EEPROM与内存Flash消耗能量计算

本文分析了EEPROM和内存Flash在非易失性存储操作中的能量消耗,重点关注写入过程。待机电流、写入时间和电流等因素影响了两者能耗。尽管MCU活动时间延长导致能耗增加,但在低占空比系统中影响不显著。快速写入和功率门控是降低能耗的关键策略。
摘要由CSDN通过智能技术生成

本篇文章要介绍的是非易失性存储器EEPROM与内存Flash消耗能量计算。

首先,我们来看看非易失性存储器在典型的3.3V EEPROM写入过程中所消耗的能量待机电流为1μA,写入时间为5 ms,写入电流为3 mA(表1)。我们假设:一旦VDD上升到工作限制内(上电时间),EEPROM就准备开始工作零)。

在这里插入图片描述

•写入的数据量适合一页,并且使用块写入功能进行写入。

•EEPROM的写入时间仅是执行EEPROM的写入操作所需的时间,因此我们忽略MCU和SPI接口的任何处理和通信时间。(这个假设是相反的用于MRAM的; MRAM只需要通信时间,因为写入时间很短,因此它可以被视为零。)

•EEPROM直接由微控制器I / O供电,并使用一个小的(0.1μF)去耦电容。

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内存Flash消耗的能量
内存Flash具有更高的写入和待机电流,因此我们将使用50μA的待机电流(写入时间)在我们的评估中为3 ms,写入电流为15 mA࿰

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