OTA近场测量你真的了解吗?

如果你在百度搜索OTA，排在最上面的一定是在线旅游，可是对于我们射频工程师来说，OTA就别有一番意思了
我们一起来看一下

今日份重点：
1.近场测量技术及场地的发展
2.近场测量的分类
3.现今主流近场多探头OTA系统简介
4.小结

1.近场测量技术及场地的发展

近场测量的理论基础于20世纪50年代末产生的，它的发展主要分为四个阶段：第一个阶段为无探头修正探索阶段（1950~1961年），第二阶段为探头修正理论研究阶段（1961~1975年），第三阶段为实验验证探头修正理论阶段（1965~1975年），第四阶段为探头修正理论实践阶段（1975~至今）。

天线测量领域最早出现的测量场地是室外远场，由于室外场地没有屏蔽效果，容易受到外界电磁信号的干扰，而且还有外界不可控因素的影响，不仅使得测试的精度较低，还会出现测试数据不可复现的结果。20世纪50年代初，微波暗室技术出现，早期的暗室无屏蔽壳体，暗室反射性能不高，随着新兴技术的不断提升，目前的暗室屏蔽效能和静区反射性能都能达到较高水准。对于微波暗室技术的发展，天线测量从室外转移到室内进行，解决了室外远场背景电平高、保密性差、不支持全天候测试等问题。

天线场区可分为感应场区、辐射近场区和辐射远场区，天线测量场地可分为远场、近场、紧缩场、混响法等。

2.近场测量的分类：

<