PS:给出关键结论,以便复习。具体思路还得看书。
若un=350*10^(-4),,
(介电常数*8.854*10e-12) / tox,SIO2介电常数=3.9 用这个公式,工艺不同tox不同,一般sansen认为 tox=Lmin/50 但是也不尽然 |
一、共源级(G输入,D输出)
共源级作用:借助于自身的跨导,MOS 管可以将栅-源电压的变化转换成小信号漏极电流,小信号漏电流流过电阻就会产生输出电压。
Vgs→Id→Vout
1.1 采用电阻做负载的共源级
特点:电路的输入阻抗在低频时非常高。
Av=-gm*RD
(考虑了沟道长度调制效应)
1.1.1讨论如何使共源级的增益达到最大值
①提高W/L,较大的器件尺寸会导致较大的器件电容;
②增大,较高的
会限制最大电压摆幅;
③减少,由于
导致RD增大。输出结点的时间常数
增大。
综上,需要在增益、带宽和电压摆幅之间进行折中。
1.1.2本征增益
这个量代表用单个器件能够得到的最大电压增益。短沟道器件的Av大约在5-10。
1.2采用二极管连接型器件作负载的共源级
特点:把晶体管的栅极和漏极短接,这个 MOS 器件可以起一个小信号电阻的作用。
(
)
(
)
1.2.1采用PMOS二极管连接型器件做负载的共源级
优点:如果忽略
随输出电压的变化,增益和偏置电压或电流没有关系(只要 MOS 管工作在饱和区)。也就是说,当输入和输出电平发生变化时,增益相对保持不变,这表明输入-输出特性呈线性。
缺点:①高增益除了会造成晶体管的图形不均衡(太宽或太长,从而导致大的输入或者负载电容)
②允许的输出电压摆幅的减小(Vgs2会相应增大,导致Vout=VDD-Vgs2 减小)。
摆幅同时受所需的过驱动电压和闽值电压两方面的约束。也就是说,即使过驱动电压很小,输出电平也不会超过 VDD-|VTH|
1.3采用电流源作负载的共源级
有时要求单级有很大的电压增益,根据Av=-gm*RD,我们可以增大共源级的负载电阻。但是对于电阻或者二极管连接的负载而言,增大阻值会消耗直流压降,从而限制输出电压的摆幅。
一个更切实可行的方法是用不服从欧姆定律的器件,如电流源代替负载。
特点:增加M2的沟道宽度,就可以使电压|VDS2,min=VGS2-VTH2|减小到几百毫伏。如果 ro不够大,在保持相同的过驱动电压的同时增大 M2的长和宽可以获得比较小的。代价是 M2在输出结点引人了大的电容。
长沟道器件可以产生高的电压增益。
缺点:电流源负载共源级的输出摆幅较小:
优点:但若增加L,它总能得到较高的增益 。
1.4有源负载的共源级(互补共源级)
特点:将M2的栅极也作为输入端,产生了更高的增益。
缺点:①两个晶体管的偏置电流是PVT的强函数,VDD或者阈值电压的变化会直接转换为它们的漏电流的变化;
②电路会放大电源电压的变化电源噪声。
1.5工作在线性区的MOS为负载的共源级
特点:可作为电阻
缺点:
优点:
1.6带源级负反馈的共源级
特点:在一些应用中,由于漏电流与过驱动电压之间的非线性关系引入大量的非线性,因此,人
们希望“软化”器件的这种非线性关系。
优点:①在晶体管的源端串联一个“负反馈”电阻,以使输入器件更加线性。
②增大共源级的输出阻抗。
缺点:牺牲增益和高的噪声。
1.6.1GM和Av
考虑体效应和沟道长度调制效应后,
1.6.2输出阻抗
如果加了负载RD后,
以上式子得到原因
1.7共源级总结
采用电阻作负载 | 将Vgs转换为ID,然后在利用电阻转化为Vout输出 |
