晶振测试设备、晶体测试仪、无源晶振测试常用仪器

SYN5305型晶振测试仪

SYN5305型晶振测试仪集合有源和无源晶振测试,多种贴片和直插封装,1.8V/2.5V/3.3V/5V等多种晶振供电电压,涵盖大多数电子产品晶体测试,广泛应用于邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业对于晶振的验证或筛选。晶振测试设备、晶体测试仪、无源晶振测试常用仪器

产品特点

  1. 高度集成,精度高;
  2. 稳定性好,性能可靠;
  3. 7寸触摸屏设计,操作简单。

典型应用

  1. 通信设备、汽车电子设备、医疗电子、安防电子、工业自动化设备等生产商,对于提供基准频率的晶振进行验证或筛选。

产品功能

  1. PPM测量,上下限测量;
  2. 频率测量范围高达6GHz;
  3. 频率测量分辨率高达12位/s;
  4. 多种晶振测试工装,满足常规测试应用
  5. 晶振测试设备、晶体测试仪、无源晶振测试常用仪器

晶振是有源晶振的简称,又叫振荡器。英文名称是oscillator。

晶体则是无源晶振的简称,也叫谐振器。英文名称是crystal,电路上简称为XTAL。

无源晶振(晶体):需要借助时钟电路才能产生振荡信号。

有源晶振(晶振):内部有时钟电路,只需供电便可产生振荡信号。

有源晶振内部是包含了一个无源晶振,然后再将阻容、放大等电路也包含进去。

标称频率(Normal Frequency) F0:电路设计上所需的实际频率。

振动模式(Mode of Oscillation):按照切割工艺来划分的。

负载电容(Load Capacitance)CL:在电路中跨接晶振两端总的外界有效电容;要等于或接近晶振数据手册给出的数值才能使晶振按照预期工作;比较通常使用的24MHz晶振负载电容是20pF;

静态电容C0:以石英晶片为介电材料和两个电极之间的电容;很多晶振规格里是<3pF的;

技术指标

频率范围

通道1

通道2(选件)

1mHz~350MHz

通道3(选件)

3GHz、6GHz(选件)

阻抗耦合

通道1,通道2

50Ω/1MΩ, AC

通道3

50Ω, AC

最高分辨率

12位/1s

最小输入灵敏度

25mVrms

最大输入电平

+20dBm

闸门时间

1ms~100000s,步进1μs

测量功能

频率、周期、输入功率最大值/最小值/峰峰值,PPM测量,上下限测量

统计功能

平均值、标准偏差、频率偏差、最大值、最小值、峰峰值、阿仑方差,趋势图和直方图

功率测量范围

-50dBm~+20dBm

功率测量精度

±2dBm

晶振测试工装

频率范围

(可选其它频点)

20kHz~50MHz (无源)

DC~350MHz (有源)

匹配电容

5pF~20pF

可测封装

(可选其它封装)

5032(2P/4P)/3215(2P)/3225(4P)/2550(4P)/DIP直插

内部晶振供电

1.8V/2.5V/3.3V/5V

外部晶振供电

其它直流电压0~50V

工装工作电压

DC12V

内部时基

输出频率

10MHz

恒温晶振

(可选更高时基)

开机特性≤1E-8

频率准确度≤3E-8(出厂设置)

老化率≤5E-10/日,老化率≤5E-8/年

秒稳定度≤3E-11/s

外部参考输入

输入频率

10MHz

电平

0dBm~20dBm

物理接口

BNC

数据通信

USB通信、DB9串口通信、RJ45网络通信

环境特性

工作温度

0℃~+50℃

相对湿度

≤90%(40℃)

存储温度

-30℃~+70℃

供电电源

交流 220V±10%, 50Hz±5%,功率小于15W

机箱尺寸

便携式机箱(上机架)320mm(宽)x280(深)x140mm(高)

选件

根据客户要求定做类似产品。

总频差:在规定的时间内,由于规定的工作和非工作参数全部组合而引起的晶体振荡

  器频率与给定标称频率的最大频差。

  说明:总频差包括频率温度稳定度、频率温度准确度、频率老化率、频率电源电压

  定度和频率负载稳定度共同造成的最大频差。一般只在对短期频率稳定度关心,而对其他频

  率稳定度指标不严格要求的场合采用。例如:精密制导雷达。

⒉ 频率温度稳定度:在标称电源和负载下,工作在规定温度范围内的不带隐含基准温度

  或带隐含基准温度的最大允许频偏。

fT=±(fmax-fmin)/(fmax+fmin)

fTref =±MAX[|(fmax-fref)/fref|,|(fmin-fref)/fref|]

fT:频率温度稳定度(不带隐含基准温度)

fTref:频率温度稳定度(带隐含基准温度)

fmax :规定温度范围内测得的最高频率

fmin:规定温度范围内测得的最低频率

fref:规定基准温度测得的频率

  说明:采用fTref指标的晶体振荡器其生产难度要高于采用fT指标的晶体振荡器,故

fTref指标的晶体振荡器售价较高。

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