MBIST Algorithm - Testing algorithm

最新推荐文章于 2024-05-06 18:11:45 发布
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文章标签： 集成测试 测试工具 其他 arm开发 硬件架构
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MBIST 有許多測試算法, 針對不同製程及不同缺陷產生. 會有不同的運算測試方法. 我們建議如下,

自動化軟體的好處, 就是隨選既產生相應電路. 避免人為耗時及除錯等非必要問題產生

for Emerging Market

Technology node

Testing algorithm

Memory defect

180nm/130nm/110nm/90nm

March C-, March C,

March C+

SAF, TF, AF, CFin, CFid, CFst

55nm/40nm

March C-, March C,

March C+, March LR,

MOVI

SAF, TF, AF, CFin, CFid, CFst, SOF, RDF

28nm/16nm/12nm

March 33N, CROWN

SAF, TF, AF, CFin, CFid, CFst, SOF, RDF,

dRDF, dIRF, dDRDF, dTF, dWDF

7nm/5nm/3nm
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jou1208
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DFT学习(四)：DFT 之 mbist
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
08-09 4579
该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试，能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式模块进行全面的测试。，在测试完成后，将测试的结果通过芯片的测试引脚送出到芯片的外部。MBIST 电路的基本结构一般包括。
内存内置自检 (MBIST) 的实施和验证 – 调查-研究论文
06-10
本文提供了内存内置自检 (MBIST) 中涉及的实施和验证的调查。 本文包含了内存内置自检 (MBIST) 的实施和验证所涉及的各种策略。 MBIST（内存内置自检）为测试此类大内存提供了有效的解决方案。 功能性 MBIST 的验证是任何 SoC 设计周期中必不可少的部分，因为它使设计人员能够预先检测与 MBIST 相关的任何问题。 MBIST 的优点是测试程序简单，可以运行不同的算法，降低测试成本，可以在内存上运行用户定义的算法。
test generation和MBIST
ahr7882的博客
08-22 840
The problem of test generation Random test generation Deterministic algorithm for test generation for stuck at faults, enhance the deterministic engines such as static and dynamic learning Sim...
SRAM 测试总结
zhuangdk的博客
01-05 3031
SoC随着工艺进步设计复杂度增加，embeded sram也越来越多。在40nm SoC产品Sram一般在20Mbits左右，当工艺发展到28nm时Sram就增加到100Mbits。如果考虑AI产品，Sram估计更多。如何更好的测试Sram就成为量产测试的重中之重。 Sram的结构 一个6T sram cell的经典结构如图所示： 这些Sram cell集合成如下图的多个bank的memory block，每个bank有bank address使能；在一个bank内Row address选择
TC3xx MTU概述(1)
最新发布
认真搞搞汽车MCU
05-06 796
因为在ISO26262中，SRAM的Cell故障被认为是潜伏故障，而在一次驾驶循环内至少得有一次测试用于覆盖潜伏故障，所以使用者有权决定在MCU启动、APP运行和下电这三个阶段任意时刻进行MBIST，因此这种非破坏性测试(NDT)是最为友好。执行MBIST期间，每次发生读访问，SRAM自身的ECC机制会计算此次读出数据的校验码，并检查该校验码是否与存入该数据时计算的校验码一致。值得注意的是，SSH寄存器只能通过MTU->SSH这样的路径进行访问，因此在访问效率上会比直接通过SPB访问寄存器要慢一些。
内存自建自动测试:Memory BIST(Built-inSelfTest)
一棹春风一叶舟，一纶茧缕一轻钩
07-07 1万+
参考链接： https://www.cnblogs.com/uiojhi/p/9430505.html https://www.docin.com/p-1653581041.html http://www.docin.com/p-1825745255.html ATE：ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&am...
Tessent Mbist(5) 并行static Retention(静态保持)测试
旺旺家族的传说
02-13 2237
PSRT和parallel retention test不同
March C算法
热门推荐
Ronnie_Hu的博客
07-22 2万+
March C算法是目前应用最为广泛的MBIST（Memory Built-In-Self-Test，存储器内建自测试）算法。
tshell-mbist-user.pdf
03-28
《Tessent MemoryBIST User’s Manual》是针对Tessent Shell软件2020.3版的一份用户手册，由Siemens（包括Mentor Graphics Corporation和Siemens Industry Software Inc.及其关联公司）编纂并享有版权。...
mbist基础理论知识
09-02
mbist基础理论知识 MBIST（Built-In Self-Test）是指内建在集成电路（IC）中的自我测试机制，目的是为了解决大规模集成电路（VLSI）测试中遇到的挑战。随着VLSI技术的发展，电路的容量和复杂度不断增加，传统的测试...