采用二极管连接型器件作负载 | 负载用MOS管(饱和区)作为电阻 |
采用电流源作负载 | 提供较大增益 |
有源负载 | 提供比“采用电流源作负载”更大的增益,缺点也更明显 |
工作在深线性区的MOS为负载 | 作为电阻,缺点很多 |
带源级负反馈 | 使得Vgs-ID关系更线性化,增大输出阻抗。增益不太高,噪声大 |
1.8观察法看出增益公式
1.9辅助定理
Av=-Gm*Rout
可根据(3.61)确定Gm,(3.66)确定Rout
例题
二、源跟随器(G输入,S输出)
预期目标,Vout随着Vin线性变化。
2.1负载为电阻Rs
Vgs=Vin-Vout
但是Vgs随Id影响大,Vgs会变化导致Vout随着Vin非线性变化。以下为原因:
2.1.1Av原理分析:
2.1.2计算Rout
2.1.3戴维南等效电路后算Av(仅对源跟随器的算法)
加了负载RL后,并且考虑沟道长度调节效应
例题
2.2负载为工作在饱和区的电流源代替电阻
目的:让Id保持相对稳定,使得Vgs=Vin-Vout,中的Vgs保持相对不变。
2.3 源跟随器的优缺点
优点:①高的输入阻抗;(查资料说是阻抗接近无穷大?但目前还不知道为什么)
②中等的输出阻抗。
缺点:①体效应和沟道长度调制效应导致的非线性;
A.这源于阈值电压 VTH与源极电压之间的非线性关系(如果把衬底和源接在一起,可以消除由体效应引起的非线性,由于所有的 NMOS管共用一个衬底,仅对PMOS管有效)(PMOS的低迁移率导致它的输出阻抗比NMOS的输出阻抗高。)
B.在亚微米工艺中,晶体管的ro同样随 VDS而显著改变,因此也会给电路的小信号增益带来额外的变化.
②电平移动导致电压余度的减小;
③差的驱动能力;
④引入显著噪声。
三、共栅极(S输入,D输出)
(a)M1管的偏置电流流过输入信号源;(b)M1管用一个恒流源来偏置,信号通过电容耦合到电路
对3.48(a):
共栅极的增益:
3.1观察法算增益(以共源共栅极为例)
类似于(3.96)的公式 ,2.1.3里面的
3.2输入输出阻抗
3.2.1输入阻抗
3.2.2输出阻抗
3.2.3MOSFET的阻抗变换(这点的作用还不太懂)
四、共源共栅极 cascode(共源级S输入,共栅极D输出)
4.1套筒式共源共栅
因为输入器件产生的漏电流必定流过共源共栅器件,所以电压增益与共源级的电压增益相同。(都在饱和区,不考虑沟道长度调制效应)
4.1.1偏置条件分析
因此,M1和M2工作在饱和区的最小输出电平等于M1和 M2的过驱动电压之和。换句话说,电路中 M2管的增加会使电路的输出电压摆幅减小,减小的量至少为 M2的过驱动电压。我们也说成 M2“层叠”在 M1上。
也可不严格地讲,最小输出电压为 2个过驱动电压2VD,sat
4.1.2大信号分析
4.1.3优势之一:输出阻抗高;缺点之一:电压余度减小
缺点:所需要的额外的电压余度使这样的结构缺少吸引力。例如,三层共源共栅电路的最小输出电压等于三个过驱动电压之和。
输出阻抗高的好处:
4.1.4比较提高输出阻抗方法:采用共源共栅和增大输入晶体管的沟道长度
4.1.4.1从电压摆幅约束分析
4.1.4.2从输出阻抗分析
总结:电压摆幅约束一样,但共源共栅极能提供更高的输出阻抗
4.1.5应用之一:作恒定电流源
共源共栅结构不一定起放大器的作用。这种结沟的另一种普遍应用是构成恒定电流源。高的输出抗提供一个接近理想的电流源,但这样做的代价是牺牲了电压余度。
注意事项: