基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

思路：
       注意题中说的“好芯片比坏芯片多”，所以对于每个芯片，可以记录其他行的芯片对该芯片的“投票”，由于好芯片多，所以投票结果是right > wrong，则该芯片为好，否则为坏。

#include<cstdio>
#include<iostream>
#include<cstring>
#define fr(a,b) for(int a=0;a<b;a++)
#define set(a,b) memset(a,b,sizeof(a))
using namespace std;

int main()
{
	int n;
	scanf("%d",&n);
	int a[25][25];
	for (int i = 0; i < n; i++)
	{
		for (int j = 0; j < n; j++)
		{
			scanf("%d", &a[i][j]);
		}
	}
	int r[25], w[25];
	set(r, 0);
	set(w, 0);
	for(int i = 0; i < n; i++)
	{
		for(int j = 0; j < n; j++)
		{
			if(a[j][i]==0)
				w[i]++;
			else
				r[i]++;
		}
	}
	for(int i = 0; i < n; i++)
	{ 
		if(r[i] > w[i])
			printf("%d ",i+1);
	} 
	printf("\n");
}