手持设备的静电防护

一：常见问题总结

   手持设备分为多种，有我们生活中常见的手机，工业手持设备等，不同于台式设备，手持设备无可靠的机壳和参考大地连接，基本是依赖空气放电。他们都时刻受到静电的威胁，常见静电测试，静电导致的问题有以下场景

1.屏幕花屏，黑屏，误触发

2.按键误触发，失灵

3.外接的设备口如type-c，耳机插孔等静电后损坏

4.设备死机，关机，

5.内部功能失灵。

 

二：那些问题如何导致的？

1.屏幕花屏，黑屏，误触发：屏幕设计厂商一般都对屏幕进行过静电测试，但是很多在设计应用中还是会出现屏幕的问题，一般可有以下几种原因

  a:软件设计问题，部分设备追求低功耗，设备界面未做全刷新模式，静电导致部分固有界面出现花屏后无法恢复，这种一般需要重启设备后才能正常，一般不建议进行局部刷新，可以降低界面刷新速率，但是抛弃会影响应用。

  b:结构设计问题，现有很多厂家在设计时候，触摸和显示屏一般都预留的接地部分，但是很多设计中未有效的进行接地，接地电阻过大，未接地等，导致静电干扰泄放路径直接通过FPC进行参参考地，导致FPC信号线干扰，甚至导致部分器件的不可逆损伤。

 c:误触发，静电的时间是ns级别的，瞬态的干扰导致屏幕误触发，这时候就需要软件或者驱动工程师来进行软件误触发的容错处理了，一般人手动触发都是ms级别的。这种比较好处理

 

2.按键误触发，失灵：此种建议通过结构设计和硬件软件设计共同处理，

  a:硬件设计可以增强按键部分电路的输入输出防护，增加齐纳二极管，限流电阻，滤波等进行防护，防止不可逆的损伤.、

  b:软件设计，软件上增加误触发的容错处理、防抖处理

  c:结构设计，按键一般是和外界连接最常用的，按键设计可以采用绝缘材料或者防静电材料等，甚至采用金属设计都可以，静电可以防护，也可以通过结构进行引导，保证干扰不进入设备内部即可。

3.外接的设备口如type-c，耳机插孔等静电后损坏。常见的通讯等端口已经有非常成熟的解决方案和预防办法，甚至对应带保护的芯片等，此处不做赘述，但是端口防护比不可少，在电压，电流，等都需要进行可靠设计。

4.设备死机，关机：关机一般分为软关机和硬关机，软关机是设置的某些条件触发了关机信号，从而操作底层硬件进行关机操作，一般有电源控制信号，电源监控，异常监控等，此问题处理需在电路设计时候做好容错处理，可增加判断次数和时间等，而不是直接进行操作。硬关机，是干扰信号直接干扰到了硬件电源等生命部分的使能等，导致设备断电。此问题不好判断，一般先检查电路中敏感信号的设计是否合格，然后进行局部干扰测试，进行问题复现。

5.内部功能失灵：失灵是设计者最不想遇到的问题，常见的有某部分功能失灵。但是手持设备基本损坏常见于端口，

功能失灵之结构的锅：内部失灵那就的好好考虑产品的静电结构设计了，是否为静电设计了比较好的泄放渠道，是否为敏感信号设计好了低阻通道，是否有可靠的接地和外壳防护，如今我们使用的手机，我们拆开会发现，很多都是金属外壳直接成模的，即使在电路内部，四周也预留了很多的接地弹片进行可靠接地。

功能失灵之硬件的锅：硬件电路是最核心的防护，结构软件等只是辅助等，如今芯片的时代，我们知道晶体管对静电的敏感度本身就很大，所以在电路设计时候，参考硬件芯片的静电防护外，硬件工程师还需进行可靠的防护电路设计，器件选择，器件应用，限流电路，限压电路，PCB布局，等都直接影响了产品的应用。

总之：静电的底线是设备不能损坏。硬件为先，结构为框，软件辅之。