硬件基础（4）：（11）ADC采样方式：单端采样和差分采样

在 ADC 采样方式中，“单端采样”与“差分采样”是两种常见的测量模式，差异主要体现在测量信号的参考点和抗干扰特性上。以下从原理、特点和应用场景几个方面详细介绍它们的区别与适用性。

---

1. 单端采样

1. 定义
   • 单端采样（Single-Ended Input）是指将测量信号的“正端”与 ADC 输入相连，而“负端”与地 (GND) 相连。也就是说，ADC 只关心信号与地之间的电压差。
2. 特点
   • 结构简单：硬件接线和软件处理都相对容易。
   • 常见于绝大多数 MCU：很多通用 ADC 或 MCU 内置 ADC 都只支持单端模式。
   • 共模干扰抑制能力较弱：由于只测相对于地的电压，若地线存在噪声或者信号与地之间存在共模干扰，测量值容易受到干扰。
   • 适合低成本、普通精度应用：如一般的电池电压检测、传感器输出已放大到相对地的信号等等。
3. 典型应用
   • MCU 采集传感器输出电压（例如 0～3.3V），传感器已将信号参考地输出。
   • 读取电位器、按键电压分压等简单测量场景。

---

2. 差分采样

1. 定义
   • 差分采样（Differential Input）是指 ADC 同时采集两个输入端（通常称为 V