芯片缺陷检测项目

12 篇文章 0 订阅
5 篇文章 1 订阅

Tips:需要了解项目细节或者相关技术支持,以下是联系方式。

邮箱:740595707@qq.com

 Github源码:https://github.com/dlphay/halcon_dlphay

 (源码中去掉了部分核心代码,需要核心代码通过邮箱联系)

机器视觉项目----芯片缺陷检测

01 应用与背景

封装体检测的内容包括(括号内数字为检测编号):刮痕(00)、污迹(01)、破损(02)、未灌满(03)、
外溢(04)共 5 项检测内容。
印记检测的内容包括(括号内数字为检测编号):错字(10)、偏移(11)、漏印(12)、多印(13)、
模糊(14)、倾斜(15)、位移(16)、断字(17)、双层印(18)、无字模(19)共 10 项检测内容。
管脚检测的内容包括(括号内数字为检测编号):管脚缺失(20)、管脚破损(21)、管脚间距(22)、
管脚宽度(23)、管脚弯曲度(24)、管脚跨距(25)、管脚长度差异(26)、管脚站立高(27)、管脚共面
度(28)、管脚倾斜(29)共 10 项检测内容。
注:第(27)、(28)项未检测。 

 

 

 

 

 

02 优势对比

 

 

 

 

03 涉及视觉算法

04 注意事项

05 系统方案

详细请参考csdn链接:http://blog.csdn.net/dlphay/article/details/71191600

 

06 系统模块

NON_RETURN INIT_CAMERA_WINDOW(Hlong lWWindowID);
NON_RETURN INIT_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_NCC_MODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_FIND_OBJECT_YES_OR_NO(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CONFIRM_OBJECT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_CHAR_AND_LOGO(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_FONT_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_BACKUP_DATA_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CALCULATE_RESULT_OF_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_RESULT_OF_ALL(NON_FLAG);
NON_RETURN CLOSE_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN GET_CROP_IMAGE_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_CORE_PRE_PROCESSING(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_ORDER_SELECTED_REGION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_DO_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_OCR_RESULT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_CAMERA_WINDOW(Hlong lWWindowID);
NON_RETURN INIT_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_NCC_MODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_FIND_OBJECT_YES_OR_NO(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CONFIRM_OBJECT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_CHAR_AND_LOGO(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_FONT_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_BACKUP_DATA_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CALCULATE_RESULT_OF_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_RESULT_OF_ALL(NON_FLAG);
NON_RETURN CLOSE_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN GET_CROP_IMAGE_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_CORE_PRE_PROCESSING(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_ORDER_SELECTED_REGION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_DO_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_OCR_RESULT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA_CAPSULE(NON_FLAG);

07 流程图


 

08结果展示


 

 

 

 

  • 38
    点赞
  • 176
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 27
    评论
yolov7芯片是一种用于目标检测的神经网络模型,而打标签是指给目标检测数据集中的每个图像标注出目标位置和类别的过程。 yolov7芯片的缺陷数据集打标签是指将缺陷数据集中的每个图像中存在的缺陷进行标注。首先,需要对每个图像进行分析和理解,并确定其中存在的各类缺陷。然后,针对每个缺陷,需要标注其位置和类别。标注位置通常采用矩形框的方式,将缺陷的边界框出来,以指示其具体位置。标注类别则需要将每个缺陷归类,例如分类为裂纹、断裂、变形等不同的缺陷类别。 进行缺陷数据集打标签时需要遵循一些准则和步骤。首先,需要对数据集进行预处理,包括图像的缩放、剪裁等操作,以符合yolov7芯片的输入要求。然后,通过可视化工具或者特定的软件平台,对每个图像逐个进行标注。在标注过程中,要准确判断缺陷的类型,尽可能精确地标注缺陷的位置和形状。 另外,要确保打标签过程的质量和准确性,可以通过多人协作,相互审核和纠正标签结果,以减少误差和提高准确率。此外,打标签过程中还可以记录和保存其他相关信息,如图像的名称、缺陷的描述等。 总的来说,yolov7芯片缺陷数据集的打标签是一项重要的任务,可以帮助提高yolov7芯片缺陷检测方面的性能和准确。通过准确标注缺陷的位置和类别,可以为模型提供有价值且高质量的训练数据,从而提升其在实际应用中的效果。同时,打标签过程也需要耗费大量的时间和精力,因此需要进行有效的组织和管理,以确保标注的效率和一致性。

“相关推荐”对你有帮助么?

  • 非常没帮助
  • 没帮助
  • 一般
  • 有帮助
  • 非常有帮助
提交
评论 27
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值