[笔记分享] [Display] MIPI屏调试及举例

本文档分享了MIPI屏调试的经验,包括如何处理Tearing和花屏问题。针对Tearing,提出了检查TE信号、垂直前/后porch、clock和data信号的建议。对于花屏,通过分析MIPI协议原理,提出利用HS模式发送命令和BTA事件来判断clock或data1连接问题,并通过读取错误报告和MIPI寄存器确定具体故障点。
摘要由CSDN通过智能技术生成

Debug

对于使用MIPI出现的问题,如果Tearing,屏幕错位等,总结了如下方法:
1. 当Tearing发生时,测量TE信号,是否和panel刷新率一致;测量TE和DATA PIN相位是否固定,以确定CPU是否配置好了。
2. 确保lcd的vertical front/back porch 以及 pulse width都是否符合要求了。不正常的值会导致mdp同步工作会不正常。
3. 测量clock是否符合设置要求。测量data信号是否正常。
4. 一般每个模块都有寄存器状态可以来读取以方便开发人员调试,lcd也不例外,举例如TE正常工作的时候,有个叫MDP_PRIM_INT_CNT_VAL 的寄存器是用于技术的,来一个TE signal就加一,如果不加那就知道TE同步不正常了。当然,对于其他的registers,如果有需要的话我们可以全部dump出来查找我们需要的信息。


花屏举例

有遇到个别手机开机会一直花屏的状况,不过将FPC重新扣一下就好了。
从现象上我们只能怀疑是接触不良,下面利用MIPI的原理来分析这个问题。
用到的知识:

a) 当发送控制命令的时候,默认都用的模式是LPDT,也就是说只用data0, clock和data 1 pin都没有用到。
b) 当CPU从panel接收返回的信息时,用的也只有data0 pin。
c) 在HS mode的时候发送显示数据,那么data 0, data 1, clock将都会被用到。
d) 使用BTA时,CPU将总线交给panel,panel driver IC会返回用户所需要的数据。

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