STIL和WGL的说明文档

最新推荐文章于 2024-03-28 10:53:58 发布
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分类专栏： IC(integrated circuit)
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本文链接：https://blog.csdn.net/lantianjialiang/article/details/105833193
版权

STIL：
https://download.csdn.net/download/lantianjialiang/12367492
IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data

WGL：
https://download.csdn.net/download/lantianjialiang/12371930
Waveform Generation Language

【JTAG】STIL格式详解
xuhe0206的博客
01-13 2894
标准测试接口语言（STIL，Standard Test Interface Language）为测试设备和测试pattern产生工具之间提供一个接口。测试语言描述的定义是：（a）方便测试向量从设计环境到测试环境的传输；（b）定义测试向量到待测芯片的pattern、format和timing信息等；（c）需要支持结构化测试生成的测试向量对应的数据量。
Simple.wgl
10-13
WGL例子，用来作为参考学习
LANGUAGES GUIDE _ WGL.pdf
10-13
WGL文件的说明书，详细介绍了WGL文件的语法格式，可以用来进行参考，或将其转换为ATE测试机的标准格式文件
stil文件_ATPG之STIL
weixin_39834281的博客
12-10 1454
封面出处：半次元 Gyaza伽莎《ATPG之STIL》STILtest protocol file(.SPF)转自：http://www.blogbus.com/bb2hh-logs/60233278.htmlAuthor：pythonlongstil文件是atpg的基础，用好atpg工具当然要熟悉stil格式。下面是基本说明：)STIL 1.0 {Extension DesignP...
STIL和WGL的例子文件
贾亮的专栏
05-04 3243
这里列出两个简单的例子文件，以供参考。 例子都来源于网上。 Waveform Sample Signal #pin定义 Stim00 : input; Stim01 : input; Stim02 : input; Stim03 : input; Stim04 : input; Stim05 : input; S...
STIL格式的仿真文件语法描述
12-23
STIL格式的仿真文件的详细描述，文件格式定义，以及语法规则
WGL与STIL解析
m0_60158342的博客
03-28 3297
总结：WGL指定扫描链的状态，向量序列位数不与扫描链单元数一致，通过多个循环的操作， 使用scan vector将扫描链单元转化成指定的scanstate，不是直接将scanstate shift in扫描链（或者说需要先根据scanstate转化成需要的向量，再执行shift in操作）。O表示输出，I表示输入。定义了名字为gen_tp1的timeplate，周期为40ns，调用这个timeplate时，channel ijtag为输入端口，在0ns状态为D，20ns状态为S，40ns状态为D。
wgl_format
02-26
WGL format description
波形生产语言WGL描述
09-27
介绍wgl格式的文档，如何编写测试程序。 wgl（waveform generation language）
【STIL进阶技巧】：数据格式转换与自动化测试流程优化
首先，概述了STIL的基础理论和数据格式转换的要点。其次，深入分析了STIL数据处理的机制，包括数据结构、转换规则、高级技巧以及字符串处理和错误管理。随后，探讨了自动化测试流程的优化策略，包括测
【GDSII文件内容解析】点、线、多边形、文本等几何数据的表示
!...# 1. GDSII文件格式概述 GDSII（图形设计系统二型）文件格式是微...作为一个二进制文件格式，它能够准确无误地存储复杂的几何图形信息和层次化设计结构，这对于确保在设计阶段到制造阶段的数据一致性至关重要。 GDSI
pattern.py脚本
09-08
很多情况下可能会用到pattern这个脚本，虽然在peda中有可以使用，不过还是上传一个源码使用起来比较方便。
WGL中的Scan信息的解析
贾亮的专栏
04-27 8933
什么是WGL？ WGL是Waveform Generation Language的缩写。 它是一个可编辑的文本文件； 它是EDA工具集中的ATPG程序生成的，便于ATE转换的文件； WGL文件对应到ATE中的文件的话，就是pin文件，timing文件和pattern文件； 例如metor的ATPG工具就可以生成一下格式的"Timing Pattern": 至于什么是Scan，这个需要另外一篇来详细...
Mentor-dft 学习笔记 day40-Basic Test Data Formats for Patterns
qq_42327670的博客
12-13 1127
