《每日一题》NO.31：谈谈对Mbist的理解

芯司机《 每日一题》会每天更新一道IC面试笔试题（其中有些题目已经被很多企业参考采用了哦），聪明的你快来挑战一下吧！

今天是第31题

对mbist的理解，如果去应聘DFT工程师，必然会问到此题。

本次老司机从Sram的结构，为什么要进行测试，如何测试等方面来详细讲解下mbist的由来。

快来解题吧~

今天的题就是这样啦，开始解题吧~

公布答案！

如解说中所说：

Sram由存储矩阵、地址译码逻辑和读写控制电路组成。SoC芯片中会使用很多的Sram，芯片在加工过程中会出现各种故障，所以对Sram测试是芯片量产所必须的。然，How to test？

1，ATE，要实现复杂的算法可能有点难为机器哦，再加上芯片的IO有限，测试更是难上加难；

2，CPU 测试，且不说CPU不能全部访问片上的Sram，大量的软件消耗也是无法忍受的；

3，mbist，额外的测试逻辑，可以实现高质量、低成本的测试，同时可以进行At-speed 测试。

Mbist电路由FSM实现，分为控制逻辑、pattern产生和check逻辑。最流行的算法是march C，后续真题会详细展开。

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