DFT 问答 III

1.Boundary scan

Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求，所以往往也被叫做JTAG（JTAG更是指由IEEE1149.1标准规定的4线接口极其控制逻辑如TAP、TDR等）。现在 JTAG / BScan 已被绝大多数芯片设计公司和系统厂商所采用，作为一种芯片 IO PAD connectivity测试、DC Characterization、内部逻辑电路debug、在线系统 PRGM 和系统级测试的一种高效手段和业界标准。

 

个人认知，JTAG/BScan 的实现主要有两种实现方式：一是RTL hand coding，一般从算法开始到系统的全系列公司常用；二是借助 EDA 厂商提供的 tools 来实现。这里要特别提及一下，非常佩服前任大牛老大，在项目间隙大家都在放羊的间隙，楞是用C写了一个 In-house BScan insertion 定制化工具。非常感慨：聪明的人不可怕，可怕的比我们聪明的人还比我们更勤奋！

JTAG/BScan 在DFT领域里面相对比较简单，所以没有多少挑战，作为新工程师了解和进入项目的初始工作任务是非常不错的一个task。  特别注意一些弯弯绕的地方，个人认为可能就在于：

• 越来越多的MCP产品测试需要，在die的不同阶段BScan的不同测试方法和pattern准备；

• 除了基本的In/Out/OEN的测试外，对PAD其他控制信号的测试实现。

 

 

 

2.MBIST

MBIST就是Memory Build In Test简称。随着集成电路规模和复杂程度的不断提高，在ASIC/SoC 中集成的 memory 数量和所占的die  size比例非常高（例如>40% in AP），同时 memory 本身的 cell density 也比较高，那么相应地在 memory 上面的制造 defect 在SoC的比例也较大。

MBIST 从上世纪90年代末发展起来、为实现对IC 内部集成memory 的测试而生。

MBIST design 的实现，主要靠EDA工具来完成，最早做的很好的一家是 Syntest 的TurboBIST, 不过好像现在这家EDA公司日渐式微，奈何美人迟暮英雄末路。 目前EDA三巨头各家都有自己MBIST的解决方案。

对于MBIST design过程中和芯片测试过程中的挑战，个人认为还是在diagnosis， auto-repaire和FA了。