电子技术——CMOS-AB类输出阶

电子技术——CMOS-AB类输出阶

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本节我们研究CMOS-AB类输出阶。

经典配置

下图展示了一个经典的CMOS-AB类输出阶:

CMOS-AB类输出阶
这个很像BJT+二极管偏置版本的AB类输出阶,在这里二极管偏置变成了 Q 1 Q_1 Q1 Q 2 Q_2 Q2 偏置。不想BJT的情况,这里 Q N Q_N QN 无栅极电流,因此偏置电流 I I I 完全流过 Q 1 Q_1 Q1 Q 2 Q_2 Q2 ,偏置电压 V G G V_{GG} VGG 是一个和负载电流无关的常量。

我们知道:

I D 1 = I = 1 2 k n ′ ( W / L ) 1 ( V G S 1 − V t n ) 2 I_{D1} = I = \frac{1}{2}k_n'(W/L)_1(V_{GS1} - V_{tn})^2 ID1=I=21kn(W/L)1(VGS1Vtn)2

I D 2 = I = 1 2 k p ′ ( W / L ) 2 ( V S G 2 − ∣ V t p ∣ ) 2 I_{D2}= I = \frac{1}{2}k_p'(W/L)_2(V_{SG2} - |V_{tp}|)^2 ID2=I=21kp(W/L)2(VSG2Vtp)2

上述两个式子能够导出:

V G G = V G S 1 + V S G 2 = V t n + ∣ V t p ∣ + 2 I ( 1 k n ′ ( W / L ) 1 + 1 k p ′ ( W / L ) 2 ) V_{GG} = V_{GS1} + V_{SG2} = V_{tn} + |V_{tp}| + \sqrt{2I} (\frac{1}{\sqrt{k_n'(W/L)_1}} + \frac{1}{\sqrt{k_p'(W/L)_2}}) VGG=VGS1+VSG2=Vtn+Vtp+2I (kn(W/L)1 1+kp(W/L)2 1)

同样假设此时处在调平电压 v O = 0 v_O = 0 vO=0 的情况下:

V G G = V G S N + V S G P = V t n + ∣ V t p ∣ + 2 I Q ( 1 k n ′ ( W / L ) n + 1 k p ′ ( W / L ) p ) V_{GG} = V_{GSN} + V_{SGP} = V_{tn} + |V_{tp}| + \sqrt{2I_Q} (\frac{1}{\sqrt{k_n'(W/L)_n}} + \frac{1}{\sqrt{k_p'(W/L)_p}}) VGG=VGSN+VSGP=Vtn+Vtp+2IQ (kn(W/L)n 1+kp(W/L)p 1)

联立能够导出:

I Q = I [ 1 / k n ′ ( W / L ) 1 + 1 / k p ′ ( W / L ) 2 1 / k n ′ ( W / L ) n + 1 / k p ′ ( W / L ) p ] 2 I_Q = I [\frac{1 / \sqrt{k_n'(W/L)_1} + 1 / \sqrt{k_p'(W/L)_2}}{1 / \sqrt{k_n'(W/L)_n} + 1 / \sqrt{k_p'(W/L)_p}}]^2 IQ=I[1/kn(W/L)n +1/kp(W/L)p 1/kn(W/L)1 +1/kp(W/L)2 ]2

这表明偏置电流 I Q I_Q IQ 和电流源 I I I 的关系只和MOS管的宽长比有关,对于完全匹配的MOS,即 k p ′ ( W / L ) 2 = k n ′ ( W / L ) 1 k_p'(W/L)_2 = k_n'(W/L)_1 kp(W/L)2=kn(W/L)1 k p ′ ( W / L ) p = k n ′ ( W / L ) n k_p'(W/L)_p = k_n'(W/L)_n kp(W/L)p=kn(W/L)n 有:

