化合物半导体概述
化合物半导体的定义:由两种及以上元素以确定原子配比组成的化合物,多是一种晶态无机化合物半导体
化合物半导体具有确定的禁带宽度和能带结构。
半导体化合物典型的晶体结构为闪锌矿结构、纤锌矿结构
化合物半导体有两种分类方式:
1.按元素分类,本质上是由于原子序数的增大,共价键的键合能力会变弱,而结构决定性质。所以按元素分类包括:
三五族、二四族、四四族
三五族、二四族、四四族
三五族、二四族、四四族
2.按能带结构,可以分为直接带隙半导体和间接带隙半导体。
对于直接带隙半导体来说,依旧按元素分类,我们可以得到各类的能带结构特性和性质变化的本质,那就是原子结合依靠共价键和不同程度的离子键。元素差异越大,则离子键越多。
直接带隙半导体的特点是:电子激发与复合很容易,无需变换动量(即k值)
间接代谢半导体的特点:电子激发与复合较难,且需要变换动量。
对于间接代谢半导体来说,若需要电子激发或复合,其过程分为两步:
第一步:电子被复合中心
E
r
E_r
Er俘获,晶格振动(及产生声子)。
E
r
E_r
Er为复合中心,由晶体或杂质缺陷组成
第二步,复合中心与价带顶部
E
v
E_v
Ev同动量,复合时动量不变,并产生光子
三五族化合物
三五族化合物的组成元素:
1.三A族包括:B,Al,Ga,In
2.五A族包括:N,P,As,Sb
一般三五族化合物半导体的特点:
应用 | 性质 |
---|---|
1.耐高温、功率大 | 带隙大,一般>1.1eV |
2.高光电转换效率 | 直接跃迁能带结构,如GaN |
3.作高频高速器件 | 电子迁移率高,如InP |
4.带隙随温度而变化 | – |
其他特性比如**化学键相关特性*包括:
1.同时含共价键与离子键。所含离子键越多,则极性越强
极性的定义:晶体在对称晶面上的性质不同,叫极性
2.组成元素的原子序数之和越大,则熔点越低。
最典型的三五族化合物是砷化镓GaAs。
砷化镓的特性包括:
GaAs的特性 | – |
---|---|
外在特性 | 暗黑色、玻璃光泽、强抗辐射能力 |
结构特性 | 闪锌矿,晶格常数a等于0.56419 |
化学性质 | 常温下,不溶于氯化氢、硫酸,但浓硝酸、王水可以 |
砷化镓的缺点:
1.自然资源少
2.配比不容易控制,As有毒且容易挥发(总结就是制备上较为困难)
3.生长的单晶位错较多
4.热导率较低
制备砷化镓晶体的方法包括:液封直接法,水平布里奇曼法,垂直梯度凝固法VGF,气氛控制直拉法VCZ
制备砷化镓外延片的方法:cvd等
另一个典型的三五族化合物半导体是氮化镓GaN、磷化铟InP、氮化铝AlN
氮化镓GaN
氮化镓的性质包括:
GaN的性质 | – |
---|---|
物理性质 | 频率高达到300GHz,只Si为10GHz,GaAs为80GHz |
– | 其他三五族化合物典型的性质,氮化镓都有 |
电特性 | 禁带宽度 E g = 3.4 E_g=3.4 Eg=3.4,非常大 |
– | 未掺杂时呈现n型 |
光特性 | 可发蓝光 |
化学特性 | 氢氧化钠/硫酸/磷酸可反应低质氮化镓(因此,这些溶液可以用于缺陷检测) |
制备氮化镓的方法——热铵法
热铵法的流程为:
1.TMGa三甲基镓(Ga(CH3)3)分解出Ga
2.Ga与NH3反应
磷化铟
磷化银的单晶生长法:用含B2O3的液封直拉法
多晶生长方法则用:炉外高压容器
氮化铝AlN
氮化铝的特点:带隙最大,达到6.2eV,用于发出紫光或紫外光UV
氮化铝的晶体结构为:六方纤锌矿结构
氮化铝的晶体制备方法:铝直接氮化法,高氮气压溶液生长法
二四族化合物半导体
二四族化合物半导体的特点:
性质 | 产生原因 |
---|---|
1.功率大,工作温度高 | 能隙比三五族化合物大 |
2.高光电转换效率 | 直接跃迁能带结构 |
3.作高频高速器件 | 电子迁移率高 |
4.原子序数之和越大,则带隙越小 | – |
5.电导主要由缺陷或杂质引起 | 本征载流子浓度ni极低 |
二四族化合物半导体的**化学键相关特性*包括:
1.离子键比共价键多,因而极性更强
2.因为熔化时所需要的蒸汽压过高,所以不易生长单晶
四四族化合物半导体(以SiC为例)
碳化硅的晶体结构包括:
晶体结构 | 特性 | 应用 |
---|---|---|
6H-SiC | 结构最稳定 | 光电子器件 |
3C-SiC | 电子迁移率最高 | 高温、大功率、高频器件 |
4H-SiC饱和电子速度大 | 碳化硅功率器件 | |
β \beta β-SiC | 质量高,便宜 |
SiC的性质包括:物理性质,化学性质和其他性质
物理性质
物理性质包括:
性质类别 | 具体性质 |
---|---|
力学特性 | 硬度大、耐磨 |
– | 弹性模量大 |
热力学特性 | 热导率高,常用于大功率器件 |
– | 热稳定性好 |
电学特性 | 因为带隙宽,所以击穿电压大 |
化学性质
化学性质包括:
性质 | 应用 |
---|---|
稳定耐腐蚀 | – |
抗氧化性 | 抗氧化剂 |
脱氧性 | 脱氧剂 |
其他应用
特性 | 应用 |
---|---|
高温、高热导、高耐压 | 高温、高热导、高耐压器件 |
高亮度发光 | 全色光源 |
束斑尺寸小 | 短波长激光器 |
碳化硅与硅相比的性质
碳化硅与硅相比的性质 | 产生原因 |
---|---|
工作温度200摄氏度 | 3倍的禁带宽度 |
电阻低,损耗低 | 2倍的电子饱和速度 |
利于散热和集成 | 三倍的热导率 |
碳化硅的制备
碳化硅薄膜的制备方法有:物理气象沉积法和化学气象沉积法
物理气相沉积法
物理气相沉积法包括:
物理气相沉积法 | – |
---|---|
溅射法 | 射频溅射法 |
– | 磁控溅射法 |
离子注入合成法 | – |
分子数外延法 | – |
射频溅射法的靶为烧结的碳化硅。其需要退火的原因是可以消除悬挂键,使能隙增大
磁控溅射法相比射频溅射法的优点:
1.温度更高,薄膜结晶度更高
2.淀积速率更高
化学气象沉积法
化学气象沉积包括:LPCVD,PECVD,HFCVD