新测试程序调试或新产品导入初期,对测试datalog进行分析,直接查看CSV//excel log难以发觉各个芯片参数在整平wafer上的分布情况。
此时将其转换成mapping格式则能直观看出来wafer边缘等的分布规律,或者by site等。
待续
新测试程序调试或新产品导入初期,对测试datalog进行分析,直接查看CSV//excel log难以发觉各个芯片参数在整平wafer上的分布情况。
此时将其转换成mapping格式则能直观看出来wafer边缘等的分布规律,或者by site等。
待续