搞DDR必懂的关键技术笔记：MBIST、BIRA与BISR | 算法与自修复机制深入解析

开始之前，先解释一下标题的几个名词。

• Memory Testing（内存测试）：是确保计算机内存（如DRAM、SRAM等）在制造、集成到系统后以及使用过程中能够正确无误地存储和检索数据的过程。内存测试对于保证系统稳定性和可靠性至关重要。

• MBIST（Memory Built-In Self-Test，内存内置自测试）：是一种在芯片内部实现的测试机制，用于在芯片上电或复位时自动检测内存故障。MBIST通过生成测试向量（test patterns），将这些向量写入内存，然后读取并验证结果来检测内存错误。它大大减少了对外部测试设备的需求，提高了测试效率和覆盖率。

• BIRA（Built-In Redundancy Analysis，内置冗余分析）：虽然“BIRA”不是一个广泛认知的术语，但在此上下文中，我们可以将其理解为一种机制，该机制用于分析内存系统中内置的冗余资源（如额外的存储单元或修复逻辑），以确定哪些资源可用于修复检测到的故障。这种分析是内存自修复机制（如BISR）的前提。