Basic Test Data Formats for Patterns
STIL 文件说明
weixin_44495082的博客
02-22 2802
WFC（waveform char）有四个，分别是L，H，Z和X。为了表示这四个字符，我们需要2位的，它们分别是。Standard Test Interface Language (STIL) 它是一种语言。其中0，表示输入0；Z，表示输入关闭，N，表示输入未知。（ATE）和自动测试向量生成工具（ATPG）直接的接口。P表示脉冲，D表示强制为低，U表示强制为高。
集合
执妄
11-17 303
一、集合的概念： 概念：对象的容器，定义了对多个对象进行操作的方法。可实现数组的功能。 和数组的区别 数组长度固定，集合长度不固定 数组可以存储基本类型和引用类型，集合只能存储引用类型 位置：java.util.*; 二、Collection父接口 特点：代表一组任意类型的对象，无序、无下标、不能重复 方法： boolean add(Object obj) //添加一个对象 boolean addAll(Collection c) //将一个集合中的所有对象添加到此集合中 v
带你秒懂STIL文件
SH_UANG的专栏m(R2)0doJj3*
05-30 9187
带你秒懂STIL文件 2017-05-04 芯司机  STIL?这是什么鬼？我为什么要谈这玩意儿？相信很多工程师，特别是刚入行或准备入行的兄弟们或多或少听过测试相关的东西。如果你想做DFT工程师的，测试工程师的，而对于设计/验证工程师们如果能了解下这个玩意儿，在和DFT/测试工程师聊技术聊测试pattern的时候就不会一脸懵逼了。 好了，言归正传。ST
52_数组_数组基本概念_内存分析
werdzs的博客
06-09 439
数组概述和特点 数组的定义：数组是相同类型数据的有序集合. 数组描述的是相同类型的若干个数据,按照一定的先后次序排列组合而成。其中,每一个数据称作一个数组元素,每个数组元素可以通过一个下标来访问它们. 数组的四个基本特点： 其长度是确定的。数组一旦被创建，它的大小就是不可以改变的。 其元素必须是相同类型,不允许出现混合类型。 数组中的元素可以是任何数据类型，包括基本类型和引用类型。 数组变量
WGL, STIL, VCD, or EVCD
贾亮的专栏
08-21 3266
WGL, STIL, VCD, or EVCD The Test Insight tool suite includes WaveWizard, ScanConverter and HDLLink, providing for the conversion of STIL, WGL, VCD and EVCD formatted digital patterns from EDA environments to the IG-XL test operating software. WaveWizard pr
如何使用STIL标准在计算机辅助工程(CAE)中定义和生成数字测试向量？请结合STIL标准详细说明。
最新发布
10-26
参考资源链接：[IEEE Std 1450-1999(R2011): STIL 数字测试向量接口标准](https://wenku.csdn.net/doc/74nhdh45eb?utm_source=wenku_answer2doc_content) 在计算机辅助工程(CAE)中，使用STIL标准定义和生成数字测试向量是确保高效和一致性测试的关键步骤。STIL为描述和传输测试数据提供了一个标准化语言，能够与自动测试设备(ATE)无缝对接，从而提升整个测试流程的效率和可靠性。 首先，需要熟悉STIL语言的基本语法和结构，包括对数字测试向量的定义、格式化、定时信息和事件的描述。STIL定义了向量扫描、功能测试和结构测试等不同类型的测试向量，它们分别用于测试不同类型的电路功能和结构。 具体到生成数字测试向量的过程，通常分为以下几个步骤： 1. **定义测试向量格式**：根据待测设备(DUT)的具体需求，定义向量的长度、类型和结构，以及对应的时间戳或定时事件。 2. **描述测试模式**：详细说明待测设备在测试过程中的操作模式，包括信号的变化规律和事件的触发条件。 3. **编写向量数据**：根据定义的格式和模式，编写具体的测试向量数据，确保数据完整性和准确性。 4. **使用STIL工具生成测试文件**：利用支持STIL的工具将编写的测试数据转换成标准的STIL格式文件，这个文件可以被自动测试图案生成器(ATPG)或ATE读取。 5. **验证和修改**：在生成测试文件后，应在CAE环境中进行测试验证，确保向量的正确性和测试的可行性。根据结果对向量进行必要的修改。 为了更深入地理解STIL在数字测试向量定义和生成中的应用，推荐阅读《IEEE Std 1450-1999(R2011): STIL 数字测试向量接口标准》。该资料详细介绍了STIL标准的每一个细节，并通过示例展示了如何应用这些规则。掌握STIL标准，对于从事集成电路设计、测试和验证的工程师来说，是提升工作效率和质量的重要技能。 参考资源链接：[IEEE Std 1450-1999(R2011): STIL 数字测试向量接口标准](https://wenku.csdn.net/doc/74nhdh45eb?utm_source=wenku_answer2doc_content)
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