平台，首先建立本实验工程文件，在程序编辑区输入执行代码，进行编译，直到编译无错。
3）在芯片自锁座上插入STC89C51/2芯片，打开总电源。
4)打开STC官方烧录软件“STC ISP”选择好芯片型号、通信端口，选择要烧录的.hex文件。再点击“下载/编程”按钮，打开单片机最小系统模块电源开关（STC下载，单片机冷启动）。
5）程序下载完成后按复位按键，可观察到LED灯循环右移。
（4）实验CPU选用AT89S52芯片
1）插入USB ISP下载器。（下载器驱动程序以及软件使用步骤参考文档“USB_isp 及progisp20使用方法”）。
2）用RS232串口线连接计算机和最小系统模块。
3）打开Keil u vision4 编程平台，首先建立本实验工程文件，在程序编辑区输入执行代码，进行编译，知道编译无错。
4）在芯片自锁座上插入AT89S52芯片，打开总电源。
5）在烧录软件中点击下载flash文件，观察LED灯实验现象。
注：每次试验，上述（2）~（4）步骤都是相同的，因此在以后的实验中将不再复述，且AT芯片及STC芯片不支持硬件调试功能，仅SST芯片可进行硬件调试。
（3）P1口控制8位流水灯实验，用单片机P1口做输出口，接8位逻辑电平显示，程序控制LED灯左向右循环点亮。
六．实验原理

七．实验流程图

八．汇编程序
ORG 0000H
LJMP START
ORG 0030H
START:
MOV A, #0FEH ;P1口初始化，8位LED灯1亮7灭
MOV R5, #8
OUTPUT:
MOV P1, A ;P1口送入显示数据
RL A ;循环左移
CALL Delay ;调用延时函数
DJNZ R5, OUTPUT ;若R5中立即数减一不为0，则转移到output函数
LJMP START ;若R5中立即数减一为0，则转移到start函数

DELAY: ;延时函数
MOV R6, #0
MOV R7, #0
DELAYLOOP:
DJNZ R7, DELAYLOOP
DJNZ R6, DELAYLOOP

九. 实验结果分析
1.程序下载最终运行如下：

              接线图                               实验结果图

具体内容如下：

其结果将片内RAM20H单元中两位BCD码转换成相应的十六进制码，转换结果保存于22H单元，符合实验要求。

十. 实验中遇到的问题及解决过程、办法
1.实验箱出现问题，LED不亮，解决办法，更换实验箱。
2.课本上实验出现错误，立即数寻址方式应当带#号，改正方式加#号，实验结果按照预期运行。

十一. 实验体会
通过本次实验，我学习到了基本I/O输入输出的原理，认识到其原理及编程，对于寻址方式有了深入认识。了解了单片机硬件的使用，懂得如何使实验箱和单片机相连，学会了程序的烧录使用。本次实验中也遇到了一些困难，但经过和同学讨论，学长帮助，也都得以解决，收获颇丰。学会了程序的烧录使用。
十一. 思考题
若使用P0口，则对于P0口有什么要求？与P1口一样，可以直接使用吗？
答：不可以，P0口作输出口用时，需加上拉电阻。P0口有复用功能。当对外部存储器进行读写操作时，P0口先是提供外部存储器的低8位地址，供外部存储器地址锁存器锁存，然后充当数据线，用于写出或读入数据。P1口、P2口只是普通IO口。
 
实验四 ADC0809实验
一.实验内容
利用实验板上的ADC0809做A/D转换器，实验板上的电位器提供模拟量输入，编制程序，将模拟量转换成二进制数字量，用数码管显示。
二.实验目的
（1）掌握A/D转换与单片机的接口方法。
（2）了解A/D芯片ADC0809转换性能及编程。
（3）通过实验了解单片机如何进行数据采集。
三.实验设备
A/D转换器大致有三类：一是双积分A/D转换器，优点是精度高，抗干扰性好；价格便宜，但速度慢；二是逐次逼近A/D转换器，精度，速度，价格适中；三是并行A/D转换器，速度快，价格也昂贵。实验用的ADC0809属第二类，是八位A/D转换器。每采集一次一般需100us。本程序是用延时查询方式读入A/D转换结果，也可以用中断方式读入结果，在中断方式下，A/D转换结束后会自动产生EOC信号，将其中断相接。
四．实验要求
(1) 掌握I/O口控制程序的编写方法
(2) 根据试验任务要求，编制源程序
(3) 上机调试程序，记录相关调试信息
(4) 写出实验报告
五.实验原理
六．实验步骤
（1）用二号导线连接单片机P3.4至实验箱并行ADC模块的START，P3.5连接至OE，P3.6连接至EOC，P1连接至D0-D7，ALE连接至CLK，EA连接VCC。P0口连接至实验箱动态数码管A-H，P2连接至L1-L8。实验箱基准可调电压模块VREF连接至并行ADC0809模块INT0。合上ADC0809模块的供电短接帽
（2）实验箱上电，最小系统上电，下载程序，运行程序，接上示波器，观察实验现象。
七．实验流程图

