Test Compress

EDT：Embedded Deterministic Test。

包括的逻辑：Decompressor和Compactor

                 Masking logic

                 Addictional shift cycle(initialization, masking, lower-power bits)

                 Lockup cells和pipeline stages

 

在ATPG部分可以做的compression

1)Standard techniques

      Static compression-----------移除一些redundant patterns

      Dynamic compression--------在同一个pattern中，测试几个faults targets

2)Advanced ATPG

      Multi-clock compression

      Domain analysis

      Algorithm enhancements

      Optimized pattern orders

 

EDT通过对ATPG产生的Deterministic pattern的并行化处理，来处理。

EDT推荐更短的scan chain，更少的shift cycle

操作波形：

lock_up cell的插入：

1)保证shift 操作的正确性，一个cycle 一个data

2)在其他的操作中，可以节约一个clock cycle，因为它用的下降沿。

转载于:https://www.cnblogs.com/-9-8/p/6031011.html