DC/DC芯片晶圆级测试筛选方法

于 2025-01-23 10:36:48 发布
阅读量374 收藏
点赞数 5
文章标签： 硬件工程
版权声明：本文为博主原创文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版权协议，转载请附上原文出处链接和本声明。
本文链接：https://blog.csdn.net/l625484060/article/details/145318850
版权

        各位前辈好，我设计了一款高压BUCK DCDC芯片，现在想在晶圆上通过探针台测试筛选出功能正常的芯片。

        我们知道DCDC芯片的外围器件很多，而且对很多外围器件的位置都有要求，为了减小它们之间的寄生电阻和电感，也为了减小系统的输入/输出环路面积，保证DCDC芯片的正常工作。但是，由于探针台测试时是整个晶圆一起，探针又有很长的线，如果使用这些探针链接外围器件，相当于所有外围器件被放置在离芯片很远的地方，这样会不会导致芯片功能不正常？那我们要怎么才能让外围器件满足位置要求呢？

        请各位大佬指点，谢谢

l625484060
关注
软件测试阶段有哪些任务
m0_37449634的博客
12-18 2553
①、制定测试大纲（测试计划） ②、制作测试数据（测试方案） ③、单元测试（程序测试，一般由开发人员进行） ④、功能测试 ⑤、性能测试 ⑥、集成测试（子系统测试） ⑦、系统测试 ⑧、验收测试 ⑨、测试报告及向下阶段提交系统运行、维护用户手册 了解更多测试知识访问如下链接: https://edu.csdn.net/course/detail/22948 https://edu.csdn.net/lecturer/3215 https://edu.csdn.net/course/d.
半导体测试基础：术语表
2501_90489382的博客
02-04 563
半导体测试领域专用术语表
芯片测试介绍
m0_49968063的博客
03-29 2629
芯片测试的目的就两个：1、确认芯片与产品手册上写的内容一致，就是看做出来的芯片跟设计的是不是一致的；2、把芯片的边界条件测出来，就是看芯片有多耐操。
芯片的工作温度指标和测量方法.pdf
08-10
描述芯片工作测试点，工作温度指标和测试方案，包公Tj Ta Tc Tb 热敏系数 热阻系数，最高工作温度和芯片测试案例
芯片测试（3）——DC测试
Freimann的博客
07-14 9545
整理搜集到的关于芯片直流特性测试的相关内容
嵌入式芯片温度如何测试与评估
u010367973的博客
01-20 8669
目录前言一、芯片温升概念二、结温计算1.公式2.读入数据总结 前言 嵌入式芯片在使用前DV实验中需通过温升实验获取其温升情况以及是否有温度裕量 一、芯片温升概念 一般芯片温度有三个概念：环境温度(ambient)、表面温度(case)、结温(junction)。 1.环境温度：芯片上方1cm处温度 2.表面温度：芯片表面温度(一般测试布点即是此温度) 3.结温：芯片内部发热源 一般来讲：结温>表面温度>环境温度。 二、结温计算 1.公式 代码如下（示例）： import numpy as
芯片的生产测试中心
石头记
01-02 1016
在FPGA芯片设计公司中，硬件开发负责FPGA芯片的设计（电路，版图，后端），软件负责FPGA 的 EDA软件的设计（综合，实现，下载）。还有一个部门是生产测试中心，生产测试，对于刚涉足制造业的我，比较陌生，它实际上是有别于软件研发的非常重要的部门，它在其中起到什么作用呢？ 首先，它的职责一定是贯穿整个芯片设计、验证、生产和交付的全流程的。核心职责在于保证设计芯片质量、控制量产芯片质量，并提供客户支持，它是FPGA芯片设计公司成功运作的关键环节之一。
ATE-芯片测试设备
eatbaozi的博客
06-26 2498
ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）芯片测试设备是一类用于对半导体芯片进行功能、性能和质量验证的自动化系统。这些设备在芯片制造的各个阶段中至关重要，包括晶圆测试、封装测试和最终产品测试。ATE系统的主要目标是确保每个芯片在出厂前都经过严格的测试，以满足设计规范和客户要求。
芯片测试缺陷分类和DFT常用方法
热门推荐
cy413026的博客
06-05 3万+
目录 0.Soc涉及的测试问题 1.SOC的全面测试--测试顺序看哪部分的失败几率大 2.DFT要测的内容 或者说缺陷分类 (a).Stuck At (b).Transition (c).Path Delay (d).Bridge Test (e).IDDQ 3.DFT测试手段 1. 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 2. 内建自测试BIST: 3. ...