八．汇编程序
LED_0 EQU 30H ;存放三个数码管的段码
LED_1 EQU 31H
LED_2 EQU 32H

	ADC		EQU	35H				;存放转换后的数据
	SC			BIT 	P3.4
	OE 			BIT 	P3.5
	EOC 		BIT 	P3.6
	ORG 		0000H
	AJMP		START
	ORG 		000BH 					;定时器T0中断入口地址
	CLR  		TF0							;清计数溢出标志位
	RETI

	ORG		0080H

START:
MOV LED_0,#00H
MOV LED_1,#00H
MOV LED_2,#00H

    CLR			P1.0
	CLR			P1.1
	CLR			P1.2				 		;选择ADC0809的通道0

WAIT: CLR SC
SETB SC
CLR SC ;启动转换
JNB EOC,$ ;等待转换结束
SETB OE ;允许输出
MOV ADC,P1 ;暂存转换结果
CLR OE ;关闭输出
MOV A,ADC ;将AD转换结果转换成BCD码
MOV B,#2
MUL AB
MOV R6,B
MOV R7,A
LCALL HB2

LCALL DISP ;显示AD转换结果
SJMP WAIT

DISP: MOV P2,#0FFH
MOV A,LED_0 ;数码显示子程序
MOV DPTR,#TABLE
MOVC A,@A+DPTR
MOV P2,#0X04
MOV P0,A
LCALL DELAY
MOV A,LED_1
MOV DPTR,#TABLE
MOVC A,@A+DPTR
MOV P2,#0X02
MOV P0,A
LCALL DELAY

	MOV		A,LED_2
	MOV		DPTR,#TABLE1
	MOVC	A,@A+DPTR
	MOV 		P2,#0X01
	MOV		P0,A
	LCALL	DELAY
	RET

DELAY:
MOV R6,#10 ;延时5毫秒
D1: MOV R7,#250
DJNZ R7,$
DJNZ R6,D1
RET

HB2: CLR A
MOV R3,A
MOV R4,A
MOV R5,A
MOV R2,#10H
HB3: MOV A,R7
RLC A
MOV R7,A
MOV A,R6
RLC A
MOV R6,A
MOV A,R5
ADDC A,R5
DA A
MOV R5,A
MOV A,R4
ADDC A,R4
DA A
MOV R4,A
MOV A,R3
ADDC A,R3
MOV R3,A
DJNZ R2,HB3
MOV LED_2,R3
MOV A,R4
MOV B,A
ANL A,#0FH
MOV LED_2,A
MOV A,R5
MOV B,A
ANL A,#0F0H
SWAP A
MOV LED_1,A
MOV A,B
ANL A,#0FH

    MOV 		LED_0,A
	RET

TABLE: DB 0c0h,0f9h,0a4h,0b0h,99h,92h,82h,0f8h,80h,90h
TABLE1: DB 0x40,0x79,0x24,0x30,0x19,0x12,0x02,0x78,0x00,0x10
END
七. 实验结果分析
1.程序下载最终运行如下：
实验结果图
从上图输入电压改变模拟量电压输入，输出显示数字量。
八. 实验中遇到的问题及解决过程、办法
实验箱输入电压损坏，解决办法，利用其它箱的输入电压作为我实验箱的输入电压，最后可以成功显示。
 
九. 实验体会
通过本次实验，我学习到了ADC0809原理，认识到其原理及编程，对于AD转换的中断、查表、延时方式有了深入认识。了解了单片机硬件的使用，懂得如何使实验箱和单片机相连，学会了程序的烧录使用。本次实验中也遇到了一些困难，但经过和同学讨论，学长帮助，也都得以解决，收获颇丰。要想会的更多，就得自己多去拓展，本实验的思考题对我掌握单片机课程也有极大的帮助。
 
