地面能躲过辐射吗？人可以，但芯片不行

芯片等级比较庞杂，从与日常生活紧密相关的消费级、工业级、车规级，到听起来很“高大上”的宇航级，各类芯片划分除了温度要求不同以外，有些芯片还有抗辐照要求。比如太空中的电子元件就容易受到宇宙高能粒子（地球辐射带粒子，太阳射线和宇宙射线）的攻击，从而导致器件失效，失效原因可能是单粒子效应，也可能是总剂量效应。一般来说，总剂量效应在太空环境出现比较多，单粒子效应却不然。

先说说单粒子效应：不同的单粒子效应将导致芯片出现发生软错误（SEU单粒子翻转/SET单粒子瞬态脉冲响应）或者硬故障（SEB单粒子烧毁）。对于一般CMOS工艺为主的器件，容易受到SEU/SET的影响，两者所导致的结果可以简单地统称为逻辑电平翻转，比如原来运行结果为“0”变为“1”导致功能错误。对于功率器件，特别是高压IGBT器件，则容易受到SEB的影响，且该损伤往往不可逆，直观现象就是器件烧毁。

为何要提到软错误或者硬故障呢？

因为除了太空环境以外，地面环境（如海平面高度等）也会由于单粒子效应导致器件出现该类故障。实际上，带电粒子进入大气层后，绝大部分都被吸收，能够到达地面的主要是中子，中子效应（单粒子效应之一）正是导致地面器件出现SEU/SET/SEB的主要原因，这在很多论文研究中都有提到。