DFT 入门篇-scan chain

DFT   --  design  for  test 

三要素：辅助性设计， physical defects   结构性测试向量   

是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical  defects  建立的 fault  model 进行求解产生的结构性测试向量，

这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。

scan  chain  包含两个步骤： scan replacement   scan stitching  

scan chain （synthsis）作用 ：把 difficult to test  sequential circuit  转换为 easy to test  combinationl circuit 。

 

上图所示，首先是 替换  然后是连接 组成一条 scan  链

 

完整的 scan  chain过程：

1。 对于时序电路 sequential 部分，选择scan mode ，shift in pattern ， 然后shift out

2.   对于组合电路combinational 部分，首先选择scan mode , shift in  pattern ，直接输入

pi 的值，选择function mode ，经过一段时间以后， PPO PO 都稳定了，先比较PO 的值，

再来一个时钟周期，capture  ppo 的值，选择scan mode ，shift  out   PPO 的值

然后下一条 pattern 

 

 
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