十. 思考题
（1）A-D转换程序有3种编程方式：中断方式，查询方式，延时方式。实验中使用了中断方式，请用其它两种方式编写程序。

我在课后使用Proteus对课后题仿真。以下是接线图。

输出结果：

查询方式与延时方式程序：
#include <REG52.H>
#include “DisplaySmg.h”
#include “ADC0809.h”
#include “Timer0.h”
#include “Timer1.h”

unsigned char adc_result = 0;
int adc_result_show = 0;

void disp_num(void) //显示四位十进制数
{
LedBuf[0]= 23; //千位,不显示
LedBuf[1]= adc_result_show/100; //百位
LedBuf[2]= adc_result_show/10%10;//十位
LedBuf[3]= adc_result_show%10; //个位
}

void main()
{
Timer0_Init(); //定时/计数器T0初始化
Timer1_Init(); //定时/计数器T1初始化
EA=1; //中断总开关
DotDig1=1; //点亮第二个数码管的小数点
while(1)
{
adc_result = ADC_Conv();
adc_result_show = adc_result1.0100*5/255; //数据变换处理(线性标度变换)
disp_num(); //显示数据
}
}

void Timer0_ISR(void) interrupt 1
{
TR0=0; //关闭定时器
DisplaySmg(); //每过1ms,刷新一次数码管显示函数
TL0 = 0x66; //设置定时初始值,定时1ms
TH0 = 0xFC; //设置定时初始值,定时1ms
TR0=1; //打开定时器
}

#ifndef DisplaySmg_H
#define DisplaySmg_H

#include <REG52.H>

#define GPIO_SEG P0 //段选端
#define GPIO_SEL P2 //位选端

extern unsigned char LedBuf[]; //外部变量声明
extern unsigned char DotDig0,DotDig1,DotDig2,DotDig3;

void DisplaySmg(void);

#endif

#include “DisplaySmg.h”

unsigned char code LedData[]={ //共阴型数码管的段码表，字符，序号
0x3F, //“0”，0
0x06, //“1”，1
0x5B, //“2”，2
0x4F, //“3”，3
0x66, //“4”，4
0x6D, //“5”，5
0x7D, //“6”，6
0x07, //“7”，7
0x7F, //“8”，8
0x6F, //“9”，9
0x77, //“A”，10
0x7C, //“B”，11
0x39, //“C”，12
0x5E, //“D”，13
0x79, //“E”，14
0x71, //“F”，15
0x76, //“H”，16
0x38, //“L”，17
0x37, //“n”，18
0x3E, //“u”，19
0x73, //“P”，20
0x5C, //“o”，21
0x40, //“-”，22
0x00, //熄灭 23
};
unsigned char DotDig0=0,DotDig1=0,DotDig2=0,DotDig3=0; //小数点控制位
unsigned char code LedAddr[]={0xfe,0xfd,0xfb,0xf7}; //数码管位选
unsigned char LedBuf[]={22,22,22,22}; //显示缓存区

void DisplaySmg() //四位数码管，考虑小数点
{
unsigned char i; //等价于 “static unsigned char i = 0;”
unsigned char temp;
switch(i)
{
case 0:
{
GPIO_SEG = 0x00; //消影
if(DotDig0==1) //小数点
{
temp = LedData[LedBuf[0]] | 0x80; //点亮小数点
}
else
{
temp = LedData[LedBuf[0]];
}
GPIO_SEG = temp; //段码
GPIO_SEL = LedAddr[0]; //位选
i++;
break;
}

    case 1:
        GPIO_SEG = 0x00;    
        if(DotDig1==1)                    //小数点
        {
            temp = LedData[LedBuf[1]] | 0x80;
        }
        else
        {
            temp = LedData[LedBuf[1]];
        }
        GPIO_SEG = temp;
        GPIO_SEL = LedAddr[1];
        i++;
        break;
    case 2:
        GPIO_SEG = 0x00;
        if(DotDig2==1)                    //小数点
        {
            temp = LedData[LedBuf[2]] | 0x80;
        }
        else
        {
            temp = LedData[LedBuf[2]];
        }
        GPIO_SEG = temp;
        GPIO_SEL = LedAddr[2];
        i++;
        break;
    case 3:
        GPIO_SEG = 0x00;
        if(DotDig3==1)                    //小数点
        {
            temp = LedData[LedBuf[3]] | 0x80;
        }
        else
        {
            temp = LedData[LedBuf[3]];
        }
        GPIO_SEG = temp;
        GPIO_SEL = LedAddr[3];
        i=0;
        break;
    default:break;
}

}

#ifndef ADC0809_H
#define ADC0809_H

#include <reg52.h>
//#include “DelayXms.h”

#define ADC_DATA P3

sbit ADDR_A = P1^0;
sbit ADDR_B = P1^1;
sbit ADDR_C = P1^2;
sbit CLK = P1^3;
sbit START = P1^4;
sbit EOC = P1^5;
sbit OE = P1^6;

unsigned char ADC_Conv(void);

#endif

#include “ADC0809.h”

/ADC0809的工作过程：
首先输入3位地址，并使ALE=1，将地址输入地址锁存器中。此地址经
译码选通8路模拟输入之一到比较器。START上升沿将逐次逼近寄存器复位。
下降沿启动ADC转换，之后EOC输出信号变低，指示转换正在进行。直到ADC
转换完成，EOC变为高电平，指示ADC转换结束，结果数据已存入锁存器，
这个信号可用作中断申请。当OE输入高电平时，输出三态门打开，转换结果的
数字量输出到数据总线上。/

unsigned char ADC_Conv()
{
unsigned char adc_result;

