1.Boundary scan
Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求,所以往往也被叫做JTAG(JTAG更是指由IEEE1149.1标准规定的4线接口极其控制逻辑如TAP、TDR等)。现在 JTAG / BScan 已被绝大多数芯片设计公司和系统厂商所采用,作为一种芯片 IO PAD connectivity测试、DC Characterization、内部逻辑电路debug、在线系统 PRGM 和系统级测试的一种高效手段和业界标准。
个人认知,JTAG/BScan 的实现主要有两种实现方式:一是RTL hand coding,一般从算法开始到系统的全系列公司常用;二是借助 EDA 厂商提供的 tools 来实现。这里要特别提及一下,非常佩服前任大牛老大,在项目间隙大家都在放羊的间隙,楞是用C写了一个 In-house BScan insertion 定制化工具。非常感慨:聪明的人不可怕,可怕的比我们聪明的人还比我们更勤奋!
JTAG/BScan 在DFT领域里面相对比较简单,所以没有多少挑战,作为新工程师了解和进入项目的初始工作任务是非常不错的一个task。 特别注意一些弯弯绕的地方,个人认为可能就在于:
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越来越多的MCP产品测试需要,在die的不同阶段BScan的不同测试方法和pattern准备;
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除了基本的In/Out/OEN的测试外,对PAD其他控制信号的测试实现。
2.MBIST
MBIST就是Memory Build In Test简称。随着集成电路规模和复杂程度的不断提高,在ASIC/SoC 中集成的 memory 数量和所占的die size比例非常高(例如>40% in AP),同时 memory 本身的 cell density 也比较高,那么相应地在 memory 上面的制造 defect 在SoC的比例也较大。
MBIST 从上世纪90年代末发展起来、为实现对IC 内部集成memory 的测试而生。
MBIST design 的实现,主要靠EDA工具来完成,最早做的很好的一家是 Syntest 的TurboBIST, 不过好像现在这家EDA公司日渐式微,奈何美人迟暮英雄末路。 目前EDA三巨头各家都有自己MBIST的解决方案。
对于MBIST design过程中和芯片测试过程中的挑战,个人认为还是在diagnosis, auto-repaire和FA了。