FPGA笔试题总结(1)
FPGA笔试题
存储器
例1、存储器概念
用于存储数据的产品的统称
例2、按存取方式划分存储器和其特点
例3、SRAM单元的电路图和原理
例4、SRAM,FLASH和DRAM的区别
例5、存储器分块电路设计
例6、NAND FLASH与NOR FLASH的区别
例7、register file,one/two port ram的区别
例8、什么叫做OTP片/掩膜片,两者有何区别
RTL编码和时序逻辑
例1、什么时候推导出锁存器
例2、Verilog的三种语言描述方式
例3、阻塞赋值与非阻塞赋值的区别
例4、实现N位Johnson计数器,N=5
例5、如何处理跨时钟域信号
例6、画出检测10010数据串的状态图并实现
例7、写一个memery仿真模型
例8、实现上升沿/下降沿/双沿检测电路
例9、使用Verilog实现10进制计数器
例10、亚稳态的概念、危害和处理方法
例11、如何提高系统运行速度
例12、setup/hold time计算相关题目 (特别重要)
例13、如何确定FIFO的深度 (特别重要)
例14、设计一个自动饮料售卖机
例15、分频器设计
如果要求占空比,那么利用组合逻辑,先将目标信号取反然后相或或者相与
例16、设计一个计算连续Leading Zeros个数的电路
例17、加法器的延时计算
正常的加法器3+2+2+2=9位
超前进位加法器进位3位延迟,和都是4位延迟,总共4位延迟
IO电路和验证
例1、为什么需要IO电路
例2、ESD电路的概念和作用
例3、静态、动态时序模型的区别
例4、形式验证和功能验证概念和区别
综合/DFT/STA/PR
例1、DC综合的流程
例2、什么是关键路径?如何减少?
例3、时序路径的概念
例4、门控时钟的作用
例5、门控时钟为何导致电路测试覆盖率降低,如何解决
例6、哪个电路产生无毛刺门控时钟
例7、什么是DFT?为什么要DFT
例8、DFT的一些故障模型
例9、DFT技术有哪些
例10、什么是CTS?为什么要CTS?
例11、反相器的大小设计
FPGA工艺题
例1、FPGA芯片内有哪些资源
例2、FPGA中LUT的结构和原理
例3、IC设计前后端的流程和EDA工具
例4、为什么反相器中P管的宽长比要比N管的大
例5、RISC和CISC的区别
例6、你对工艺的认识,0.25/0.18指的是
例7、天线效应的概念和解决办法
例8、基尔霍夫定理的内容是什么
例9、如何进行低功耗设计
IQ题
参考文献
[1]、数字IC与FPGA面试笔试题讲解1:上面中的截图均是来自该课程,这是博主在学习的时候做的笔记。课程讲的很棒,值得学习。
总结
创作不易,认为文章有帮助的同学们可以关注、点赞、转发支持。为行业贡献及其微小的一部分。或者对文章有什么看法或者需要更近一步交流的同学,可以加入下面的群: