什么是repair？什么是soft repair、hard repair、lane repair？

最新推荐文章于 2023-11-13 11:11:35 发布
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分类专栏： IC设计 芯片设计 memory 文章标签： memory repair soft repair hard repair 修复 存储修复
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Repair是指存储器中用于修复缺陷的过程，包括替换有问题的信号线和单元。硬修复(hard repair)在出厂时进行，修复固定的问题；软修复(soft repair)在使用过程中动态检测并修复新出现的缺陷。Lane repair则是针对输入输出信号线的修复，通过冗余信号线替换有问题的信号线，确保存储功能正常。
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什么是repair？什么是soft repair、hard repair、lane repair？


什么是repair？

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IC小
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专栏目录
【芯片设计- RTL 数字逻辑设计入门 番外篇 8.1 -- memory repair 详细介绍】
CodingCos的博客
02-01 1272
SoC (System on Chip) 的 Memory Repair 是一种技术，用于检测和修复内存中的损坏单元。由于SoC内部集成了大量的逻辑和存储单元，包括RAM（随机访问存储器）、ROM（只读存储器）、缓存等，在制造过程中，由于工艺偏差或材料缺陷，有可能产生一些损坏的内存位。Memory Repair 机制允许系统检测这些错误并采取措施纠正，以提高芯片的产量和可靠性。
memory repair知识，repair执行步骤以及tessent repair flow介绍
最新发布
weixin_44495082的博客
05-09 1875
也可以通过Read_upf 设置（推荐）Memory在芯片中占比又来越高(通常 >40 %)，对芯片良率有重要影响，为了避免Memory低良对芯片的影响，通常添加冗余或备用的存储单元行和列，及时将测试中的故障进行修复和替换，修复过程包括行修复、列修复或两者的组合修复。缺点是：Memory Repair所能增加的冗余部分有限，若部分存储控制单元损坏的数量比较多，超过了Memory Repair所能修复的极限，则该存储控制单元即使修复后，也非全好，在对内存错误率低容忍度的应用场景中，这种情况的芯片被归为坏片。
什么是soft repair 和 hard repair？
IC小鸽的博客
04-05 4962
什么是repair？Repair是一个过程，是存储器修复缺陷（信号线短路、断路等情况）的过程。存储器中一般存在冗余的信号线和单元，通过检查发现有问题的单元，从而用冗余的模块替换有缺陷的模块，保证存储的正常使用。 什么是softrepair 和 hard repair？ 什么是hardrepair？Hard repair 同样处于芯片初始化流程中，在存储模块出厂前厂家会进行功能测试，发现有问题的模块...
DFT相关的mem repair概念
cy413026的博客
06-06 4171
DFT相关的mem repair概念 通过DFT检测出某些mem单元读写错误(芯片制造出来之后有随机问题，电路错误或者性能达不到)，此时可以通过一些规则和算法用mem中原本富余的逻辑来替换这部分单元 ...
SOFT REPAIR
xiongzai360的博客
08-20 251
![这里写代码片](https://img-blog.csdn.net/20180820155904218?watermark/2/text/aHR0cHM6Ly9ibG9nLmNzZG4ubmV0L3hpb25nemFpMzYw/font/5a6L5L2T/fontsize/400/fill/I0JBQkFCMA==/dissolve/70)
一窥Memory测试算法及自我修复机制
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memory repair
xiongzai360的博客
08-20 4007
1 FDS(fuse_distribute_slaves)的chain来distribute FPROM fuse 值 2 FDS provide NUM of fuse. output FUSE bus of NUM. 3 fds CONTAIN 8 BIT WIDE SR, depth depens NUM OF FUSE. 4 fDS chain deliver fuse to blo...
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VD Drive Repair 2021是一个可靠和有效的恢复应用程序，旨在帮助您恢复您的DVD光驱，如果从Windows丢失。 该程序可以派上用场，可以帮助您恢复您的DVD驱动器的可见性时，您的OS无法正确显示它。 这是一个有效的应用...
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下列测试项主要用来测试出那些始终保持高或者低的坏块: Random value XOR comparison SUB comparison MUL comparison DIV comparison OR comparison AND comparison 下列测试项用来测试那些不能正确保存写入的值的坏块： Sequential Increment Block Sequential Solid Bits 下列测试项主要用来测试出那些受制于临近单元的状态或状态改变的坏块： Bit Flip Checkerboard Walking Ones Walking Zeroes Bit Spread 下列测试项用来测试要测的内存地址是否是正确的地址。如果这个步骤报错，说明内存系统有其他严重问题： Stuck Address
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