隨著先進製程的應用越來越廣泛,舉凡高效能運算( HPC, High Performance
Computing)晶片、人工智慧晶片、邊緣運算晶片與影像處理晶片等,都需要使
用先進製程。但是,記憶體的使用在先進製程下,因為中央處理器( CPU,
Central Processing Unit) 執行連續讀寫的操作或是連續讀寫後加上一個常數值的
操作行為,而產生動態失效( Dynamic fault)。如果採用過去基本的記憶體測試
演算法 March C,已經無法檢測出動態失效,必須採用複雜度更高的記憶體測
試演算法,例如 March MD2,才能檢測出動態失效的情況。
為了檢測出先進製程下記憶體的動態失效, 程式設計者需要花更多的時間去設
計複雜度更高的記憶體測試演算法,例如 March MD2。 March MD2 的複雜度比
March C 高出許多,相對的在程式的編寫上,也需要花費更多的時間。
芯測科技推出全世界第一套完全以圖形介面為主( GUI-Based)的使用者自定義
演算法( UDA, User Defined Algorithm)微架構,如下圖。
芯測科技將記憶體測試演算法,以元件( Component)的形式表達, 然後利用
元件間的『 重新排列組合』,形成新的記憶體測試演算法。如此一來,任何記憶
體測試演算法都可以利用 UDA 在幾分鐘內產生,大幅縮短程式設計者開發記
憶體測試演算法的時間,也可以讓程式設計者根據記憶體缺陷的資訊, 快速的
產生『 專用的』 記憶體測試演算法。 此外