STM32之ADC调试日志

1、开始选择dma方式去采样，读出ad采样的数据值波形是正常的。移植完计算相关的函数后，计算的值相对实际的值有较大的偏差，此时修改固有系数，计算的值没有发生相应的变化，将固有系数改为0后，依然不会有变化；将固有系数改大后会出现很小的变化。检查程序的计算部分，发现计算单项电压电流的公式中，for循环的计数部分出现越界，导致数组计算的也出现错误，修正后，计算结果可以通过改变固有系数来调整。

2、此时计算出的电压和电流值在电压和电流较小时跳动很小，电压电流加大后，计算的值跳动很大，但采样的波形是很完整，跳动很小的，按照之前的方式进行采样，修改ADC采样方式。

3、改变adc采样的方式为查询的方式进行采样，计算的值依然有很大的跳动，并且不像之前计算的数据有一定的规律，计算后电压和电流的数据交错出现。此时读出波形的数据不正常，通道之间的数据是混乱的。尝试过改变采样时间，结果是无效的。经过查看相关寄存器，发现在切换一遍通道后，所有的通道依次都被打开了。经过查找原因是库函数中在配置通道寄存器时，ADC1->CHSEL |= ADC_Channel；这样一来，所有的通道在切换一遍以后，就所有的通道都打开了，导致转换的结果不正常。将库函数略作修改后，采样数据波形正常。

4、此时计算仍然会有很大的跳动，尝试将10个连续的波形数据采样出来（采样波形是正常的），然后直接将首个波形和最后一个波形的数据带入程序中，直接进行计算，发现有很大的偏差，确定是计算相关程序部分有错误。在程序中加断点，单步跟踪计算数据，查看FFT计算后的数据不正常，将Acuvim393的FFT程序移植过来，计算结果正常。

5、此时只加一相电压，在MBDebug上读出数据三相电压都有，并且完全相同，电流只有A相和B相有；检查采样程序后发现之前修改过的采样点数没有修改回来，导致采样数据的数组出现越界，后面的数据被覆盖了。修改采样点数后，采样计算正常。 

总结:

    1、尽量按原有的机制去进行移植修改。

    2、计算相关的部分出现问题，先检查逻辑有没有问题；然后检查相关数组部分是否有越界，数据类型是否产生截断，导致结果错误。

    3、STM32部分硬件跳转Hardfault IRQHandler是由于数组越界导致的；

    4、使用库函数，注意应用的正确性；

    5、在修改程序的过程中注意备份并说明，这样可以减少来回修改程序的时间，方便查找问题，提高工作效率；
    6、注意理清思路，按照既定路线逐个排查问题，多动手记录相关测试部分。