March Test Algorithm for 3-Coupling Faults in Random Access Memories
03-26
RAM存储的耦合故障检测逻辑，基础性论文 March Test Algorithm for 3-Coupling Faults in Random Access Memories
TessentMBIST_useref.pdf
08-12
mentor公司的TessentMBIST用户手册，包含了软件操作过程、硬件电路结构等详细说明，能够帮助用户实现存储器的内建自测试功能。
基于JTAG的MBIST设计实现.pdf
07-05
本文主要介绍了基于JTAG的MBIST设计实现，讨论了JTAG和MBIST技术的基本原理和设计方法，并提出了用JTAG控制MBIST的实现方法，解决了由MBIST引起的管脚复用问题。 JTAG（Joint Test Action Group）是一种板级系统...
mbist_8kx8_ahb_verilog_mbist_ahbsram_
09-30
标题中的"mbist_8kx8_ahb_verilog_mbist_ahbsram_"暗示了一个基于AHB总线的8Kx8位内存测试（MBIST）控制器的设计，使用Verilog硬件描述语言实现。MBIST，即Memory Built-In Self-Test，是一种集成在电路内部的自测试...
【转】MBIST总结
lijiuyangzilsc的专栏
06-16 1万+
2. MBIST的插入阶段： 用工具插入Mbist时，我们既可以在RTL代码插入，也可以在netlist里面插入。目前，常见的做法是在netlist插入。但是，由于插入的Mbist逻辑是RTL代码，这样如果在netlist里面插入的话，我们还需要再进行一次综合。如果在RTL代码中直接插入Mbist，则只需要综合一次。为什么现在都推荐在netlist里面插入Mbist，而不是在RTL插入呢？ 回答1：综合通常是针对unit来做的，而布局布线通常针对partion，而mbist逻辑会涉及到很多个uni.
Memory的可测试性设计Mbist
xiaozhujulia的专栏
05-22 5896
随着半导体工艺尺寸不断缩小，IC设计的规模越来越大，高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小，嵌入式存储器可能存在的缺陷类型越来越多；另一方面，随着IC产品的复杂度的提高，ROM、RAM、EEPROM在IC产品中的比重越来越大。 嵌入式存储器的可测试设计技术包括直接测试、用嵌入式CPU进行测试和内建自测试技术(
SOC设计——（6）MBIST
qq_34849963的博客
03-26 6289
Memory BIST Design For Test:可测性设计，检测芯片的质量。 做设计时：RTLcode，在系统级加入DFT设计。 逻辑综合时：做DFT扫描插入，自动测试向量生成，错误仿真，看覆盖率。 早期的DFT分析和BIST设计与RTL电路功能设计是同步的。 RTL可测性分析，RTL可验证性，RTL+电源供电信息UPF。 logic是扫描链 DFT太多削弱芯片性能，太少测试的范围小 ATE测试、CPU测试、MBIST测试：自动诊断和修复功能 ...
UVM 环境 ddr4 写失败问题定位--FIFO_IS_ALMOST_FULL
wuhenge120的专栏
11-04 1134
每次遇到问题，要从上往下详细梳理，不然很容易忽略或者遗漏中间环节，并且最后你会发现，问题的原因会非常低级。 先总结下出问题的原因： 1） 底层rtl 接线修改（ddr phy和ddr4 model的连线对应关系）后，对应的uvm环境没有对应的修改。 2）DDR工作模式修改后，没有确保连线完全正确。例如uvm中把mbist_mode接0后，并没有传给ddr module中去。 现象： 我们用的ddr4采用的是synopsys的Umctl2 ddr控制器，一直在报一个error如下： ...
MBIST---PATR1
09-04
MB是指内存内置自检测，即Memory Built-in Self Test。它是一种在芯片设计中常用的技术，用于测试内存的正确性和可靠性。MBIST的PATR1是指MBIST的第一个部分，其中包含了TAP、TMB、BAP、SIB和Mem Interface等组件。TAP是指ijtag相关内容，是一个标准接口；TMB是Mem bist controller，包含了做mem test的所有的信号的generator，可控制多块mem；BAP是bist access port，提供控制信号给到TMB，收集TMB中的GO/DONE信号；SIB是Segment insertion bit，类似一个开门的钥匙，用于信号shift和update，增加灵活性；而Mem Interface则是mem controller和mem之间的接口，用于数据之间的传递。在MBIST的PATR1中，TMB包含了FSM，通过控制信号来进行配置和控制测试过程，同时还有信号生成和数据比对的功能。MBIST的PATR1的设计中，COMP组件在MEM interface中和TMB中都存在，具体如何放置取决于设计需求和优缺点的权衡。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span> #### 引用[.reference_title] - *1* [tshell-mbist-user.pdf](https://download.csdn.net/download/tengjiexx/87621168)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] - *2* [MBIST --- PATR2.Memorybist 测试流程](https://blog.csdn.net/sinat_27691203/article/details/126335187)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] - *3* [MBIST --- PATR1.Memorybist测试原理](https://blog.csdn.net/sinat_27691203/article/details/126332996)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] [ .reference_list ]
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