《每日一题》NO.31：谈谈对Mbist的理解

最新推荐文章于 2024-05-01 15:07:37 发布
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文章标签： 面试 职场和发展 芯片
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芯司机《 每日一题》会每天更新一道IC面试笔试题（其中有些题目已经被很多企业参考采用了哦），聪明的你快来挑战一下吧！

今天是第31题

对mbist的理解，如果去应聘DFT工程师，必然会问到此题。

本次老司机从Sram的结构，为什么要进行测试，如何测试等方面来详细讲解下mbist的由来。

快来解题吧~

今天的题就是这样啦，开始解题吧~

公布答案！

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搞DDR必懂的关键技术笔记：MBIST、BIRA与BISR | 算法与自修复机制深入解析
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
08-12 501
开始之前，先解释一下标题的几个名词。：是确保计算机内存（如DRAM、SRAM等）在制造、集成到系统后以及使用过程中能够正确无误地存储和检索数据的过程。内存测试对于保证系统稳定性和可靠性至关重要。：是一种在芯片内部实现的测试机制，用于在芯片上电或复位时自动检测内存故障。MBIST通过生成测试向量（test patterns），将这些向量写入内存，然后读取并验证结果来检测内存错误。它大大减少了对外部测试设备的需求，提高了测试效率和覆盖率。
mbist_guide
01-08
在大规模集成电路时代，如何对memory进行测试，这篇文档有详细描述
deglitch 技术_面向前端设计的DFT基础介绍（一）——MBIST存储器内建自测试-阿里云开发者社区...
weixin_36480423的博客
12-23 4287
前言——芯片由MPW试产进入量产阶段的时候，DFT可测性设计是前后端设计者都无法绕过的必修课。DFT的设计，既属于芯片功能设计的范畴，又对后端的设计流程有显性的影响。前端设计者需要理解：DFT可测性设计都做些什么？是如何实现存储器、IO和逻辑的测试的？DFT系统是如何搭建的？DFT的IP如何与我的RTL设计配合？后端设计者则需要理解：DFT的IP对面积和时序有怎样的影响？DFT mode的时钟树如...
DFT学习笔记 -ijtag下的mbist电路
tfrofc的博客
09-18 5549
先简单介绍一下mbist的基本流程，为后面的细节学习做个指导：当测试控制模块接收到开始测试的指令后，首先会切换存储器的输入输出到测试模式（Memory有自己的Test Mode），同时启动硬件向量生成模块开始产生和给出测试激励，同时计算存储器的输出期待值。存储器接收到测试向量之后，会间隔执行写/读/使能的操作，遍历测试所有地址下每个bit单元的写/读功能。最后，通过Q端输出的读取值，会与测试控制模块计算的期待值进行比较，是否正确的结果反馈到测试控制模块。
Memory的可测试性设计Mbist
xiaozhujulia的专栏
05-22 5936
随着半导体工艺尺寸不断缩小，IC设计的规模越来越大，高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小，嵌入式存储器可能存在的缺陷类型越来越多；另一方面，随着IC产品的复杂度的提高，ROM、RAM、EEPROM在IC产品中的比重越来越大。 嵌入式存储器的可测试设计技术包括直接测试、用嵌入式CPU进行测试和内建自测试技术(
March C算法
热门推荐
Ronnie_Hu的博客
07-22 2万+
March C算法是目前应用最为广泛的MBIST（Memory Built-In-Self-Test，存储器内建自测试）算法。
MBIST/paper
limanjihe的专栏
03-11 1042
MBIST总结嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究存储器测试算法与实现SOC可测试性设计与测试技术Mentor_mbist学习总结 mbist问题解决报告
EDA（二）DFT之MBIST
最新发布
yuzhouzhandiao的博客
05-01 970
MBIST 是一种有效的存储器自检测技术，它通过减少对外部测试设备的依赖，提高了生产效率并降低了成本。然而，设计者需要仔细考虑测试算法的选择和测试覆盖率，以确保存储器的可靠性。MBIST（Memory Built-In Self-Test，内置存储器自检测）是一种用于检测半导体存储器（如 RAM）中制造缺陷和操作故障的技术。它允许存储器在没有外部测试设备的情况下进行自我测试，从而提高了生产效率并降低了成本。MBIST 的核心思想是利用存储器内部的逻辑电路来执行测试，而不需要外部的测试设备。
mbist guide
11-07
mentor的mbistarchitect工具的guide文档
MBIST总结
zya1314125的博客
09-19 3415
MBIST总结
MBIST_March_C_算法论文合集.zip
08-20
