【Electronics】微机实验

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2.8051单片机的数据传送实验

2.1 实验内容

       利用程序在ROM中设置40个固定数值在41～80的BCD码数据，程序运行时，把该数据块读到片内RAM的20H～47H区间，然后把该数据块变换为BIN码（二进制制）存于48H ～6FH区间，再把BIN数据变换为ASCII码存于片外RAM 0100H ～ 013FH区间。要求数据的变换用子程序调用实现。

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2.2 实验目的

1． 掌握存储器读写方法。
2．了解存储器的块操作方法。
3．学习计算机数据格式的变换方法。
4．学习子程序的编写与调用方法。
5．学习数据块的传送程序的编写方法。

2.3 实验说明

       通过本实验，学生可以了解单片机读写存储器的读写方法，同时也可以了解单片机编程，各类指令的用法，程序的模块化和调试的方法。

2.4 实验框图

3.P1口输入、输出实验

3.1 实验内容

1. P1口作输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。
2. P1.0、P1.1作输入口接两个拨动开关，P1.2、P1.3作输出口，接两个发光二极管，编写程序读取开关状态，将此状态在发光二极管上显示出来。

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3.2 实验目的

1．学习P1口的使用方法。
2．学习延时子程序的编写和使用。

3.3 实验说明

3.4 实验框图

4.单片机的I/O口与外部中断

4.1 实验内容

       51单片机的外部中断1引脚接开关K1，外部中断引脚0接开关K0，P1.0～P1.7分别接八个发光二极管，开机后只有一个发光二极管从左到右每隔0.5秒循环移动点亮。
       当K1电平产生电平跳变时，二极管的循环移动发光被停止，取而代之的是黄色二极管5秒间的闪烁，闪烁频率为0.5秒，5秒钟过后，八个发光二极管恢复到原来的循环发光状态。
       当K0电平为低电平时&#x