OE = 0;     //数据输出允许信号，高电平有效
START = 0;     //ADC转换启动信号，高电平有效, 电路中与ALE(地址锁存允许信号)连在一起

ADDR_A = 1;    //3位地址输入线
ADDR_B = 1;    //用于选通8路模拟输入中的一路
ADDR_C = 0;

START = 1;    //上升沿，同时将ADC内部的寄存器清零
START = 0;    //产生一定的脉冲，Typ=100ns,下降沿启动AD转换

while(EOC==0); //查询方式，ADC转换结束信号，EOC=1，转换结束

// DelayXms(1); //延时等待方式
OE = 1; //数据更新到输出端口
adc_result = ADC_DATA; //单片机读取数据
OE = 0; //本次过程结束
return adc_result;
}

//定时器T1产生500KHz时钟信号，即2us, 定时器每1us中断一次
void Timer1_ISR(void) interrupt 3
{
CLK =!CLK;
}

#ifndef Timer0_H
#define Timer0_H

#include <reg52.h>

void Timer0_Init(void);

#endif
#include “Timer0.h”

void Timer0_Init(void) //1毫秒@11.0592MHz
{
TMOD &= 0xF0; //设置定时器模式
TMOD |= 0x01; //设置定时器模式
TL0 = 0x66; //设置定时初始值
TH0 = 0xFC; //设置定时初始值
TF0 = 0; //清除TF0标志
TR0 = 1; //定时器0开始计时

ET0 = 1;            //定时器0中断开关

// EA = 1; //中断总开关
}

//中断服务函数一定是一个没有返回值的函数
//中断服务函数一定是没有参数的函数
//中断服务函数函数名后跟着关键字interrupt
//interrupt n 0~4 5个中断源，8*n+0003H
// 0003H INT0, 00BH T0, 0013H INT1, 001BH T1, 0023H ES
//中断服务函数不能被主程序或者其他程序所调用
//n后面跟着using m(0~3)工作寄存器组

//void Timer0_ISR(void) interrupt 1
//{
// TL0 = 0x66; //设置定时初始值
// TH0 = 0xFC; //设置定时初始值
//}

#ifndef Timer1_H
#define Timer1_H

#include <reg52.h>

void Timer1_Init(void);

#endif

#include “Timer1.h”

void Timer1_Init(void) //1微秒@11.0592MHz
{
//定时器时钟12T模式
TMOD &= 0x0F; //设置定时器模式
TMOD |= 0x20; //设置定时器模式,8位自动重载模式
TL1 = 0xFF; //设置定时初始值,定时1us
TH1 = 0xFF; //设置定时重载值,定时1us
TF1 = 0; //清除TF1标志
TR1 = 1; //定时器1开始计时

ET1 = 1;        //定时器1中断允许

}

（2）P0口是数据/地址复用的端口，请说明实验中ADC0809的模拟通道选择开关在利用P0口的数据口或地址口时，程序指令和硬件连线的关系。存储器地址锁存器锁存，然后充当数据线，用于写出或读入数据。P1口、P2口只是普通IO口。
答：单片机的三总线结构
51单片机有三条总线：数据总线、地址总线、控制总线
8位数据总线由P0组成，16位地址总线由P0和P2组成，控制总线由P3和相关引脚组成采用总线的方式可以简化编程，节省I/O口，便于外设扩展
以上为为实验书的思考题的解答。

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供电实验
实验一 电磁型电流继电器实验
一．实验目的
1．熟悉 DL型电流继电器的实际结构，工作原理、基本特性。
2．掌握动作电流参数的整定。
二．原理说明
DL-20C 系列电流继电器为电磁式继电器。由电磁系统、整定装置、接触点系统组成。当线圈导通时，衔铁克服游丝的反作用力矩而动作，使动合触点闭合。转动刻度盘上的指针，可改变游丝的力矩，从而改变继电器的动作值。改变线圈的串联并联，可获得不同的额定值。DL-20C 系列电流继电器铭牌刻度值，为线圈并联时的额定值。继电器用于反映发电机，变压器及输电线短路和过负荷的继电保护装置中。
三．实验设备

四．实验内容

1. 整定点的动作值、返回值及返回系数测试
   实验接线图 1-2 为过流继电器实验接线。
   （1）电流继电器的动作电流和返回电流测试：
   a .选择 EPL-04 组件的 DL-21C 过流继电器（额定电流为 6A），确定动作值并进行整定。本实验整定值为 2.7A 及 5.4A 两种工作状态。
   b .根据整定值要求对继电器线圈确定接线方式；
   注意：（1）过流继电器线圈可采用串联或并联接法，如下图所示。其中串联接法电流动作值可由转动刻度盘上的指针所对应的电流值读出，并联接法电流动作值则为串联接法的2倍。