I Q = I ( W / L ) n ( W / L ) 1 I_Q = I\frac{(W/L)_n}{(W/L)_1} IQ=I(W/L)1(W/L)n

这个方法存在一个缺点,就是限制输出电压的压摆范围,我们假设电流源的压降为 V V V ,我们有:

v O = V D D − V − v G S N v_O = V_{DD} - V - v_{GSN} vO=VDDVvGSN

则最大输出电压是当电流源保持最小压降的时候:

v O m a x = V D D − V m i n − v G S N v_{Omax} = V_{DD} - V_{min} - v_{GSN} vOmax=VDDVminvGSN

v O v_O vO 达到最大值的时候,此时 i L i_L iL 达到最大值,所有的负载电流都由 Q N Q_N QN 提供,此时 v G S N v_{GSN} vGSN 也达到最大值。

v O m a x = V D D − V m i n − V t n − V O V N v_{Omax} = V_{DD} - V_{min} - V_{tn} - V_{OVN} vOmax=VDDVminVtnVOVN

这里的 V O V N V_{OVN} VOVN 是当 Q N Q_N QN 通过最大电流 i L i_L iL 时候的过驱动电压。

同样的对于负半周期的最小输出电压为:

v O m i n = − V S S + V m i n ′ + ∣ V t p ∣ + ∣ v O V P ∣ v_{Omin} = -V_{SS} + V'_{min} + |V_{tp}| + |v_{OVP}| vOmin=VSS+Vmin+Vtp+vOVP

不同的是这里的 V m i n ′ V'_{min} Vmin 指的是信号源 v I v_I vI − V S S -V_{SS} VSS 的最小压降。

我们发现,MOS推挽结构的压摆范围主要收到 V O V N V_{OVN} VOVN ∣ v O V P ∣ |v_{OVP}| vOVP 限制,因此最大负载电流越大,压摆范围就越小。因为BJT的压降基本保持在 0.7 V 0.7V 0.7V 左右,因此不受到这个因素的影响,而对于MOS来说,过驱动电压的范围通常变化比较大,我们可以控制MOS的宽长比来限制过驱动电压的最大值,但是对于大型MOS器件来说是不实际的。

使用共源晶体管的另一种替代方案

下面是使用共源晶体管的一种MOS推挽方案:

共源晶体管
上图中,两个推挽MOS管是共源配置,输入端由两个运算放大器提供驱动,运放和输出电压形成负反馈,根据运放虚短的原理,我们知道 v O ≃ v I v_O \simeq v_I vOvI ,因此我们称运放为 误差放大器

为了说明上图中是负反馈,我们假设当 v O v_O vO 升高的时候,此时 Q P Q_P QP 的栅极电压升高, i D P i_{DP} iDP 减小,而 Q N Q_N QN 的栅极电压升高, i D N i_{DN} iDN 增大,那么 i L i_L iL 就要减小,导致 v O v_O vO 减小。因此上图中是负反馈。

并且,我们之前学过,上图是一个串联-并联结构,是一个典型的电压放大器,增益为单位增益,具有较大的输入阻抗和较小的输出阻抗。

为了计算小信号的输出阻抗,我们分别考虑电路的一半,对于上半部分计算 R o u t p R_{outp} Routp 下半部分计算 R o u t n R_{outn} Routn 那么整体的输出阻抗为:

R o u t = R o u t p ∣ ∣ R o u t n R_{out} = R_{outp} || R_{outn} Rout=Routp∣∣Routn

下图是上半部分电路:

上半部分电路
其中反馈网络为图 (b) 反馈因子为 β = 1 \beta = 1 β=1

使用系统分析法分析开环增益,如图:

系统分析法
然后施加测试源 v i v_i vi 计算输出 v o v_o vo 我们知道:

A = μ g m p ( r o p ∣ ∣ R L ) A = \mu g_{mp} (r_{op} || R_L) A=μgmp(rop∣∣RL)

其中 g m p g_{mp} gmp r o p r_{op} rop Q P Q_P QP 的小信号参数,可由 Q P Q_P QP 的电流决定,开环输出阻抗为:

R o = R L ∣ ∣ r o p R_o = R_L || r_{op} Ro=RL∣∣rop

则负反馈等效输出阻抗为:

