从拉弧的影响角度评估船型开关

禹城双昇

已于 2023-10-25 18:04:27 修改

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文章标签：硬件工程经验分享嵌入式硬件单片机

于 2023-10-25 17:39:08 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/gonylibechen1/article/details/134039690

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一．背景

产线反馈22年上半年船型开关不良率飙升。如图1所示为公司LXJ产品生产中出现的船型开关损坏情况。

品质与供应商沟通时，供应商将原因归结于我司产品瞬间电流过大导致。LXJ产品电压高且负载电流大，对J公司（与人为善，就不曝光他们啦）船型开关损伤大，我们可以接受，但其他产品电压低且负载电流很小，今年也明显出现了比往年更大的船型开关损坏比例，就无法说服我司。

为了排除J公司船型开关的潜在风险，有必要搞清楚问题的发生原理，同步寻找其他可靠的船型开关。

二．实验记录

除了目前正在使用的J公司的RL型，另外新选了WT公司的WT型（这家性能也差强人意）和宏聚电子的MR6-210-C5N-BB（品质好就多多曝光）。三家产品一起做对比测试，性能好和坏，结果说了算！

1. 阻性带载测试

3款船型开关额定负荷都是6A/250VAC，因此设计了6A阻性负载测试，每个样品反复上下电1000次，统计损坏情况。测试结果如表1所示，只有RL型有异常损坏情况，拆开内部结构进行查看，触点与其他两款船型开关情况一般无二，如图2所示，没有明显的触点损坏情况，因此RL型样品此次损坏情况，与瞬间电流无关，应该归结于RL型的来料不良。

表1 不同型号船型开关对比测试结果
供应商	型号	样品数量	损坏数量	损坏比例
J公司	RL型	10	1	10%
WT公司	WT型	20	0	0
宏聚电子	MR6-210-C5N-BB	20	0	0

RL型与MR6-210-C5N-BB结构相似，直接比较两者之间的差异，如图3所示，宏聚的弹片折弯程度比J公司的小，另外触头的材质明显不一样。

2. 触头侵蚀原因实验

供应商将原因归结于瞬间电流过大，那么事实是否如此？为此设计一个实验，利用LXJ样机，将两个船型开关串联接入，其中一个常闭，另外一个反复开关240次。测试结果如图4所示，为RL型的测试结果。很明显，常闭的开关触头没有任何恶化情况，反复开关的触头出现了严重的侵蚀痕迹。因此造成开关损坏的不是瞬间电流过大造成的，而是开关瞬间触头之间的拉弧造成的侵蚀。处于常闭的开关，会一样承受瞬间电流，但不会承受拉弧损伤。

3. 拉弧对比试验

为比较3款船型开关的性能，分别将样品接入LXJ设备，进行240次反复开关试验，试验结果如图5所示，可以很明显发现，WT损伤最严重，不仅表面镀层损伤，且镀层下方的铜基体也发生了熔化；J公司的RL次之，表面镀层发生大面积熔化，宏聚的MR6-210-C5N-BB损伤很小。三者对比结果，宏聚的性能最好。

三．原理分析

1. 电弧发生原理

从形成机理来看，电弧是产生于绝缘介质或真空当中的一种等离子体，通常伴随粒子的游离和光子的释放，可将其视为一种特殊的气体放电过程。文献【1】中说明，在空气中开断电路，如果被开断时加载弧隙两端的电压超过最小生弧电流和电压（电压大于12~20V，电流大于0.25~1A），就会在弧隙产生电弧；比如铜触头间的最小生弧电压为13V，最小生弧电流为0.43A，开断220V交流电路时产生电弧的最小电流为0.5A。

开关电器触头分离伊始，动静触头间的接触面积逐渐减小至临界分开，触头临界点位置处电流密度急剧增大，流过该点的电流能够产生大量的热量，从而融化接触点处的金属形成熔池，继而在触头间罅隙处形成液态金属桥。随着触头继续拉开，金属液桥断裂，产生大量的金属蒸汽。此时，触头间的高温度和高场强加剧了阴极热电子发射和场致发射，在电场的作用下，电子不断积累能量并加速向阳极运动，在阳极附近会与气隙中金属相气体的原子（包括气体原子和金属原子）发生碰撞，原子被激发出新的电子和正离子，新的电子继续与原子碰撞，从而产生电子崩；阳极附近的正离子和电子会发生碰撞复合，释放能量并激发出光子。由于此时气隙间充斥着大量金属蒸汽和金属离子，故此时形成的电弧为金属相电弧。随着触头的拉开，气体介质中的碰撞过程在极短时间内重复发生，使得气体介质的温度急剧升高，粒子内能增大，加速了热电流过程和粒子碰撞过程，使得气隙间带电粒子浓度增大，从而空气介质的电导率逐渐增大，金属相电弧逐渐向气相电弧转变。当带电粒子的产生速率和通过复合扩散作用消失速率相等时候，放电过程进入稳态，即形成稳定的空气电弧。

2. 电弧影响因素

文献【2】中列出了影响电弧发生程度的主要因素，包括负载电流和电压、触头分断速度、触头材料和熄弧气体介质应用等；

1）电压的影响

电压越大，电弧越严重，拉弧的强度和持续时间都会增大，带来的侵蚀也越严重。

图6为WT的船型开关测试结果，采用了3种电压进行对比测试，很明显AC220V/3A的电弧侵蚀最严重，36V/6A次之，24V/6A最轻。另外需关注起弧电压，如图2所示，在12V/6A测试条件下，3款船型开关均未有明显拉弧损伤；

2）电流的影响

电流越大，拉弧越严重，电弧造成的损伤也越严重。

图7为WT船型开关不同电流下的测试结果。可以很明显看出24/6A的拉弧面积比24V/4A的严重。

3）分断速度

理论上，分断速度越快，拉弧的持续时间越短，熄弧也越快，造成的损伤也就越小。

由于缺少测量设备，无法准确计量分断速度。因此采用测量动静触点的断开距离，间接衡量分断速度。假设操作人员开关按键的速度是固定的，动静触点间距越大，分断速度就越快。如图8所示，粗略测量，WT的间距大致为1mm，宏聚的2.7mm，J公司的RL的最大，达到3mm。

3款船型开关在LXJ设备上的测试结果见图5，WT的最严重，J公司的稍好一些，宏聚的损伤很小很小。从结果来看，WT和J公司的损伤对比，能够体现间距越小，拉弧越严重的结论，但宏聚的间距比J公司的小，反而损伤最小，且差距悬殊。这可能和触点材质有关，由于无法找到各品牌船型开关触点材料的具体信息，暂时无法得出结论。只是单纯从触点表面颜色区分，J公司与WT的触点材质疑似一样，宏聚的明显不一样；

表2 不同品牌不同间距损伤对比
品牌	间距	损伤程度
宏聚	1mm	轻微
J公司	3mm	严重
WT公司	2.7mm	非常严重

4）触点材质

由于触点材质的强度、硬度、熔点、沸点以及抗熔焊性等特性不一样，在抑制拉弧的效果上也各不相同。文献【3】列出了常用低压触点材料，包含Ag、AgCe、AgNi、AgCdO、AgSnO2；文献【4】标明高压大电流触点材料有CuCr、CuW；各合金又细分为不同成分比例。具体效果对比请参考文献【3】和【4】；