集成电路AEC-Q100认证

AEC(Automotive Electronics Council)——汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。

AEC Q100是基于失效机理的集成电路应力测试鉴定，由AEC委员会制定，适用于车用 IC 芯片的综合可靠性测试认证标准，是芯片产品应用于汽车领域的基本门槛。首版于1995年发行，并持续更新到2014年的 H 版本，也是目前沿用的标准。AEC Q100标准是芯片产品（依产品类型、封装形貌及取样数量的要求）执行并通过的必要测试项目。

适用产品：单颗IC，如MCU芯片、MPU芯片、存储类芯片、计算类芯片、安全类芯片、LED类驱动芯片、电源芯片、运算放大器、比较器、感知用模拟芯片、通信类芯片等

零件工作温度等级的定义

零件工作温度等级定义如下：

0 等级：环境工作温度范围-40℃-150℃

1 等级：环境工作温度范围-40℃-125℃

2 等级：环境工作温度范围-40℃-105℃

3 等级：环境工作温度范围-40℃-85℃

AEC-Q100规范 7大类别共41项的测试

群组A--加速环境应力测试(PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL)共6项测试

群组B--加速生命周期模拟测试(HTOL、ELFR、EDR)--共3项测试

群组C--封装组装完整性测试(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6项测试

群组D--芯片制造可靠性测试(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5项测试

群组E--电性验证测试(TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、EMC、SC、SER)--共11项测试