GUI MBIST from iSTART EDA Tool

隨著先進製程的應用越來越廣泛，舉凡高效能運算（ HPC, High Performance
Computing）晶片、人工智慧晶片、邊緣運算晶片與影像處理晶片等，都需要使
用先進製程。但是，記憶體的使用在先進製程下，因為中央處理器（ CPU,
Central Processing Unit） 執行連續讀寫的操作或是連續讀寫後加上一個常數值的
操作行為，而產生動態失效（ Dynamic fault）。如果採用過去基本的記憶體測試
演算法 March C，已經無法檢測出動態失效，必須採用複雜度更高的記憶體測
試演算法，例如 March MD2，才能檢測出動態失效的情況。
為了檢測出先進製程下記憶體的動態失效， 程式設計者需要花更多的時間去設
計複雜度更高的記憶體測試演算法，例如 March MD2。 March MD2 的複雜度比
March C 高出許多，相對的在程式的編寫上，也需要花費更多的時間。
芯測科技推出全世界第一套完全以圖形介面為主（ GUI-Based）的使用者自定義
演算法（ UDA, User Defined Algorithm）微架構，如下圖。
 

芯測科技將記憶體測試演算法，以元件（ Component）的形式表達， 然後利用
元件間的『 重新排列組合』，形成新的記憶體測試演算法。如此一來，任何記憶
體測試演算法都可以利用 UDA 在幾分鐘內產生，大幅縮短程式設計者開發記
憶體測試演算法的時間，也可以讓程式設計者根據記憶體缺陷的資訊， 快速的
產生『 專用的』 記憶體測試演算法。 此外