（a）串联 （b）并联

（2）串并联接线时需注意线圈的极性，应按照要求接线，否则得不到预期的动作电流值。
c.按图 1-2 接线（采用串联接法），调压器 T、变压器 T2和电阻 R 均位于 EPL-20，220V直流电源位于 EPL-11，交流电流表位于 EPL-11，量程为20A。并把调压器旋钮逆时针调到底。

d.检查无误后，合上主电路电源开关和 220V 直流电源船型开关，顺时针调节自耦调压器，增大输出电流，并同时观察交流电流表的读数和光示牌的动作情况。注意：当电流表的读数接近电流整定值时，应缓慢对自耦调压器进行调节，以免电流变化太快。
当光示牌由灭变亮时，说明继电器动作，观察交流电流表并读取电流值。记入表1-2，用起动电流 Idj 表示（能使继电器动作的最小电流值）。
e．继电器动作后，反向缓慢调节调压器降低输出电流，当光示牌由亮变灭时，
说明继电器返回。记录此时的电流值称为返回电流 ，用 Ifj 表示（能使继电器返回的最大电流值），记入表 1-2，并计算返回系数：
继电器的返回系数是返回与动作电流的比值，用 Kf 表示。

过流继电器的返回系数在0.85-0.9之间。当小于0.85 或大于0.9 时，应进行调整。
f．改变继电器线圈接线方式（采用并联接法），重复以上步骤。

以下是实验完成时：

五、实验结果
表 1-2 过流继电器实验结果记录表

整定电流I（A) 2.6A 线圈接线方式为：串联 5.3A 线圈接线方式为：并联
测试序号 1 2 3 1 2 3
实测起动电流Idj 2.60 2.62 2.61 5.30 5.28 5.29
实测返回电流Ifj 2.45 2.44 2.40 4.90 4.93 4.91
返回系数Kf 0.94 0.93 0.92 0.92 0.93 0.93
起动电流与整定电流误差% 0 0.77 0.38 0 0.34 0.19
六、实验总结
本次实验是在实验室完成的，刚开始做时感觉什么也不懂，后来经老师讲解，理解了硬件电路图，但是自己实际操作时又遇到了障碍，设备出现问题，电流表无法显示等等，但是经过和舍友讨论，以及寻找老师，最后也都解决了问题，完成了全部实验内容，最后感谢石栋华老师，本次实验收获颇丰。
七、思考题
1．电流继电器的返回系数为什么恒小于 1？
答：动作电流是指能使继电器吸合的最小电流；返回电流是指继电动作后，当通
过继电器线圈的电流小于某一数值时，继电器不再吸合返回到原位置；返回系数
就是返回电流最大值/动作电流最小值的比值，两都不能跨越这个分界点，否则
继电器就出现误触发或无零两可的状态，所以返回系数恒小于 1。
2．动作电流，返回电流和返回系数的定义是什么？
答： 1）动作电流是指能使继电器动作的最小叫流,它是可以根据要求在一定的范围内调整的。
2）返回电流是指继电动作后,当通过继电器线圈的电流小于某一数值时,动
作机构便返回到原位置,能使动作机构返回原位的最大电流称继电器的返回电流。
3）返回系数就是返回电流与动作电流的比值。
3．实验结果如返回系数不符合要求，你能正确地进行调整吗？
答：返回系数的调整方法有:
a .调整舌片的起始角和终止角:调节继电器右下方起始位置限制螺杆，以改变舌片起始位置角，此时只能改变动作电流，而对返回电流几乎没有影响。故可用改变舌片的起始角来调整动作电流和返回系数。舌片起始位置离开磁极的距离愈大，返回系数愈小，反之，返回系数愈大。
b.调节继电器右上方的舌片终止位置限制螺杆，以改变舌片终止位置角，此
时只能改变返回电流而对动作电流则无影响。故可用改变舌片的终止角来调整返
回电流和返回系数。舌片终止角与磁极的间隙愈大，返回系数愈大;反之，返回
系数愈小。
4．返回系数在设计继电保护装置中有何重要用途？
答：返回系数是确保保护选择性的重要指标.，让不该动作的继电器及时返回,使正常运行的部分系统不被切除。