芯片测试（0）——前言
Freimann的博客
07-12 1189
从自动驾驶转行至芯片测试领域，虽说都是做电路、驱动相关的工作，但入职几天来确是感觉到隔行如隔山。为了对行业有个整体的理解，明确职业规划，将入行以来的所学及所思进行总结，方便后人参考，欢迎行内大佬批评指正。
一种精确测量AC-DC电源管理类芯片的方法.pdf
07-26
随着半导体技术的迅速发展，AC-DC电源管理芯片的性能得到了显著的提升，因此，针对此类芯片的测试方法就显得尤为重要。 圆片测试(CP)通常采用开环测试的方法，目的是测试基准电压和输出波形等关键参数，并对这些...
半导体测试基础.pdf
05-12
1. **Wafer Test (晶圆测试)**：在晶圆切割前对每个电路单元(Die)进行测试，用于筛选不良品。 2. **Package Test (封装测试)**：晶圆被分割并封装后进行的测试，以确保封装过程的正确性和器件性能达标。 3. **...
0基础，WAT/CP测试怎么入门
03-22
WAT通常指晶圆接受测试（Wafer Acceptance Test），而CP是芯片探针测试（Chip Probing），都属于半导体制造中的测试环节。用户是零基础，所以得从基本概念讲起，然后分步骤引导。 用户可能需要知道这两个测试的目的...
硬件工程师必须掌握的MOS管详细知识
2401_86482345的博客
08-11 1万+
MOS管，全称为金属-氧化物半导体场效应晶体管（Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，MOSFET），是一种重要的半导体器件，广泛应用于电子工业中各种电路的开关、放大、调制、数字电路和模拟电路等领域。电压控制：MOS管是一种电压控制型器件，通过改变栅极与源极之间的电压（VGS）来控制漏极与源极之间的电流（ID）。主要参数：包括栅源极最大驱动电压（VGS）、漏源电压（VDS）、漏源导通电阻（RDS(on)）、栅极电荷（Qg）、漏极电流（Id）等。
嵌入式系统开发_STM32微控制器_ESP8266WiFi模块_心率传感器_加速度计_OLED显示屏_蓝牙40_低功耗设计_实时操作系统_智能手表_多功能健康监测_运动数据记录_.zip
04-30
嵌入式系统开发_STM32微控制器_ESP8266WiFi模块_心率传感器_加速度计_OLED显示屏_蓝牙40_低功耗设计_实时操作系统_智能手表_多功能健康监测_运动数据记录_
驾校自动化_网页自动化爬虫技术_Python27多线程HTTP请求模拟_龙泉驾校2014版约车系统自动预约助手_通过模拟登录和循环请求实现自动约车功能_支持失败自动递增车号重试_.zip
04-30
驾校自动化_网页自动化爬虫技术_Python27多线程HTTP请求模拟_龙泉驾校2014版约车系统自动预约助手_通过模拟登录和循环请求实现自动约车功能_支持失败自动递增车号重试_
Linux系统编程_操作系统内核_系统调用_进程线程_信号处理_文件IO_进程间通信_多线程同步_网络编程_UNIX环境编程_中文翻译勘误_错误修正_代码示例优化_技术文档校对_开.zip
04-30
Linux系统编程_操作系统内核_系统调用_进程线程_信号处理_文件IO_进程间通信_多线程同步_网络编程_UNIX环境编程_中文翻译勘误_错误修正_代码示例优化_技术文档校对_开
wanjunshe_Python-Tensorflow_12888_1745868924470.zip
04-30
wanjunshe_Python-Tensorflow_12888_1745868924470
scratch少儿编程逻辑思维游戏源码-铅笔画.zip
最新发布
04-30
scratch少儿编程逻辑思维游戏源码-铅笔画.zip
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

个

红包个数最小为10个

元

红包金额最低5元

当前余额3.43元 前往充值 >
需支付：10.00元
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付元
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明：

1.余额是钱包充值的虚拟货币，按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载，可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值