广州化联质检提供高分辨透射电镜(TEM)测试服务，包括TEM、HRTEM、EDS、线扫、Mapping和EBSD测试。适用于纳米技术、材料、物理等多个领域。Tecnai G2 F30/F20电镜具有高分辨率和广泛的应用范围，可用于材料内部微结构、元素分析等。常见问题涉及TEM制样方法、载网选择和磁性样品。
广州化联质检●实验仪器:场发射透射电镜(TEM测试)
形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可)选区电子衍射(环衍射、点衍射)
高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可)EDS能谱（点扫、线扫、面扫)
明场、暗场
Mapping
球差电镜
型号：
lecnai G2 F30/F20JEOL-2100F
FIB+球差校正电镜
应用范围
可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。
仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM)
仪器型号: Tecnai G2 F30
仪器厂家: FEI
仪器产地: 美国
Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加
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