芯片测试矩阵的相关计算

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

本题比较巧妙用到二维数组，并且关键的一点是好的芯片闭环的多，就相当于每个芯片投票，看其他芯片投这个芯片好的多还是坏的多，哪个多这个芯片就是那个类型的。

#include<stdio.h>
#include<iostream>
using namespace std;
int main()
{
	int n,m,l;
	cin>>n;
	int a[25][25];
	for(int i=1;i<=n;i++)
	for(int j=1;j<=n;j++)
	cin>>a[i][j];
	for(m=1;m<=n;m++)
	{
		int ans=-1;//投他是好芯片的个数，自己也认为自己是好芯片所以从-1开始
		int ant=0;//投他是坏芯片的个数
	for(l=1;l<=n;l++)
	{
		if(a[l][m]==1)
		ans++;
		else
		ant++;
	}
	if(ans>=ant)
	printf("%d ",m);
	}
	return 0;	
}