R o f = R o 1 + A β = ( r o p ∣ ∣ R L ) 1 + μ g m p ( r o p ∣ ∣ R L ) R_{of} = \frac{R_o}{1 + A\beta} = \frac{(r_{op} || R_L)}{1 + \mu g_{mp} (r_{op} || R_L)} Rof=1+AβRo=1+μgmp(rop∣∣RL)(rop∣∣RL)

那么输出阻抗为:

R o u t p = 1 / ( 1 R o f − 1 R L ) = r o p ∣ ∣ 1 μ g m p ≃ 1 μ g m p R_{outp} = 1 / (\frac{1}{R_{of}} - \frac{1}{R_L}) = r_{op} || \frac{1}{\mu g_{mp}} \simeq \frac{1}{\mu g_{mp}} Routp=1/(Rof1RL1)=rop∣∣μgmp1μgmp1

可见输出阻抗足够小,对于下半部分电路同样的:

R o u t n ≃ 1 μ g m n R_{outn} \simeq \frac{1}{\mu g_{mn}} Routnμgmn1

则总输出阻抗为:

R o u t ≃ 1 μ ( g m p + g m n ) R_{out} \simeq \frac{1}{\mu (g_{mp} + g_{mn})} Routμ(gmp+gmn)1

接下来,我们推导其传导特性,我们使用下面的电路图:

电路图
首先我们考虑其静态点参数,对于 v I = 0 v_I = 0 vI=0 此时 v O = 0 v_O = 0 vO=0 。此时偏置电流 I Q I_Q IQ 将完全由电路的静态点误差决定:

I Q = 1 2 k p ′ ( W / L ) p V O V 2 = 1 2 k n ′ ( W / L ) n V O V 2 I_Q = \frac{1}{2} k_p'(W/L)_p V_{OV}^2 = \frac{1}{2} k_n'(W/L)_n V_{OV}^2 IQ=21kp(W/L)pVOV2=21kn(W/L)nVOV2

这里的 V O V 2 V_{OV}^2 VOV2 是静态点的过驱动电压,若两个MOS完全匹配:

I Q = 1 2 k V O V 2 I_Q = \frac{1}{2}k V_{OV}^2 IQ=21kVOV2

接下来考虑应用输入信号电压 v I v_I vI ,如下图:

电路图
此时两个误差放大器的输出增加了输入输出误差 μ ( v O − v I ) \mu(v_O - v_I) μ(vOvI) ,则此时:

i D P = 1 2 k [ V O V − μ ( v O − v I ) ] 2 = I Q ( 1 − μ v O − v I V O V ) 2 i_{DP} = \frac{1}{2}k[V_{OV} - \mu(v_O - v_I)]^2 = I_Q (1 - \mu\frac{v_O - v_I}{V_{OV}})^2 iDP=21k[VOVμ(vOvI)]2=IQ(1μVOVvOvI)2

i D N = I Q ( 1 + μ v O − v I V O V ) 2 i_{DN} =I_Q (1 + \mu\frac{v_O - v_I}{V_{OV}})^2 iDN=IQ(1+μVOVvOvI)2

则信号电流为:

i L = i D P − i D N i_L = i_{DP} - i_{DN} iL=iDPiDN

带入 i L = v O / R L i_L = v_O / R_L iL=vO/RL 得到:

v O = v I 1 + V O V 4 μ I Q R L v_O = \frac{v_I}{1 + \frac{V_{OV}}{4 \mu I_Q R_L}} vO=1+4μIQRLVOVvI

又因为 V O V 4 μ I Q R L ≪ 1 \frac{V_{OV}}{4 \mu I_Q R_L} \ll 1 4μIQRLVOV1 近似为:

v O ≃ v I ( 1 − V O V 4 μ I Q R L ) v_O \simeq v_I(1 - \frac{V_{OV}}{4 \mu I_Q R_L}) vOvI(14μIQRLVOV)

增益误差定义为:

E ≡ v O v I − 1 = − V O V 4 μ I Q R L E \equiv \frac{v_O}{v_I} - 1 = -\frac{V_{OV}}{4 \mu I_Q R_L} EvIvO1=4μIQRLVOV

