STA分析(六) cross talk and noise

本文探讨了在深亚微米技术中,交叉耦合(crosstalk)和噪声对设计信号完整性的显著影响,包括glitch和延迟问题。主要由耦合电容导致,影响因素包括耦合电容大小、攻击者网络驱动强度、接地电容和受害者网络驱动能力。分析了glitch的四种类型和crosstalk延迟的三种情况,并介绍了在静态时序分析(STA)中设置条件的考虑因素。在设计中避免crosstalk的方法包括使用屏蔽网和增加线间间距。
摘要由CSDN通过智能技术生成

在深亚微米技术(deep submicron)中,关于crosstalk和noise对design的signal integrate的影响越来越大。主要表现在glitch和对delay的影响。

          1)metal layers越来越多;2)metal wire变得越来越薄而细;3)单位晶圆上的cells越来越多;4)供应电压越来越小,留给noise的margin越来越少。

          2)时钟速率越来越快。

在分析crosstalk时,其中受影响的signal叫做victim。影响别的signal的叫做aggressors。对整个design的影响主要表现在带来glitch和影响的delay。

          主要因为coupling capacitance,而使得信号之间相互影响。

首先讨论glitch:影响产生的glitch的大小(magnitude)的因素。

           1)coupling capacitance越大,glitch的magnitude越大。

           2)aggressors net的drive strength越大,the slew faster,glitch的magnitude越大。

           3)grounded capacitance越小,glitch的magnitude越大。

           4)victim net的driving strength越小,glitch的magnitude越大。

glitch的四种类型:positive/rise glitch在victim net为0时,negative/fall glitch在victim为1时,

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