包含了 一种Mbist新型算法March_3CL的设计_陈之超.caj 一种基于LFSR与MARCH_C_算法的SRAM内建自测电路设计_焦慧芳.caj 一种基于SRAM内建自测试的改进型March算法设计与验证_王振宇.caj 内建自测试march算法的优化研究_李大龙.caj 基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究_邓一峰.caj 基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究_徐金荣.caj 基于March_C_改进算法的MBIST设计_申志飞.caj 基于March_C_算法的MBIST设计_邓吉建.caj 基于March_C_算法的Memory_BIST设计与实现_翟明静.caj 基于March_C_算法的RAM内建自测试设计_刘兴辉.caj 基于March_C_算法的SRAM_BIST设计_张志超.caj 基于March_C_算法的单片机存储器测试_于文考.caj 基于March_C_算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真_翟明静.caj 基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证_郭明朝.caj 存储器测试算法研究与应用实现_汤志.caj 嵌入式SRAM内建自测试的测试实现_许正义.caj 改进型March算法在内存异常检测中的应用.pdf 改进型March算法在内存异常检测中的应用_曾慧.caj 片上SRAM内建自测试的实现方法_马琪.caj 静态随机存取存储器内建自测试电路的研究与设计_汪坤.caj
内存内置自检 (MBIST) 的实施和验证 – 调查-研究论文
06-10
本文提供了内存内置自检 (MBIST) 中涉及的实施和验证的调查。 本文包含了内存内置自检 (MBIST) 的实施和验证所涉及的各种策略。 MBIST（内存内置自检）为测试此类大内存提供了有效的解决方案。 功能性 MBIST 的验证是任何 SoC 设计周期中必不可少的部分，因为它使设计人员能够预先检测与 MBIST 相关的任何问题。 MBIST 的优点是测试程序简单，可以运行不同的算法，降低测试成本，可以在内存上运行用户定义的算法。
mbist.zip_mbist_mentor mbist_mentor mbist 工具
07-15
mentor mbist architecture 自动化脚本
《每日一题》NO.32：谈谈对March C算法的理解
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01-28 3362
每日一题，快来解答吧~
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12-30 1382
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Eecourse的博客
12-22 1403
每日一题，快来解答吧~
mbist summary
weixin_30838921的博客
01-20 1051
1. 关于mbist，网上也有介绍，觉得不错: 推荐的mbistt的博客：奋斗的猪 2.使用的工具是mbistarchitect,不是tessent。 3.工具使用的相关文档：从EETOP和工具自带的HELP文档。 4.RISK的地方有几点： 4.1 手写lib文件。 read/write cycle 跟memory时序有关。一般read 2个cycles / wr...
【芯片设计- RTL 数字逻辑设计入门 番外篇 8 -- MBIST 详细介绍】
CodingCos的博客
01-30 2236
测试后，MBIST生成的报告可以用来进一步分析，或在系统的自检步骤中作为基础信息。测试模式可能非常多样，包括基本的数据模式测试，如行交替（行stripe）、列交替（列stripe）、行列交替（checkerboard）等，也包括更复杂的算法，如伪随机数序列测试或者马太效应（March）测试等。Memory在芯片中占据很大面积，对芯片良率有重要影响，为了避免memory低良对芯片的影响，通常添加冗余或备用的存储单元行和列，及时将测试中的故障进行修复和替换，修复过程包括行修复、列修复或两者的组合。
3.Tessent MBIST中常用的library
04-04
以下是Tessent MBIST中常用的library： 1. TLIB: 用于测试逻辑电路和存储器，包括SRAM、DRAM、Flash等。 2. HLIB: 用于测试高速序列接口，如PCI Express、Serial ATA、USB等。 3. PLIB: 用于测试功耗逻辑电路和存储器，可以用于功耗测试、故障定位等。 4. DLIB: 用于测试数字电路和存储器，包括FPGA、ASIC等。 5. ALIB: 用于测试模拟电路和存储器，包括模拟混合信号电路、RF电路等。 6. ELIB: 用于测试电磁兼容性（EMC）和电磁干扰（EMI）。 7. QLIB: 用于测试量子电路和存储器。 8. CLIB: 用于测试时钟电路和存储器，可以用于时钟测试、时钟偏差测试等。 9. VLIB: 用于测试视频电路和存储器，可以用于视频信号测试、图像处理测试等。 10. GRLIB: 用于测试通用寄存器和存储器，可以用于通用寄存器测试、故障定位等。
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