因为在静态点处 g m p = g m n = g m = 2 I Q V O V g_{mp} = g_{mn} = g_m = \frac{2I_Q}{V_{OV}} gmp=gmn=gm=VOV2IQ 也可以表示为:

E = − 1 2 μ g m R L E = -\frac{1}{2 \mu g_m R_L} E=2μgmRL1

因此选择较大的 μ \mu μ 可以降低输入输出误差,以及降低输出阻抗。然而较大的 μ \mu μ 会让 I Q I_Q IQ 过于依赖运放的输入偏移电压。一般,通常让 μ \mu μ 在5到10的范围内。同时,较大的 I Q I_Q IQ 会减小交越失真,输出阻抗和误差,但是会引起较大的静态耗散功率。

书中没给出 I Q I_Q IQ 的计算方法,故在此给出,假设静态输出电压为 V O V_O VO ,那么有:

I Q = 1 2 k p ( V D D − μ V O − ∣ V t p ∣ ) 2 I_Q = \frac{1}{2}k_p(V_{DD} - \mu V_O - |V_{tp}|)^2 IQ=21kp(VDDμVOVtp)2

I Q = 1 2 k n ( V S S + μ V O − V t n ) 2 I_Q = \frac{1}{2}k_n(V_{SS} + \mu V_O - V_{tn})^2 IQ=21kn(VSS+μVOVtn)2

两个式子联立可以解得 I Q I_Q IQ V O V_O VO 的值:

V O = k p ( V D D − ∣ V t p ∣ ) − k n ( V S S − V t n ) μ ( k p + k n ) V_O = \frac{\sqrt{k_p}(V_{DD} - |V_{tp}|) - \sqrt{k_n}(V_{SS} - V_{tn})}{\mu (\sqrt{k_p} + \sqrt{k_n})} VO=μ(kp +kn )kp (VDDVtp)kn (VSSVtn)

我们发现 I Q I_Q IQ 理论上是与 μ \mu μ 无关量,调整MOS参数即可调整 I Q I_Q IQ

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C语言是一种广泛使用的编程语言,它具有高效、灵活、可移植性强等特点,被广泛应用于操作系统、嵌入式系统、数据库、编译器等领域的开发。C语言的基本语法包括变量、数据类型、运算符、控制结构(如if语句、循环语句等)、函数、指针等。在编写C程序时,需要注意变量的声明和定义、指针的使用、内存的分配与释放等问题。C语言中常用的数据结构包括: 1. 数组:一种存储同类型数据的结构,可以进行索引访问和修改。 2. 链表:一种存储不同类型数据的结构,每个节点包含数据和指向下一个节点的指针。 3. 栈:一种后进先出(LIFO)的数据结构,可以通过压入(push)和弹出(pop)操作进行数据的存储和取出。 4. 队列:一种先进先出(FIFO)的数据结构,可以通过入队(enqueue)和出队(dequeue)操作进行数据的存储和取出。 5. 树:一种存储具有父子关系的数据结构,可以通过中序遍历、前序遍历和后序遍历等方式进行数据的访问和修改。 6. 图:一种存储具有节点和边关系的数据结构,可以通过广度优先搜索、深度优先搜索等方式进行数据的访问和修改。 这些数据结构在C语言中都有相应的实现方式,可以应用于各种不同的场景。C语言中的各种数据结构都有其优缺点,下面列举一些常见的数据结构的优缺点: 数组: 优点:访问和修改元素的速度非常快,适用于需要频繁读取和修改数据的场合。 缺点:数组的长度是固定的,不适合存储大小不固定的动态数据,另外数组在内存中是连续分配的,当数组较大时可能会导致内存碎片化。 链表: 优点:可以方便地插入和删除元素,适用于需要频繁插入和删除数据的场合。 缺点:访问和修改元素的速度相对较慢,因为需要遍历链表找到指定的节点。 栈: 优点:后进先出(LIFO)的特性使得栈在处理递归和括号匹配等问题时非常方便。 缺点:栈的空间有限,当数据量较大时可能会导致栈溢出。 队列: 优点:先进先出(FIFO)的特性使得

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