用阿贝判据研究显微系统的分辨率

本文通过实例探讨了数值孔径(NA)如何影响光栅在显微系统中的分辨率,使用VirtualLabFusion进行系统构建和不同NA条件下光线/场追迹模拟,展示NA对光栅成像效果及分辨率的关键作用。

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摘要
 

显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。

 


 

1. 案例
 

  

在VirtualLab Fusion中构建系统
 

1. 系统构建模块
 

2. 组件连接器


几何光学仿真
 

以光线追迹
 

1. 结果:光线追迹


快速物理光学仿真
 

以场追迹
 

1. NA=1.4时的光栅成像 
 

2.  NA=0.75时的光栅成像 

  

3. NA=0.5时的光栅成像 

  


 

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