反时限过流继电器特性实验
一．实验目的
1．掌握反时限过流继电器的工作原理、基本参数、反时限特性、速断特性及其实验整定方法。
2．学会如何扩大反时限过流继电器的整定范围。
二．原理说明
在工厂供电系统中，广泛采用感应式电流继电器来作为电流保护兼电流速断保护，因为感应式电流继电器兼有上述电磁式电流继电器、时间继电器、信号继电器和中间继电器的功能，从而可大大简化继电保护装置。而且采用感应式电流继电器组成的保护装置采用交流操作，可进一步简化二次系统，减少投资，因此它在中小变配电所中应用非常普遍。
1．基本结构
工厂供电系统常用的 GL-10、20 系列感应式电流继电器的内部结构如图 7-1 所示。这种电流继电器有两组元件构成，一组为感应元件，另一组为电磁元件。感应元件主要包括线圈 1、带短路环3的电磁铁2及装在可偏转框架6上的转动铝盘4电磁元件主要包括线圈1、电磁铁2和衔铁15。线圈1和电磁铁2是两组元件共用的。

7-2实验室所用电流继电器

2．工作原理和特性
感应式电流继电器的工作原理可用图 7-2 来说明。当线圈 1 有电流 IKA通过时，电磁铁2在短路环3的作用下，产生相位一前一后的两个磁通Φ1和Φ2，穿过铝盘4。这时作用于铝盘上的转矩为 M112 sin式中，ψ是Φ1 和Φ2 之间的相位差。上式通常称为感应是机构的基本转矩方程.由于
1I KA , 2I KA,而ψ为常数，因此

铝盘在转矩 M1 作用下转动，同时切割永久磁铁8的磁通，在铝盘上感应出涡流。涡流又与永久磁铁的磁通作用，产生一个与M1反向的制动方向力矩 M2。制动力矩M2与铝盘转速n成正比,即M 2n当铝盘转速 n 增大到某一定值时，M1＝M2，这时铝盘匀速转动。
继电器的铝盘在上述 M1和 M2的共同作用下，铝盘受力有使框架绕轴顺时针方向偏转的趋势，但受到弹簧 7 的阻力。当继电器线圈电流增大到继电器的动作电流值 Iop 时，铝盘受到的力也增大到可克服弹簧的阻力，使铝盘带动框架前偏，使蜗杆 10 与扇行齿轮 9 啮合，使扇行齿轮沿着蜗杆上升,最后使触点 12 切换，同时使信号牌（图 7-1 上未示出）掉下，使观察孔可看到红色或白色的信号指示，表示继电器已经动作。
继电器线圈中的电流越大，铝盘转得越快，扇行齿轮沿蜗杆上升的速度也越快，因此动作时间越短，这也就是感应式电流继电器的“反时限（即反比延时）特性”，如图 7-3 所示的曲线 abc，这一特性时其感应元件所产生的。
当继电器线圈电流进一步增大到整定的速断电流 Iqb时，电磁铁瞬时将衔铁吸下，使触点 12瞬时切换，同时也使信号牌掉下。电磁元件“电流速断特性”，如图 7-3 所示曲线 bb’d。因此该电磁元件又称电流速断元件。
速断电流 Iqb与感应元件动作电流 Iop的比值，称为速断电流倍数，即

GL－10、20 系列电流继电器的速断电流倍数 nqb＝2～8。速断电流 Iqb的含义，是指继电器线圈中使电 流速断元件动作的最小电流。感应式电流继电器的上述有一定限度的反时限特性，称为“有限反时限特性”。

3．动作电流和时限的调节
继电器的动作电流（整定电流）Iop，可利用插销 16（参看图 7-1）以改变线圈匝数来进行级进调节，也可利用调节弹簧 7 的拉力来进行平滑的细调。继电器的速断电流倍数 nqb，可利用螺钉 14 来改变衔铁 15 与电磁铁之间的气隙来调节。气隙越大，nqb 越大。
继电器感应元件的动作时限，可利用时限调节螺杆 13 来改变扇行齿轮顶杆行程所起点，以使动作的特性曲线上下移动。不过注意，继电器的动作时限调节螺杆的标度尺，是以10倍动作电流的动作时间来标度的。因此继电器实际的动作时间，与实际通过继电器线圈的电流大小有关，需从相应的动作特性曲线上去查得。
三．实验设备

