AS5047P数据错误分析

1、测试平台

单片机：CH32V303；使用SPI与AS5047P通讯；磁铁使用径向磁铁。

2、问题现象

使用0X3FFF命令，读取AS5047P数据。其中14bit为0，即数据没有错误。但是得到的数据为从8000多到16000多。在数据16000多后，继续旋转磁铁，数据会跳变到8000多。此时应该是0。

3、问题分析

（1）测试其他芯片

使用ESP32编写程序

#include <Arduino.h>
#include <SPI.h>
#define AS5047P_ANGLECOM 0x3FFF

#define MY_CS   15
#define MY_SCK  14
#define MY_MOSI 13
#define MY_MISO 12 //自定义spi引脚
SPIClass my_spi(HSPI);  //创建SPIClass对象my_spi




void spiInit()
{  
    my_spi.begin(MY_SCK, MY_MISO, MY_MOSI, MY_CS);  //初始化，并绑定引脚
    spiAttachSS(my_spi.bus(), 0, MY_CS);            //绑定cs引脚
    my_spi.setFrequency(1000000);                  //设置频率，1MHz
    my_spi.setBitOrder(SPI_MSBFIRST);               //设置高位bit先传输
    my_spi.setDataMode(SPI_MODE2);                  //设置spi模式

}
uint16_t readAngleData()
{
      // 构造命令帧
    // uint16_t cmd = AS5047P_ANGLECOM | (1 << 14); // 设置读命令
    // cmd = cmd ^ (0x1 << 15); // 计算偶校验位
    uint16_t cmd = 0xffff;
    uint16_t uwData;
    my_spi.transfer16(cmd);
    uwData = my_spi.transfer16(0xc000);
    return uwData & 0x3FFF; // 返回有效数据
}
void setup() {
  Serial.begin(115200);
  spiInit(); // 初始化SPI
  // 设置磁编码器参数
  // 等待设备稳定
  delay(100);
}

void loop() {
  uint16_t angleData = readAngleData();
  // 将读取的数据转换为角度值
  float angle = (angleData * 360.0) / 0x4000;
    Serial.print("AngleBin: ");
  Serial.println(angleData);
  Serial.print("Angle: ");
  Serial.println(angle);

  delay(1000); // 每秒读取一次
}

烧录至ESP32进行测试，数据仍然错误。

（2）分析AS5047P自身数据

8000~16000，正好是13bit的数据，有点巧，怀疑是不是这个芯片是不是烧过非出厂代码？

调查SETTINGS1寄存器，地址0x0018：

读取SETTINGS1寄存器数据：

    printf("SETTINGS1=%d\r\n",AS5047_Read2Byte(0x18|(0x3<<14)));

根据AS5047P的命令格式，计算15bit的偶校验位，为1；14bit的操作位为1（读取）。

读取得

解读：

0bit：工厂设置；预编程为1；

当前值为0；

1bit：未被使用标志；预编程为0，且不可被复写；

当前值为1；

分析：该芯片可能非全新，被烧写过其他程序。

3、验证与解决

在返回AS5047P的数据时，只保留后13bit，即与0x1FFF进行与运算，获取角度信息时：

角度 = 采样值 * 360.f / (float) 0x2000;

即可计算13bit的角度数据。

烧写验证：

旋转一圈；可看出数据正常。

4、最后

本文只针对手上的这一片AS5047P。

若分析有误，欢迎大佬在评论区指正与交流。