AFM技术原理及相关测试模式

AFM原子力显微镜的原理

AFM全称Atomic Force Microscope，此前STM由于原理的限制只能测导体和部分半导，AFM原子力显微镜出来后弥补了STM的不足。AFM是在STM的基础上发展起来的。

STM

STM利用量子理论中的隧道效应，当样品与针尖的距离非常接近时在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。隧道电流强度对针尖与样品表面之间距非常敏感，距离越小隧道电流将增加，所以利用电子反馈线路控制隧道电流的恒定，并控制针尖在样品表面的扫描，则探针高低的变化就反映出了样品表面的起伏。

AFM

利用原子间的范德华力作用，来呈现样品的表面特性。当原子间距离减小到一定程度以后，原子间的作用力将迅速上升。将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力。因此，由显微探针受力在垂直于样品的表面方向起伏运动的大小就可以直接换算出样品表面的高度，获得样品表面形貌的信息，过程中我们可以恒定力量也可以恒定高度。

AFM的常用三种模式如何选择？

接触模式

接触模式探针尖端和样品做“柔性接触”，接触力引起悬臂弯曲进而得到表面图像，但是可能使样品表面弯曲，长时间后针尖有钝化现象影响图像质量出现误判，接触模式可以产生稳定的、分辨率高的图像。但是由于接触所以容易变形、移动的样品不适合。