四、实验内容
1．反时限继电器机械部分的检查与调整
(1) 将继电器的外壳取下（实际工程实验时，在取下外壳之前必须用干净的擦布将继电器擦干净，取下外壳后要清除继电器内聚集的灰尘，特别要注意清除圆盘与磁极间隙中的灰尘和铁屑）。
(2) 检查继电器各部螺钉、螺帽的松紧程度，弹簧接点的可靠性，应特别注意检查接点的固定情况、接线螺杆接触情况及弹簧的弹性是否良好。
(3) 检查轴承眼（方框与圆盘的轴承眼）是否清洁，但检查过程中特别要注意眼内滚珠有否脱落，轴承应光滑无磨损，轴尖在轴承内的活动范围约 0.2 毫米左右，无论哪个轴承和轴尖均不允许涂润滑油（若继电器无异常现象，可不必作此检查）。
(4) 检查圆盘转动情况，要确保使圆盘在一周及连续转动过程中与电磁铁、永久磁铁间无磨损，圆盘在任何位置其间隙都不小于 0.2 毫米，圆盘在水平转动过程中应保持与电磁铁垂直。
(5) 扇形齿轮的顶杆应接触于瞬动铁心顶板的中心。在最上位置时，动铁心右端按下，扇形齿轮的顶杆与瞬动铁心的顶板之间的距离应不小于 2 毫米。
2．动作电流与返回电流的试验

7-5实验接线图
A、B 为三相调压器的 A 相、B 相输出，位于 EPL-17A，变压器 T1位于 EPL-20A，交流电流表的量程为 20A，开关 S 选用 EPL-14 的 SB1。
(1) 始动电流检测
a. 将继电器电流整定端子放在标度 2A 插孔内，时间刻度置于 2s 位置，速断标度为2倍处。
b. 按图 7-4 接线，将桌面上的三相调压器旋钮逆时针旋到底，并检查接线确保正确无误。
c. 按下线路电源控制“闭合”开关和开关 SB1，同时顺时针缓慢调节桌面上的三相调压器，观察交流电流表的读数和过流继电器的圆盘，记录使圆盘不间断转动时的最小电流称为始动电流，计算始动电流与整定电流的比值，将数据记录于表 7-2 中。
(2) 启动电流与返回电流试验
在试验时间应检测各个标度电流插头位置的启动返回电流。对于运行使用的反时限继电器进行定期检测，可只试验整定位置的启动电流，返回电流值，本实验可选整定电流标度2A 插孔。合上电源开关 SB1，调节桌面上的三相调压器，均匀地增加继电器的电流，直至使扇形齿轮与螺旋杆吻合，并一直均匀上升，使接点动作的电流称为感应元件的启动电流或动作电流。一般在继电器动作后扇形齿轮即应一直均匀上升，如有中途停止则证明尚有摩擦等问题存在。动作电流与整定值的误差不应超过 25%，否则应调整弹簧 5。拉紧弹簧则增加电流，放松则减小电流。返回电流测试应在扇形齿轮与螺旋杆吻合上升快接触可动铁心 10 时开始减小加入继电器的电流。当电流减小只于扇形出论与螺旋杆离开时的电流即使为返回电流，此时应注意可动铁心应未动作，否则，将受磁路变更而影响感应元件的返回电流测试值。返回电流与启动电流之比值称为返回系数，此系数为检查继电器的质量之一，GL-25型返回系数应为 0.700.95，如低于此数应按下列方法之一或结合几种方法进行调整。
a. 变更舌形弹簧片与电磁铁的距离，距离小返回系数低，反之则高。
b. 调整扇形齿轮与螺旋杆的吻合深度，深度大返回系数低，反之则高。但容易造成圆盘中途停滞不转及不复归的可能。因此在调整后反应反复试验，观察有无上述情况发生。
c. 调整永久磁铁磁极间隙，减小间隙时，返回系数增高，反之降低。
d. 检查轴承是否良好。
在用 a 调整返回系数时，将影响启动电流，故每次调整后均应复校启动电流。启动电流与返回电流校验后，若在运行中需要改变定值，应对所有标度电流整定端子进行校验，否则只需进行某个使用的整定端子的启动电流，返回电流校验。在运行中带电改变定值时，为了避免变流器开路，必须首先将备用螺钉（位于界限座无标号的插孔中）拧入所需插孔中，而后拧出另外的螺钉，并且把它插入插孔中。不允许两个调整螺钉同时留在标号插孔中，以免继电器拒绝动作。
3．感应元件时间特性试验
(1) 反时限特性曲线测试：
校验时间特性时，速断部分置于最大位置、信号牌等其他要求都应与前面的 2 项相同。反时限过流保护如在运行中，不改变时间定值可以只校验整定端子的时间特性曲线（如需运行中改变时间定值时，对所有整定点均应进行校验）。
a. 将继电器的动作时间分别整定为 2 秒和 4 秒，整定电流置于 2A 插孔，在时限的最大和最小位置分别通入不同倍数的动作电流，录取反时限特性曲线，实验接线见图 7-4。
b. 按图接线，分别加入 2，2.5，3.0，3.5，4，4.5，5A 标度整定电流（本实验为 2Ａ），分别测试对应电流的时间记录于表 7-2 中，并绘制出二条反时限特性曲线。
时间特性的调整可通过调节阻尼磁铁位置来实现，当时间特性前半段（动作电流小）动作时间太长，则将阻尼永久磁铁向内移，反之向外移，不过阻尼磁铁向外移动时，有一定的限度即整个磁铁仍在圆盘面积以内，若越过转盘面积以外时，将阻尼磁铁向外移动则反使前段时间缩短。另外还可调整时间刻度盘，适当改变时间特性.
4. 速断元件刻度盘的检测
实验时速断元件的动作电流应用冲击电流的方式试验，返回电流则用逐渐减小的方式测的。
(1) 将继电器电流整定端子放在标度某个定值的插孔内（见表 7-2），时间刻度放在2秒处，速断标度在2倍处，桌面上的三相调压器旋钮置于逆时针到底位置。
(2) 合上开关 SB1，调节三相调压器旋钮使继电器电流到电磁元件动作，然后稍稍减小电流打开 SB1。
(3) 将框架塞住，然后冲击地合上开关 SB1，重复几次找出瞬动元件的动作电流。
(4) 冲击地加入 0.8 倍速断启动值的电流，看看速断元件动作不动作。
(5) 通入 1.1 倍的继电器速断起动值的电流。再打开 SB1，然后冲击地加上 1.1 倍速动起动电流（实验接线见图 7-4）。
5．重复检查并假封印
继电器检测整定后，应重复检查所有的螺钉、螺帽是否已拧紧，磁极间有没有杂物等， 然后将外壳盖好并加封印。继电器需搬运时，应将感应元件可动部分扎住，用纸将速断元件可动衔铁卡住，运输到现场后在由现场负责人将扎线及纸去掉，检查机械部分后重新封印访可投入运行。

