目录
1.概述
主要讨论负载误差及相关技术去降低,介绍相关高阻测量的各种绝缘材料的信息
2.误差来源
电压表内阻,输入偏置电流,部分分流电阻和电容引起的负载误差。
3.负载误差和保护技术
3.1负载误差
如下图,电压源为Vs和Rs串联的等效电路,Vm为测量端,Rin为一个理想的确定电阻大小的电阻。根据计算
Vm = Vs*(Rin/(Rs+Rin))
从上述计算中我们得知,电压源和测量端输入电阻比例占比决定了计算结果。为了降低源内阻的占比,一般会将输入电阻提高到源内阻至少两个数量级,
3.2 线缆的负载效应
连接线缆通常不是问题,但是再负载超过10GΩ时候,一些条件下也会产生很大的影响
3.3 输入偏置电流
输入偏置电流是电路的固有属性,无法完全消除,在运放中是由于基极输入偏置PN节漏电流引起或者金晶体管不一致导致。
数字多用表和纳伏表的输入偏置电流一般再pA级别,1pA~1nA之间,静电计最小可以到fA级别,pA计和SMU也有很小的输入偏置电流,高于静电计。
3.4 分流电阻负载和保护
跨接在电压源上的任何分流电阻都会影响测量,如漏电的电缆和绝缘子,
采用绝缘性好的连接器夹具及采用保护技术可完全消除影响。
优化前:Vm = (Rl/(Rs+Rl))Vs
采用保护措施之后,增加运放,运放的输出端提供Rg的电流
Vm = Vs * (AGRL/(Rs+AG))
优化后,电缆的屏蔽连接到buffer的输出端,不是lo端,RG代表从电缆到lo端的电阻,现在的RG流过的电流是输出端提供了而不是源端提供的,流过RL的电流就下降了几个数量级,泄露电流基本可以忽略。静电计设计就是这个架构,并且这样还减少了电缆的有效电容,使电路的响应速度更加快,
当静电计作为电压表使用时候,其原理如下(保护泄露电阻)
设放大器的开环增益为AG 一般为10^6~10^4之间,用此增益和泄露电阻Rl的乘积
Vm = Vs * (AGRL/(Rs+AG)) 实际计算后发现电压测量误差下降了到了0.001%。不采用保护电阻则在9%左右,
运放参数的详细解释和分析-part15,开环增益Aol - 百度文库 (baidu.com) 开环增益理解
3.5 分流电容负载
电压测量的建立时间取决于源端等效电阻和等效电容组成的RC,当源端电阻非常大,即使很小的等效电容也会影响电压的建立时间,如源端为20G 线缆分流电容为100pF ,则产生的RC时间为2s,要想测量结果和最总值不超过1%,建立时间就需要10S的时间。可知道泄露电容对高输入阻抗的电压表影响还是很大的。
计算方式: AG = 10^4~10^6之间, Vm = Vs(1-e^-t AG/RsC1) 带保护
AG = 10^4~10^6之间, Vm = Vs(1-e^-t RsC1) 不带保护
Qin = Vs(C1/AG)
可见当增加保护措施后,AG/RCC1让建立时间成几何数减少
3.6 绝缘电阻
静电计和一些SMU与电压表一般都具有高输入阻抗的特性。在静电计测量中,高绝缘电阻是测量的必须条件,如果绝缘电阻过低,泄露电阻带来的影响将会非常大,所以一般测量高阻源的电阻,对测试线,测试夹具,引线等泄露电阻要比被测电路的戴维宁等效电阻高出几个数量级。
为了保证绝缘电阻在合理范围内需定期使用静电计对电阻进行测量
如何选取?选取绝缘带电阻高的标准
体电阻率 表面电阻率 水吸收 压电效应 摩擦电效应 介电吸收
对各种绝缘材料的此处不做详细分析