STIL中可以有基于时间点的数据

本文探讨了STIL(System Test Interchange Language)中的模式类型,包括周期基础和事件基础。虽然ATE(Automatic Test Equipment)的模式通常是周期基础的,但STIL允许事件基础的模式,如VCD。然而,事件基础的STIL模式通常无法直接转换为ATE所需的格式,需要额外处理。还提到了纯事件数据和混合型数据的情况,其中事件基础数据插入到周期基础数据中,并以周期基础的起始点为起点。
摘要由CSDN通过智能技术生成

ATE中的pattern都是cycle base的。
STIL中的pattern可以是cycle base的,也可以是event base的(就像VCD)。
但是如果是event base的pattern的话,一般来说是不能直接转换成ATE需要的pattern的,需要额外的处理或者让客户提交cycle base的STIL文件。

Pure event data

STIL 1.0;
Signals {
    
    DIR In; OE_ In; A0 InOut; A1 InOut; A2 InOut; A3 InOut;
    A4 InOut; A5 InOut; A6 InOut; A7 InOut; B0 InOut; B1 InOut;
    B2 InOut; B3 InOut; B4 InOut; B5 InOut; B6 InOut; B7 InOut;
    busAEN Pseudo; busBEN Pseudo; 
}

Pattern “basic_functional” {
    
    TimeUnits ’10ps’; //
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