本文介绍了STM32G474微控制器的高级特性，特别是其ADC采样速度可达4Msample/S，支持硬件过采样提升精度。ADC过程包括采样和转换阶段，详细讲解了触发转换延迟、采样保持和转换时间。此外，还提到了ADC的两种转换模式、定时器配置以及ADC时钟限制。在内部参考电压部分，强调了VREF的电容配置，并介绍了G4系列的新增功能，如PWM控制精度提升、编码模式和清零信号输入等。
一.G4的外设
二.ADC采样
.1.采样速度最大4Msample/S:外部晶振60M,采样周期最少15个周期（2.5个采样周期+12.5个转换周期）。
ADC 完 整过程分为采样阶段 (sample 与转换阶段 (conversion
采样阶段至少需要 2.5 ADC 时钟周期，转换阶段需要 12.5 ADC 时钟周期(12 bit 精度）
2.硬件的过采样可以达到16bit精度
3.ADC采样机制说明
分为3部分：触发转换延迟时间+ADC采样保持时间+ADC转换时间
采样是否稳定，取决于触发转换延迟时间和采样保持时间。
**4.ADC的两种转化模式：**注入转换和规则转换。
5.一般注入组**采用扫描模式和非连续模式
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