一、总线标准
- USB1.1:支持12Mbps全速率(FullSpeed)和1.5Mbps低速率( HalfSpeed)
- USB2.0:支持480Mbps高速率(High Speed),兼容1.1
- USB3.0:支持5Gbps超高速率(超速传输),兼容2.0
二、硬件结构
- USB2.0 物理层为 4 根线,差分线:D+、D- 电源线:VCC、GND
- USB2.0工作模式分为低速(1.5Mb/s)、全速(12Mb/s)、高速(480Mb/s);
低速和全速是电压驱动型,高速是电流驱动型;
在低速或全速模式下,当接收端检测 D+ — D- > 200mV时,表示差分信号“1”;当 D- — D+ > 200mV时,表示差分信号“0”;
在高速模式下,当接收端检测 D+ — D- > 360mV时,表示差分信号“1”;当 D- — D+ > 360mV时,表示差分信号“0”; -
usb低速设备,D- 端口上拉 1.5K电阻至 VCC,空闲状态(D+、D-)显示为01;
usb全速设备,D+ 端口上拉 1.5K电阻至 VCC,空闲状态(D+、D-)显示为10;
当USB主机与USB设备连接后,因为上拉电阻的存在,D+或D-的电压会上拉到3V3,USB主机根据哪根差分线有上拉电阻判断接入USB设备的类型。USB2.0定义了两种差分信号状态,J 状态和 K 状态。低速模式下,J 对应差分信号0,K 对应差分信号1;全速和高速模式下,J 对应差分信号1,K 对应差分信号0。
在高速模式下,存在两种特殊信号:Chirp J 和 Chirp K
Chirp J 和 Chirp K 状态只出现在高速模式的速度检测握手协议中,即设备从全速识别为高速设备的状态转换过程中。 - Chirp J / K(⭐)
高速模式是电流驱动,其 J / K 信号是由一个 17.78uA 的电流源 流向 D+ 和 D- 数据线产生,
当 USB主机进入高速模式后,主机和设备两端都会挂载 45Ω 的等效终端电阻(这两个电阻并联之后为约为22.5Ω),并会断开 D+ 数据线上的 1.5K 上拉电阻,因而可以在D+ 或者D- 数据线上形成约为 400mV (17.78x22.5)的高速 J / K 信号。
高速设备在连接到 USB主机时默认为全速模式,因而此时USB设备端还未挂接 45Ω 终端电阻,而是挂载了1.5K的上拉电阻,此时USB设备端的1.5K上拉电阻和主机端的 45Ω 并联后约45Ω,因此会在 D+ 和 D- 上会形成 800mV(17.78x45)的差分信号
三、握手过程
- usb设备接入USB主机后,usb设备检测到 VBUS 电源后就会挂载上拉1.5K电阻;
usb设备检测到 D+或者D-上有高电平产生,便认为已接入主机
USB主机检测到D+或D-上电压从0V变化到2V以上,便确定usb设备已经连接主机
USB主机确认usb设备连接后,发出一个复位信号,使设备进入初始状态(SE0状态)
复位信号(SE0状态)持续时间在10ms以上,在此时间内,系统完成整个高速握手协议 -
usb设备检测到复位信号后,在 ≥2.5us且≤3ms 的时间内开始发起高速握手协议,确保本身1.5K的上拉电阻已经挂载,且45R 的等效对地电阻没有挂载,之后usb设备端向 D- 流入17.78mA的电流,然后USB主机端的45R 的等效对地电阻和下拉电阻15K 并联,总线上产生一个大约为800mV的电压,持续至少1ms,这就是Chirp K 信号,信号结束后,USB主机恢复SE0 状态
-
USB主机检测到信号变化,便认为usb设备的Chirp K 信号结束
如果主机检测到Chirp K 的信号没有持续2.5us以上,则认为检测不到,并会一直驱动总线为SE0 状态 直至复位信号结束,高速信号握手协议结束,主机和设备都会工作在全速模式。
如果主机检测到Chirp K 信号持续2.5us以上,则认为是有效状态,开始发送 交替变换的Chirp K/J 序列,发送的时间必须是在Chirp K信号结束后的100us内,每个单独发送的Chirp K和Chirp J状态都必须是连续的且持续时间是40~60us,如果中间USB总线持续3ms没有任何的状态,设备就会进入挂起模式,Chirp K/J信号需要持续发送直到复位信号结束前的100us~500us为止。主机端完成了K/J信号发送,设备端检测到三对K/J信号后,在500us内,将D+上的1.5K的电阻移除,并挂载高速的45R 的等效对地电阻,进入高速模式,此时与主机的45R并联等效电阻变成了22.5R,D+ 和D- 的电压变成400mV。
四、眼图测量
- 眼图定义:眼图是通过对数据的电气测量,用于评估高速信号的质量以及发送端和接收端的性能。
源端驱动器的测量要更靠近示波器,以此来保证发送端测量的准确性;终端接收器,要保证信号采样的准确性,比如采样区域重叠,探头误差等 - 眼图测量也叫“信号质量测试”:
a. 高电平 VH 和低电平 VL 表征眼高 Eye Height,眼高不够,一般是信号源端的驱动能力不足或链路的损耗过大造成的;
b. 交叉 Cross-Over 部分可以展示位转换时的抖动 Jitter,一般为眼图最宽的地方;眼图张开的宽度决定了接收波形可以不受干扰而抽样再生的时间间隔;
c. 眼图的斜率表示系统对定时抖动(或误差)的灵敏度,斜率越大,系统对定时抖动越灵敏;
d. 眼图左(右)角阴影部分的水平宽度表示信号零点的变化范围,称为零点失真量;
e.横轴对应判决门限电平 - USB眼图 是利用示波器余辉方式累积叠加显示采集到串行信号的比特的结果,通过眼图,可以判断数据相关的故障原因,如传输数据包丢失、误码、接收端的端接错误等。USB 2.0 眼图模板一般采用两种方案:近端( Near End)和 远端( Far End)。
若待测 USB 端口通过小于 10cm 的线缆与测试夹具相连,则采用 Near End眼图模板1;
若待测 USB 端口通过大于 10cm 的线缆与测试夹具相连,则采用 Far End 眼图模板2。
下图为高速USB 2.0眼图,所示为模板1