继电器的额定数值与调整范围列于表 7-4

五、实验结果
1.数据记录
动作电流整定范围 2—5 动作时间整定范围
0.5-4 速断倍数整定范围
2-8
动作电流整定值 2A 动作时间整定值
1秒 速断倍数整定值
8
感应元件始动电流 0.20A 始动电流/整定电流
1.91A
启动电流 2（A) 返回电流 1.73(A) 返回系数 0.865
试验时速断原件整定于最大值 感应元件反时限特性记录表(实验电流=整定电流*倍数)
实验电流值 2.4 2.6 3 4 5 6 7 8 9 10
1秒时的动作时间（s）
5.52 4.82 3.51 2.53 2.09 1.83 1.78 1.74 1.63 1.31
2秒时的动作时间（s）
10.26 8.58 6.89 4.79 4.01 3.54 3.52 3.27 3.15 3.00
试验时将框架塞住 速断原件检测记录表（实验时速断标度倍数可选择2倍）
电流整定标度（A) 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5
速断整定标度 2 2 2 2 2 2 2
计算值（A） 4 5 6 7 8 9 10
实测值（A) 4.4 5.56 6.51 7.71 8.85 9.45 10.95
误差（%） 10 11.2 8.5 10.1 10.6 5 9.5

2.反时限曲线绘制

图7-5反时限特性曲线
注：系列1为1s时的反时限曲线，系列2为2s时的反时限曲线。

六、实验总结
本次实验是在实验室完成的，刚开始做时感觉什么也不懂，后来经老师讲解，理解了硬件电路图，但是自己实际操作时又遇到了障碍，设备出现问题，电流表无法显示等等，但是经过和舍友讨论，以及寻找老师，最后也都解决了问题，完成了全部实验内容，最后感谢石栋华老师，老师讲解得十分清楚。通过本次实验，我更加深刻的认识到了反时限过流继电器的工作原理、基本参数、反时限特性、速断特性及其实验整定方法，本次实验收获颇丰。
七、思考题
1．何为反时限过流继电器的始动电流？为何要检测始动电流？
答：使反时限过流继电器动作的最小电流称为使动电流，具有反时限特性，用于
发电机、变压器及输配电系统的继电器保护装置的启动电流。检测始动电流是为
了预防电流过大而烧坏设备。
2．反时限过流继电器集成了常规过流保护中哪几种继电器的功能？
答：感应式电流继电器兼有电磁式电流继电器、时间继电器、信号继电器和中间
继电器的功能
3．反时限过流继电器的动作值，返回值与普通电流继电器同名值有何区别？
答：动作值是指继电器从释放状态到达动作状态（或初始状态改变为最终状态）
所需要输入激励量的最小(或最大）值。返回值是指继电器从动作状态恢复到释
放状态（或由最终状态改变为初始状态）所需要输入激励量的最大(或最小）值。
4．反时限的具体概念是什么？为什么该继电器具有反时限功能？
答：反时限是指动作时限与通入电流大小的平方成反比,通入电流越大,则动作
时限越短。具有反时限的原因是，使用在输电线路上的反时限过电流保护，能更
快的切除被保护线路首端的故障。